Спосіб елементного аналізу рідкого матеріалу
Номер патенту: 67318
Опубліковано: 10.02.2012
Автори: Павліш Лариса Олегівна, Ткаченко Віктор Іванович, Кляп Михайло Петрович, БАНДУРИН ЮРІЙ АНАТОЛІЙОВИЧ
Формула / Реферат
Спосіб елементного аналізу водного розчину, який включає рентгенівське опромінення зразка матеріалу, запис та дослідження спектра флуоресценції опромінюваного зразка, який відрізняється тим, що готують принаймні один додатковий розчин, який містить досліджуваний розчин із відомою додатковою кількістю елементарного компонента, вміст якого визначають, здійснюють рентгенофлуоресцентний аналіз додаткового розчину, а концентрацію елементарного компонента визначають, порівнюючи спектри флуоресценції досліджуваного зразка та додаткового розчину із формули:
,
де
- процентний вміст елементарного компонента по даних РФА досліджуваного розчину;
- процентний вміст елементарного компонента по даних РФА додаткового розчину;
- різниця концентрацій елементарного компонента в додатковому і досліджуваному розчинах.
Текст
Спосіб елементного аналізу водного розчину, який включає рентгенівське опромінення зразка матеріалу, запис та дослідження спектра флуоресценції опромінюваного зразка, який відрізняється тим, що готують принаймні один додатковий розчин, який містить досліджуваний розчин із відомою додатковою кількістю елементарного компонента, вміст якого визначають, здійснюють рент генофлуоресцентний аналіз додаткового розчину, а концентрацію елементарного компонента визначають, порівнюючи спектри флуоресценції досліджуваного зразка та додаткового розчину із формули: A C x Cx 1 , A 2 A1 Корисна модель належить до аналітичної хімії і може бути використана для встановлення вмісту металів, в тому числі важких, в водних розчинах, зокрема в напоях на основі екстрактів рослин. Відомий спосіб визначення вмісту окремих елементів по спектрах випромінювання речовин при високих температурах [1]. Твердий залишок, отриманий в результаті упарювання рідини, електричним дуговим розрядом переводять в газоподібний стан і записують спектр випромінювання, по якому встановлюють якісний та кількісний склад досліджуваного зразка. Недоліком описаного способу є обмеженість застосування, трудомісткість і недостатня точність аналізу. Найбільш близьким по технічній суті та результату, який досягається, є спосіб елементного аналізу твердих та рідких речовин, який включає рентгенівське опромінення зразка матеріалу, запис та дослідження спектра флуоресценції опромінюваного зразка [2]. Спосіб дає змогу оперативно здійснювати неруйнуючий контроль вмісту елементів в досліджуваних зразках. Недоліком описаного способу є недостатня точність встановлення абсолютних значень вмісту окремих елементів, обумовлена тим, що вміст не всіх елементів може бути кількісно визначений методом рентгенофлуоресцентного аналізу. Крім того для визначення абсолютного значення вмісту даного компонента необхідно знати також сумарний вміст елементів, наявність яких в зразку враховується при обробці спектра флуоресценції. Задачею корисної моделі є підвищення точності визначення абсолютного значення концентрації даного елемента в досліджуваному водному розчині. Поставлена задача виконується таким чином, що в способі елементного аналізу водного розчину, який включає рентгенівське опромінення зразка матеріалу, запис та дослідження спектра флуоресценції опромінюваного зразка, згідно з корисною моделлю, готують принаймні один додатковий розчин, який містить досліджуваний розчин із відомою додатковою кількістю елементарного компонента, вміст якого визначають, здійснюють рентгенофлуоресцентний аналіз додаткового роз (19) UA (11) 67318 (13) U де A 1 - процентний вміст елементарного компонента по даних РФА досліджуваного розчину; A 2 - процентний вміст елементарного компонента по даних РФА додаткового розчину; C x - різниця концентрацій елементарного компонента в додатковому і досліджуваному розчинах. 3 чину, а концентрацію елементарного компонента Сх визначають за формулою: A C x , Cx 1 A 2 A1 де А1 - процентний вміст елементарного компонента по даних РФА досліджуваного розчину; А2 - процентний вміст елементарного компонента по даних РФА додаткового розчину; ΔСх - різниця концентрацій елементарного компонента в додатковому і досліджуваному розчинах. При обробці спектрів рентгенофлуоресцентного аналізу (РФА) досліджуваного і додаткового розчину враховують одні і ті ж компоненти, які присутні в розчинах. В додатковому розчині вміст компонента, який визначають, більший, ніж в досліджуваному, а відносна сумарна кількість інших компонентів - менша. При відомому значенні збільшення вмісту ΔСх компонента, концентрацію якого визначають, та даних РФА обох розчинів здійснюють розрахунок абсолютного значення концентрації даного компонента розчину. Комп’ютерна верстка А. Рябко 67318 4 Проведено випробування запропонованого способу, для чого здійснили рентгенофлуоресцентний аналіз екстрактів бузини, звіробою, меліси, пустинника та хмелю. Елементами, вміст яких враховувався при обробці спектрів РФА, були цинк, мідь, залізо та марганець. Встановлювали абсолютне значення концентрації цинку. Проведено також РФА контрольного водного розчину, який містив вказані компоненти в кількостях, близьких до їх концентрації в екстрактах. Встановлено, що в результаті застосування запропонованого способу одержано значення абсолютної концентрації цинку в контрольному розчині, яке в межах похибки не відрізняється від дійсного. Таким чином, запропонований спосіб дає змогу визначати вміст окремих компонентів в розчинах, в тому числі в складових харчових продуктів. Джерела інформації: 1. Краткая химическая энциклопедия. Изд. "Советская энциклопедия", М., 1965, Т.4, С. 984994. 2. Анализатор элементного состава EXPERT 01 Т, Киев - 1999, 28 с. Підписне Тираж 23 прим. Державна служба інтелектуальної власності України, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for element analysis of liquid material
Автори англійськоюPavlich Larysa Olehivna, Tkachenko Viktor Ivanovych, Kliap Mykhailo Petrovych, Bandurin Yurii Anatoliiovych
Назва патенту російськоюСпособ элементного анализа жидкого материала
Автори російськоюПавлиш Лариса Олеговна, Ткаченко Виктор Иванович, Кляп Михаил Петрович, Бандурин Юрий Анатолиевич
МПК / Мітки
МПК: G01J 3/00
Мітки: елементного, матеріалу, спосіб, аналізу, рідкого
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-67318-sposib-elementnogo-analizu-ridkogo-materialu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб елементного аналізу рідкого матеріалу</a>
Попередній патент: Багатокоординатний свердлильно-фрезерний верстат
Наступний патент: Спосіб одержання порошкоподібних продуктів
Випадковий патент: Пристрій для дослідження стоп