Спосіб визначення спектра фази плоскої світлової хвилі, відбитої плоскопаралельним середовищем

Спосіб визначення спектра фази плоскої світлової хвилі під час відбиття її від плоскопаралельного прозорого середовища, що включає вимірювання амплітудного спектра відбиття та визначення спектра фази, який відрізняється тим, що на даній частоті вимірюють значення коефіцієнта відбиття R(w) і по обвідних максимумах вимірюють значення коефіцієнта відбиття в максимумі смуги інтерференції Rmax(w), і фазу визна Корисна модель відноситься до оптики, зокрема до способів визначення параметрів плоских світлових хвиль. Відомий спосіб визначення фази плоскої електромагнітної хвилі за допомогою вимірювання інтенсивності відбитого світла в геометрії s - і р поляризаціях, як l s , і Ір, та обчислення за формулою де дійсною частиною комплексної амплітуди 7 = рехр(-іф) є InR, а уявною - ф. Цей спосіб крім експериментальних вимірювань вимагає проведення складних теоретичних обчислень. В основу корисної моделі поставлене завдання створення способу визначення спектра фази плоскої" світлової хвилі під час відбиття її від плоскопаралельного прозорого середовища, в якому за рахунок нових дій з врахуванням інтерференції" Фабрі-Перо дозволилось би спростити спосіб вимірювання. Поставлене завдання вирішується тим, що в способі визначення спектра фази плоскої" електромагнітної хвилі під час її відбиття від плоскопаралельного середовища, що включає в себе вимірювання коефіцієнта відбиття, значення фази, згідно винаходу, на даній частоті хвилі визначають значення коефіцієнта відбиття R(a>) і косинус фази визначають за формулою [А Б. Певцов, С А. Пермогоров, Ш. Р Сайфуллаев, А. В Сельсин. Спектральная зависимость амплитуды и фазы коэффициента отражения в области экситонного состояния Ап=1 кристаллов CdS // Физика твердого тела. - 1980. -Т. 122, № 8 С -2400-2403] Однак цей спосіб складний в експериментальному виконанні. Відомий спосіб визначення спектра фази плоскої світлової хвилі, відбитої" плоскопаралельним середовищем [Соболев В.В., Алексеева С.А., Донецких В.И Расчеты оптических функций полупроводников по соотношениям Крамерса-Кронига. Кишинев. Штиница, 1976 - 175 с ] . Спектр фази визначається за співвідношенням КрамерсаКроніга чають за формулою ф(ю) = arccos. R(w) аналогічні процедури виконують для інших частот амплітудного спектра відбиття і одержують спектр фази ф(«) плоскої світлової" хвилі, відбитої плоскопаралельним середовищем. R(w) V / де R m a x (o) - значення коефіцієнта відбиття в максимумі смуги інтерференції на даній частоті, яке визначають за обвідною максимумів смуг інтерференції Визначення значення коефіцієнта на даній ча CO ю т 5764 СТОТІ ПО СПеКТру ВЩбиТТЯ R І ВИЗНачеННЯ Rmax ПО обвідних дозволяє визначити фазу відбитої хвилі як Потім аналогічні вимірювання виконують на інших частотах спектра і одержуємо спектр фази плоскої світлової хвилі, відбитої плоскопаралельним середовищем. Приклад конкретного виконання Використовували мо но кристалічну пластину товщиною сІ=0,5мм Вимірювався амплітудний спектр відбиття в області прозорості, який приведений на ФІг.2 Оскільки в області вимірювання поглинанням можна знехтувати, то енергетичний коефіцієнт відбиття в максимумі смуги інтерференції був визначений із Фіг.2 як значення Rmax =0,48 Спектр фази відбитого від інтерферометра світла визначався використовуючи формулу = arccosi і цим самим спростити складні процедури визначення фази описані вище. Повторюючи аналогічні дії для інших частот спектру відбиття, одержуємо спектр фази ф(со). На ФІҐ.1 зображений змодельований амплітудний спектр відбиття R(w), на Фіг.2 наведений амплітудний спектр R(co), а на Фіг.З зображений фазовий спектр ф(си) відбивання світла від монокристалічного селеніду цинку товщиною (1=0,5111111. Спосіб реалізують так. Вимірюють амплітудний спектр відбиття світла від плоскопаралельної пластини На кожній частоті хвилі Визначають значення коефіцієнта відбиття R(w) І ПО обвідним визначають значення коефіцієнта відбиття в максимумі смуги інтерференції R m a x (w) і обчислюють фазу світлової хвилі за формулою ф(ю) = arccos. Одержані значення фази для різних частот зображені у вигляді графіка, який приведений на Фіг.З 05 O.99S О ЭВ5 (Фіг.1), ))=arccos' АЛЛА 2 65 2 55 Фіг.2 Фіг.1 Фіг.З Комп'ютерна верстка М Мацело Підписне Тираж 28 прим Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП "Український інститут промислової власності", вуп. Глазунова, 1, м. Київ-42, 01601