Механізм голки, що регулюється
Номер патенту: 31603
Опубліковано: 15.12.2000
Автори: Капустенський Петро Гнатович, Терещенко Олександр Пилипович, Гілюк Сергій Віталійович
Текст
Механізм голки, що регулюється. виробни"1 ™1 "' я саме до -носиться до о • ового стібка 976але він не забезпечує регулюь им по технічн млшини лпішюгового сті^кя [2], що має головъ ч.„«^ ш „„, ,^...,. .очиЙ важіль, ^ чатий палець, шат„ гкопритягувача, шкалу вимірювання попити тщя регупвлн-шпя т т 4 ,.і^іМ ЗМІНИ j\iii». ,. і ; .; ііш . иуьача і регулювання величини ходу[ОЛЗСИ, невідпові; НОІ машини ланик В OCHOBN v г -................. _ 7 ' '' ^ • v юлки в сті від г. . -.ил rv не аш. Здач1 ся тим, що в ан шатун д по в » д , в и н а х *.> _ ікріплс: пазу, радіус якого ґ ,,*., ......... ажині важеля, з можливістю зміни його шатуна і важеля для , криво -ЛИЧИНИ лі. ки в межах 2>.,4і> ми, І1НЯ ЮЛКИ. . ОХІДНО На фіг j вил а І шарнірне вим ь т т г м 5, що через кот ьжнні важ о .ти і і й шарнірно - і'єднані ВОДІРМ І2, ч-ривошип 2 сприймає голко " -м іа ^ який і2. Мінімаль, тбезпечуєтьс f v. паау ІО фікТчьим чином від товщини матеріалл' Ие - і механізм толк»* х. ЧІ його ресурс. Капдпн Б.Г, Механізм го/іщ що регулюється 5 6 Фіг А А8тори- Копу civ енський ПГ. Терещенко 0.Щ Гілюк С В. Механізм голки, що регулюється Фіг 2 А 6т ори: Копусменський П. Г Тереш, емко 0. Ф Г і люк С. В
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюControlled needle mechanism
Автори англійськоюKapustenskyi Petro Hnatovych, Tereschenko Oleksandr Pylypovych, Hiliuk Serhii Vitaliiovych
Назва патенту російськоюМеханизм иглы, который регулируется
Автори російськоюКапустенский Петр Игнатьевич, Терещенко Александр Филиппович, Гилюк Сергей Витальевич
МПК / Мітки
МПК: D05B 1/00
Мітки: голки, регулюється, механізм
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/4-31603-mekhanizm-golki-shho-regulyuehtsya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Механізм голки, що регулюється</a>
Попередній патент: Пристрій для різання овочів та фруктів
Наступний патент: Спосіб вимірювання частотних характеристик