Спосіб виміру добротності контуру
Формула / Реферат
Спосіб виміру добротності контуру, що полягає в тому, що контур настроюють у резонанс шляхом зміни ємності настроювання, який відрізняється тим, що на вхід контуру спочатку подають дві високочастотні напруги U1 и U'1, з рівними амплітудами і фіксованими частотами f1 і f¢1 відповідно, які незначно відрізняються одна від одної і розташовані симетрично зліва і справа від частоти виміру f0, після чого сигнал із виходу контуру посилюють і детектують, настроювання контуру в резонанс роблять по максимуму однієї з гармонік перемінної складової на виході детектора, отриманої в результаті биття зазначених частот, значення якої фіксують як у1 і, потім на вхід контуру подають дві високочастотні напруги U2 і U¢2 з тією ж амплітудою, що U1 и U'1, і фіксованими частотами f2 і f¢2 відповідно, також розташованими симетрично щодо частоти виміру, після чого фіксують значення y2 тієї ж гармоніки перемінної складової і визначають добротність контуру по формулі:
де f0 - частота виміру контуру,
f1 - частота напруги U1,
f2, - частота напруги U2,
y1 - значення амплітуди гармоніки, що відповідає частоті f1,
y2 - значення амплітуди гармоніки, що відповідає частоті f2.
Текст
Спосіб виміру добротності контуру, що полягає в тому, що контур настроюють у резонанс шляхом зміни ємності настроювання, який відрізняється тим, що на вхід контуру спочатку подають дві високочастотні напруги Ui и її., з рівними амплітудами і фіксованими частотами fi і f, ВІДПОВІДНО, ЯКІ незначно відрізняються одна від одної і розташовані симетрично зліва і справа від частоти виміру fo, після чого сигнал із виходу контуру посилюють і детектують, настроювання контуру в резонанс роблять по максимуму однієї з гармонік перемінної складової на виході детектора, отриманої в результаті биття зазначених частот, значення Запропонований винахід відноситься до контрольно-вимірювальної техніки і може бути використаний для контролю параметрів напівпровідникових приладів Відомо спосіб виміру добротності контуру, який полягає в тому, що контур настроюють у резонанс на частоті виміру, а добротність визначають як відношення напруги на індуктивності (або ємності) ДО ВХІДНОЇ (Измерения в электронике / Под ред В А Кузнецова - М Энергоатомиздат, 1987) При використанні зазначеного способу для виміру добротності контурів, що містять нелінійні ємності (варикапи) або нелінійні індуктивності (із феромагнітними сердечниками) виникає суттєва помилка, яка визначається, в основному, неточністю виміру високочастотних напруг малого рівня через нелінійність об'єкту виміру Відомо також спосіб визначення добротності контуру методом розстройки частоти виміру Згідно з цим способом контур настроюється в резонанс на частоті виміру f0 і робиться ВІДЛІК напруги на одному із реактивних елементів контуру Потім зміною частоти робиться зменшення зазначеної напруги до рівня 0,5 або 0,707 (у межах смуги про якої фіксують як уі, потім на вхід контуру подають дві високочастотні напруги ІІ2 і U2 з тією ж амплітудою, що Ui і її.,, і фіксованими частотами f2 і f2 ВІДПОВІДНО, також розташованими симетрично щодо частоти виміру, після чого фіксують значення уг тієї ж гармоніки перемінної складової і визначають добротність контуру по формулі У2-У? Q= _у2 У, S f o де fo - частота виміру контуру, fi - частота напруги U-і, f2, - частота напруги ІІ2, Уі - значення амплітуди гармоніки, що відповідає частоті fi, У2 - значення амплітуди гармоніки, що відповідає частоті f2 пускання) від резонансної (Грохольский А Л Измерители добротности - куметры - Новосибирск Наука, 1968) Ця операція робиться звичайно ДВІЧІ при розстройці як убік зменшення, так і убік збільшення частоти і знімаються при цьому значення частот fi і f2 Добротність у цьому випадку визначають за формулою Q= fn - у випадку розстройки контуру до рівня 0,5 від резонансного або Q= - у випадку розстройки контуру до рівня 0,707 від резонансного Реалізація зазначеного способу потребує наявності як мінімум двох вимірювачів частоти та амплітуди, а також генератора плавного діапазону При вимірі високодобротних систем використання генератора плавного діапазону утруднено, оскіль О со (О 42630 ки, крім нестабільності встановленої частоти, він має підвищені флуктуації частоти, сумірні із самою розстройкою Також відомо спосіб виміру добротності контуру методом розстройки частоти (А с СССР 1709240 G01R27/26 - прототип), який полягає в тому, що контур настроюють у резонанс на частоті виміру шляхом зміни ємності настроювання і роблять ВІДЛІК рівня напруги на контурі в момент резонансу, після чого вимірюють значення напруги на контурі при частотах зверху і знизу від резонансної, а потім по трьох значеннях частоти і ВІДПОВІДНИХ ВІДЛІКІВ напруги визначають величину добро тності, при цьому рівні напруги на контурі вимірюють при довільних частотах, крайні значення яких розташовані зліва і справа від резонансної, а добротність контуру визначають із виразу жати збільшення точності при вимірі зазначеного параметра Поставлена задача досягається тим, що контур настроюють у резонанс шляхом зміни ємності настроювання, при цьому на вхід контуру спочатку подають дві високочастотних напруги Ui и її., з рівними амплітудами і фіксованими частотами fi і f-і, ВІДПОВІДНО, які незначно відрізняються одна від одної і розташовані симетрично зліва і справа від частоти виміру fo, після чого сигнал із виходу контуру посилюють і детектують, настроювання контуру в резонанс роблять за максимумом однієї з гармонік перемінної складової на виході детектора, отриманої в результаті биття зазначених частот, значення якої фіксують як уі, потім на вхід контуру подають дві високочастотні напруги ІІ21 U2 з тією ж амплітудою, що Ui і U,, і фіксованими час Q= 2 В М-2 +2-N A'-iiAk-^ fn' 2 fo 2 f, А2- А=У>,В = 1 1 , к 4 У2 тотами f2 і f 2 , ВІДПОВІДНО, також розташованими симетрично щодо частоти виміру, після чого фіксують значення у2 тієї ж гармоніки перемінної складової і визначають добротність контуру за формулою У2 У, Уі> У2, Уз - значення напруги на контурі, зняті, ВІДПОВІДНО, при частотах У2 " У? Q= M fi, f2, f3, при цьому f 1
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for measurement of q-factor of circuit
Автори англійськоюHoloschapov Serhii Stepanovych
Назва патенту російськоюСпособ измерения добротности контура
Автори російськоюГолощапов Сергей Степанович
МПК / Мітки
МПК: G01R 27/26
Мітки: виміру, контуру, спосіб, добротності
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/5-42630-sposib-vimiru-dobrotnosti-konturu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб виміру добротності контуру</a>
Попередній патент: Спосіб терапевтичного впливання електромагнітним випромінюванням на організм людини
Наступний патент: 1-адамантилетилокси -3 -(n-бензил)-морфоліній-2-пропанол хлорид, що виявляє антимікробні властивості
Випадковий патент: Пристрій для очищення зріджених газів