Спосіб контролю матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання

Спосіб контролю якості матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання, що включає реєстрацію зображення за допомогою оптикоелекронної цифрової камери, який відрізняється тим, що оптичне зображення створюють у вигляді ґратки, а реєстрацію зображення здійснюють після проходження випромінювання через тест-систему, яка складається зі зразка оптичного матеріалу, та другої ґратки, ідентичної першій, поверненої відносно першої ґратки, спочатку реєструють зображення еталонного зразка, а потім зразка, що контролюється, при цьому якість зразка визначають шляхом порівняння з еталоном. (19) (21) u200912691 (22) 07.12.2009 (24) 26.04.2010 (46) 26.04.2010, Бюл.№ 8, 2010 р. (72) ВЕНГЕР ЄВГЕН ФЕДОРОВИЧ, КАЧУР НАТАЛІЯ ВОЛОДИМИРІВНА, КІНДРАСЬ ОЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ, ЛОКШИН МИХАЙЛО МАРКОВИЧ, ЛЯПІНА АЛЛА БОРИСІВНА, МАРІЧЕВА ІРИНА ЛЕОНІДОВНА, МАСЛОВ ВОЛОДИМИР ПЕТРОВИЧ, РОДІЧЕВ ЮРІЙ МИХАЙЛОВИЧ (73) ВЕНГЕР ЄВГЕН ФЕДОРОВИЧ, КАЧУР НАТАЛІЯ ВОЛОДИМИРІВНА, КІНДРАСЬ ОЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ, ЛОКШИН МИХАЙЛО МАРКОВИЧ, ЛЯПІНА АЛЛА БОРИСІВНА, МАРІЧЕВА ІРИНА 3 Позитивний ефект запропонованої корисної моделі полягає в тому, що при використанні двох ґраток, одна з яких повернена відносно іншої, створюється муаровий візерунок і чутливість методу збільшується у десятки разів. До того ж цей метод простий в реалізації і тому відповідає критерію корисності. Схема пристрою для реалізації способу приведена на Фігурі. Спосіб реалізується таким чином. На Фігурі наведено схему реалізації способу. Випромінювання від джерела випромінювання (1) проходить через прозорі віконця між лініями ґратки (2) та об'єкт, що контролюється (3), другу ґратку, яка повернена відносно першої (4) та реєструється цифровою камерою (5). Спочатку фіксується зображення еталонного зразка, а потім зразка, що контролюється. Якість зразка визначається шляхом порівняння з еталоном. При контролі матеріалів прозорих в 14 діапазоні як джерело випромінювання використовується ґратка (2), що додатково нагрівається за рахунок проходження через неї електричного струму. Друга ґратка (4) може бути використана як на проходження (якщо вона виконана на прозорій в 14 діапазоні підложці), або на відбиття від неї (якщо вона виконана на непрозорій в 14 діапазоні підложці). А реєстрація зображення в цьому випадку проводиться на тепловізорі. Новизна запропонованої корисної моделі полягає в тому, що він містить в собі нові прийоми і операції контролю оптичних матеріалів. Приклад реалізації. 49479 4 Для реалізації запропонованої технічного рішення було виготовлено дві алюмінієві ґратки на склі (плівковий алюміній який гравіювався фотолітографічним способом). Контроль якості проводили на зразках кристалів штучного корунду у вигляді плоско - паралельних пластин з полірованими сторонами товщиною 20мм. Контроль здійснювався у видимому діапазоні на приладі ПКС 250, що дозволяло додатково використовувати поляризаційний і муаровий ефекти у сукупності. Також проведено дослідження зразків з оптичного германію у вигляді плоско паралельних пластин з полірованими сторонами товщиною 20мм, який прозорий тільки в інфрачервоному спектрі. При реалізації запропонованого способу легко визначаються дефекти розміром 1мм і більше. Література. 1. В.П. Маслов, Т.С. Мельник, В.А. Одарич, Эллипсометрический способ контроля качества полирования деталей, а.с. СРСР 1366878 від 15.01.88 бюл. №2. 2. Е.В. Берников, С.С. Гапонов, В.И. Туринов, Способ ИК-дефектоскопии, российский патент №92007717 опуб. 27.02.1995. 3. В.Г. Костишин, Л.М. Летюк, О.Е. Бугакова, Е.А. Ладыгин, A.M. Мусалитин, Оптический способ контроля кристаллов со структурой граната, российский патент №2093922 опуб. 20.10.1997. 4. С.Ф. Венгер, М.М. Локшин, I.Л. Марічева, В.П. Маслов, Н.В. Качур, А.Б. Ляпіна Спосіб контролю матеріалів, прозорих в інфрачервоному (14) діапазоні випромінювання, патент України на корисну модель №38990 від 26.01.2009р. 5 Комп’ютерна верстка О. Рябко 49479 6 Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601