Спосіб тестування поворотного стола для вимірювання малих кутів відхилення
Номер патенту: 113940
Опубліковано: 27.02.2017
Автори: Рижков Ігор Вікторович, Пономарьова Олена Анатоліївна, Крат Альона Володимирівна, Пономарьов Сергій Михайлович
Формула / Реферат
Спосіб тестування поворотного стола для вимірювання малих кутів відхилення, що включає зняття експериментальних показань з оптичного квадранта з подальшим обчисленням на їх основі похибки вимірювань, який відрізняється тим, що зняття показань здійснюють при кутах відхилення від горизонту та навколо вертикальної осі в діапазоні 0°-90° з кроком 2°.
Текст
Реферат: Спосіб тестування поворотного стола для вимірювання малих кутів відхилення включає зняття експериментальних показань з оптичного квадранта з подальшим обчисленням на їх основі похибки вимірювань. Зняття показань здійснюють при кутах відхилення від горизонту та навколо вертикальної осі в діапазоні 0°-90° з кроком 2°. UA 113940 U (12) UA 113940 U UA 113940 U 5 10 15 20 25 30 35 Корисна модель належить до промислової металургії і може бути використана для створення, випробування, тестування оригінальних і стандартних прецизійних інклінометричних систем контролю в сфері промислового й громадянського будівництва. Відомий спосіб тестування спеціального немагнітного поворотного стола, що включає повтор повороту інкліномера щодо вертикалі та магнітного меридіану та здійснюється за допомогою оптичного квадранта. Діапазон поворотів по азимуту, зенітному куту і куту установки відхилювача необмежений (від 0° до 360°). Конструкція стола має підвищену жорсткість і точність заданого азимута, зенітного і візирного кутів з похибкою в 1 кутову хвилину. Недоліком даного способу є недостатня точність вимірювання азимуту, зенітного та візирного кутів; велика похибка вимірювань (1 кутова хвилина). Найбільш близьким до пропонованого є спосіб тестування поворотного стола з трьома одноосьовими акселерометрами, який включає зняття експериментальних показань з оптичного квадранта та обчислення на їх основі похибки вимірювань. При цьому зняття показань здійснюється при відхиленнях зенітного кута в діапазоні 0°-90°, з кроком 10° і змінювання візирного кута в діапазоні 0°-360°, з кроком 10°. Для точного заданого візирного і зенітного кутів використовується ділильна оптична головка з похибкою визначення візирного кута 6 кутових секунд. Недоліком даного способу є недостатня точність вимірювання зенітного та візирного кутів, обумовлена значним кроком відхилення. Задача корисної моделі - підвищення точності визначення технічних характеристик вимірювальних приладів; підвищення точності тестування приладів, а також забезпечення можливості виміру малих кутів відхилу від горизонту. Поставлена задача вирішується тим, що в способі тестування поворотного стола для вимірювання малих кутів відхилення, який включає зняття експериментальних показань з оптичного квадранта з подальшим обчисленням на їх основі похибки вимірювань, відповідно до корисної моделі, зняття показань здійснюють при кутах відхилення від горизонту та навколо вертикальної осі в діапазоні 0°-90° з кроком 2°. Пропонований спосіб реалізують таким чином. Після установки на поворотному столі оптичного квадранта КО-30, повертаємо навколо вертикальної осі поворотний стіл від 0°-90° з кроком 2°. Після цього знімаємо показання з оптичного квадранта КО-30 та заносимо їх в масив даних. Повторюємо даний дослід 12 разів, змінюючи діапазон вимірювань. Використовуючи комп'ютерну програму у середовищі C++, обчислюємо середньостатистичні величини при кожному куті повороту. Після цього заносимо дані в основний масив. При тестуванні вимірювальних приладів складаємо масив похибок та масив значень вимірювання. Віднімаючи масив похибок від масиву значень, отримуємо результат з високим ступенем достовірності. Отже, у порівнянні з прототипом, пропонований спосіб перевірки поворотного стола, дозволяє підвищити точність тестованих приладів до 30 кутових секунд. ФОРМУЛА КОРИСНОЇ МОДЕЛІ 40 Спосіб тестування поворотного стола для вимірювання малих кутів відхилення, що включає зняття експериментальних показань з оптичного квадранта з подальшим обчисленням на їх основі похибки вимірювань, який відрізняється тим, що зняття показань здійснюють при кутах відхилення від горизонту та навколо вертикальної осі в діапазоні 0°-90° з кроком 2°. 45 Комп’ютерна верстка В. Мацело Державна служба інтелектуальної власності України, вул. Василя Липківського, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут інтелектуальної власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601 1
ДивитисяДодаткова інформація
МПК / Мітки
МПК: G01B 11/26
Мітки: малих, стола, вимірювання, тестування, поворотного, кутів, відхілення, спосіб
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-113940-sposib-testuvannya-povorotnogo-stola-dlya-vimiryuvannya-malikh-kutiv-vidkhilennya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб тестування поворотного стола для вимірювання малих кутів відхилення</a>
Попередній патент: Спосіб зберігання рідких тритієвих відходів
Наступний патент: Вібронезалежна опора
Випадковий патент: Спосіб деформації зварного шва на прямошовних трубах