Спосіб та система поверхневої дефектоскопії безперервнолитої металевої заготовки

Номер патенту: 80504

Опубліковано: 25.09.2007

Автори: Тюрон Жан-Мішель, Мейан Філіп, Мідруа Фабьєн

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

1. Спосіб поверхневої дефектоскопії металевої безперервнолитої заготовки за допомогою вихорострумового дефектоскопа типу «роздільний випромінювач-приймач» з рядами встановлених в лінію суміжних вимірювальних елементів, керованих роздільно за допомогою мультиплексорного пристрою, при цьому досліджуваний виріб простягають по відношенню до дефектоскопа, який відрізняється тим, що дефектоскоп містить матрицю вимірювальних елементів, розподілених по рядах та стовпцях, при цьому зазначена матриця містить щонайменше один перший та один другий паралельні ряди (22, 24), кожний з яких містить щонайменше три вимірювальних елементи (С1-С12), мультиплексорний пристрій регулюють відповідно до послідовних етапів керування таким чином, щоб:

на етапі (60, 62, 64, 66) керування активувати перший та другий елементи в кожному ряді, відділені один від одного щонайменше одним неактивним елементом, при цьому на перший елемент подають команду для генерування струмів Фуко на поверхні зазначеної металевої заготовки, при цьому на другий елемент подають команду для виявлення струмів Фуко, генерованих першим елементом, проходження яких на поверхні зазнає змін через наявність поверхневих дефектів, при цьому після закінчення заздалегідь визначеного проміжку часу обидва елементи дезактивують, і зазначений етап керування повторюють для двох наступних елементів, зміщених щонайменше на один елемент уздовж цього ж ряду відносно двох дезактивованих елементів, і так далі до завершення тестування всієї зони досліджуваної поверхні,

причому зазначений етап (60, 62, 64, 66) керування здійснюють одночасно для елементів першого (22) та другого (24) рядів, при цьому зазначені перші елементи кожного ряду входять у той самий стовпець, і зазначені другі елементи кожного ряду також входять у той самий стовпець, при цьому другі елементи кожного ряду виконані з можливістю подачі сигналів протилежної полярності при виявленні дефекту.

2. Система дефектоскопії, яка містить вихорострумовий дефектоскоп (10) типу «роздільний випромінювач-приймач» для виявлення поверхневих дефектів, що містить матрицю вимірювальних елементів, розподілених по рядах та стовпцях, при цьому зазначена матриця містить щонайменше один перший та один другий паралельні ряди (22, 24), кожний з яких містить щонайменше три суміжних і керованих вимірювальних елементи (С1-С12), та блок (12) багатоканального керування, виконаний з можливістю подачі команд керування на зазначені вимірювальні елементи, при цьому кожен елемент виконаний з можливістю почергового виконання функції створення струмів Фуко на поверхні досліджуваної металевої заготовки та функції виявлення струмів Фуко на зазначеній поверхні, яка відрізняється тим, що блок (12) багатоканального керування виконаний з можливістю:

подачі команд на перший та другий елементи одного ряду, відділені один від одного щонайменше одним неактивним вимірювальним елементом, при цьому перший елемент активують для генерування струмів Фуко на поверхні металевої заготовки, а другий елемент активують для виявлення струмів Фуко, генерованих першим елементом, проходження яких на поверхні змінюється через наявність поверхневих дефектів;

подачі команд на елементи другого ряду аналогічно подачі команд на елементи першого ряду.

3. Система за п. 2, яка відрізняється тим, що дефектоскоп (10) містить основу (20), в якій встановлені в лінію зазначені щонайменше три елементи, при цьому основа (20) розміщена на відстані щонайменше трьох міліметрів від тестованої поверхні.

4. Система за п. 3, яка відрізняється тим, що містить пристрій (30) охолодження основи (20).

5. Система за п. 4, яка відрізняється тим, що пристрій (30) охолодження містить контур циркуляції охолодного текучого середовища, що проходить уздовж основи (20).

6. Система за п. 5, яка відрізняється тим, що пристрій (30) охолодження містить щонайменше одну тонку пластину (40) з керамічного матеріалу, установлену напроти основи (20) з можливістю створення простору для циркуляції охолодного текучого середовища.

7. Система за п. 2, яка відрізняється тим, що кожен елемент першого ряду (22) є суміжним з елементом другого ряду (24) і виконаний з можливістю активування для подачі сигналу з полярністю, протилежною полярності сигналу, що подається суміжним елементом другого ряду, при цьому блок (12) керування виконаний з можливістю активування других елементів першого та другого рядів таким чином, щоб вони генерували сигнали протилежної полярності.

Текст

1. Спосіб поверхневої дефектоскопії металевої безперервнолитої заготовки за допомогою вихорострумового дефектоскопа типу «роздільний випромінювач-приймач» з рядами встановлених в лінію суміжних вимірювальних елементів, керованих роздільно за допомогою мультиплексорного пристрою, при цьому досліджуваний виріб простягають по відношенню до дефектоскопа, який відрізняється тим, що дефектоскоп містить матрицю вимірювальних елементів, розподілених по рядах та стовпцях, при цьому зазначена матриця містить щонайменше один перший та один другий паралельні ряди (22, 24), кожний з яких містить щонайменше три вимірювальних елементи (С1-С12), мультиплексорний пристрій регулюють відповідно до послідовних етапів керування таким чином, щоб: на етапі (60, 62, 64, 66) керування активувати перший та другий елементи в кожному ряді, відділені один від одного щонайменше одним неактивним елементом, при цьому на перший елемент подають команду для генерування струмів Фуко на поверхні зазначеної металевої заготовки, при цьому на другий елемент подають команду для виявлення струмів Фуко, генерованих першим елементом, проходження яких на поверхні зазнає змін через наявність поверхневих дефектів, при цьому після закінчення заздалегідь визначеного проміжку часу обидва елементи дезактивують, і зазначений етап керування повторюють для двох наступних елементів, 2 (19) 1 3 80504 4 встановлені в лінію зазначені щонайменше три установлену напроти основи (20) з можливістю елементи, при цьому основа (20) розміщена на створення простору для циркуляції охолодного відстані щонайменше трьох міліметрів від текучого середовища. тестованої поверхні. 7. Система за п. 2, яка відрізняється тим, що 4. Система за п. 3, яка відрізняється тим, що кожен елемент першого ряду (22) є суміжним з містить пристрій (30) охолодження основи (20). елементом другого ряду (24) і виконаний з 5. Система за п. 4, яка відрізняється тим, що можливістю активування для подачі сигналу з пристрій (30) охолодження містить контур полярністю, протилежною полярності сигналу, що циркуляції охолодного текучого середовища, що подається суміжним елементом другого ряду, при проходить уздовж основи (20). цьому блок (12) керування виконаний з 6. Система за п. 5, яка відрізняється тим, що можливістю активування других елементів пристрій (30) охолодження містить щонайменше першого та другого рядів таким чином, щоб вони одну тонку пластину (40) з керамічного матеріалу, генерували сигнали протилежної полярності. Даний винахід стосується виявлення поверхневих дефектів на слябі або, в цілому, на безперервнолитій металевій заготовці, зокрема, зі сталі. Зокрема, винахід стосується виявлення поверхневих дефектів на безперервнолитій металевій заготовці за допомогою дефектоскопа з використанням струмів Фуко, який включає окремо виконані випромінювач та приймач, установлені навпроти та поблизу досліджуваної поверхні. З документа FR 84 14435 відомий дефектоскоп такого типу, називаний також «вихорострумовим дефектоскопом з анізотропними зондами», в якому зондами є роздільні випромінююча та приймаюча котушки, установлені на відстані одна від одної на лінії, спрямованій перпендикулярно до напрямку руху сляба, що проходить унизу. Такий дефектоскоп має чутливість до змін руху струмів Фуко, що відбуваються в результаті наявності поперечного дефекту великої довжини на поверхні досліджуваного виробу. Таким чином, він дозволяє розпізнавати поперечні тріщини на бортових кромках, тому що індуковані струми, які наводяться його магнітним полем під випромінювачем, не доходять до приймача при відсутності з'єднаних один з одним дефектів. Разом з тим, оскільки відстань, що розділяє випромінюючу та приймаючу котушки, є фіксованою в силу конструктивного рішення, то можна пропустити короткі тріщини, якщо не сканувати досить велику бортову область сляба або шляхом численних проходів дефектоскопа з відповідним регульованим бічним покроковим зсувом, або за рахунок використання декількох дефектоскопів, розміщених поруч один з одним таким чином, щоб весь їхній комплекс покривав тестовану область. Задачею даного винаходу є рішення цих проблем за рахунок застосування нових технологій швидкісного одержання зображень із використанням касет (або рядів) з елементарних міні-котушок (або елементів), установлених в лінію та активованих роздільно за допомогою програмовного мультиплексорного пристрою. Приклади вихорострумових дефектоскопів такого типу можна знайти в таких документах: FR 9300984, US 6339327 або US 5237271, де їх використовують для дефектоскопії металевих плит, листів, штаб або пластин в самих різних областях техніки. Залежно від способу активації, кожен елемент може генерувати або виявляти струми Фуко на поверхні досліджуваного металевого виробу. За рахунок цього, подаючи команду на перший або на другий суміжні елементи ряду, з яких перший генерує струми Фуко, а другий їх виявляє, можна виявити під дефектоскопом наявність або відсутність видовжених поверхневих дефектів, що поширюються від одного до іншого. Від одного суміжного елемента до іншого пара активованих елементів зміщається на один елемент по ряду при кожному повторі цього етапу подачі команди таким чином, щоб сканувати та досліджувати всю поверхню металевої плити, що находиться напроти цього ряду елементів, не переміщаючи при цьому ні досліджуваної плити, ані дефектоскопа. Щоб одержати гарне просторове розрізнення та мати можливість виявляти дефекти розміром близько кількох міліметрів, розмір елементів, які в основному мають квадратну форму, повинен становити близько декількох квадратних міліметрів. Металеві плити, досліджувані за допомогою таких дефектоскопів, повинні бути гладкими, а вимірювальні елементи розміщають на відстані менше 1,5 міліметра від поверхні досліджуваної плити. На такій відстані від поверхні плити дефектоскопи швидко та точно виявляють будьякий поверхневий дефект, що викликає переривання електричної провідності. Однак, всі спроби використати ці ж дефектоскопи для виявлення тріщин на поверхні сталевих слябів, що виходять безпосередньо з установки безперервного лиття, дотепер, наскільки відомо заявникові, виявлялися безуспішними. Дійсно, нерівності поверхні сляба, а також висока температура цього сляба, що, як правило, перевищує 550°С, не дозволяють утримувати дефектоскоп протягом тривалого часу на відстані менше 1,5мм від досліджуваної поверхні. Задачею даного винаходу є усунення цього 5 80504 6 безпосередньо шляхом безперервного лиття. недоліку та одержання технічного рішення, що Крім того, етап керування здійснюють дозволяє використати вихорострумовий одночасно та зовсім однаково на двох сусідніх дефектоскоп з рядами елементів, керованих рядах, при цьому пари активних елементів в багатоканальним способом, на металевій другому ряді виконують із можливістю подачі безперервно литій заготовці. сигналів зворотної полярності по відношенню до У зв'язку із цим, об'єктом винаходу є спосіб пари активних елементів першого ряду, що виявлення поверхневих дефектів металевої дозволяє шляхом додавання сигналів уникнути безперервнолитої заготовки за допомогою неминучих перешкод, які виникають, наприклад, вихоротокового дефектоскопа типу «роздільного від нерівностей на поверхні сляба, що випромінювача-приймача» з рядами відливається, та видавати контролерові досить встановлених в лінію суміжних вимірювальних чистий сигнал виявлення дефектів з мінімальним елементів, керованих роздільно за допомогою фоновим шумом. мультиплексорного пристрою, при цьому Об'єктом даного винаходу є також система досліджуваний виріб витягнутий по відношенню дефектоскопії, що включає вихорострумовий до дефектоскопа, який відрізняється тим, що дефектоскоп типу «роздільних дефектоскоп включає матрицю вимірювальних випромінювача/приймача» для виявлення елементів, розподілених по рядах та стовпцях, поверхневих дефектів, який включає, при цьому зазначена матриця включає, щонайменше, два ряди, кожний з яких включає, щонайменше, один перший та один другий щонайменше, три суміжні та керованих паралельні ряди, кожний з яких включає, вимірювальних елементи, та блок щонайменше, три вимірювальних елементи, при багатоканального керування, виконаний з цьому мультиплексорний пристрій регулюють можливістю подачі команд керування на відповідно до послідовних етапів керування зазначені вимірювальні елементи, при цьому таким чином, щоб: кожен елемент виконаний з можливістю - на етапі керування активувати перший та створення та виявлення струмів Фуко, яка другий елементи в кожному ряді, відділені один відрізняється тим, що обидва ряди елементів від одного, щонайменше, одним неактивним розташовують поруч один з одним та паралельно елементом, при цьому на перший елемент один одному, і тим, що зазначений блок подають команду для генерування струмів Фуко керування включає мультиплексор, виконаний з на поверхні зазначеної металевої заготовки, на можливістю подачі команд на перший та другий другий елемент подають команду для виявлення елементи одного ряду, відділені один від одного, струмів Фуко, генерованих першим елементом, щонайменше, одним неактивним вимірювальним проходження яких на поверхні зазнає змін через елементом, та подачі команд у такий саме спосіб, наявність поверхневих дефектів, при цьому після але зі зворотною полярністю, на відповідні закінчення заздалегідь визначеного проміжку аналогічні пари елементів другого ряду. часу обидва елементи дезактивують, і Відповідно до інших істотних відмітних ознак зазначений етап керування повторюють для двох системи відповідно до даного винаходу: наступних елементів, зміщених, щонайменше, на - дефектоскоп включає плоску основу, в якій один елемент уздовж цього ж ряду стосовно двох встановлюють зазначені ряди елементів врівень дезактивованих елементів, і так далі до з його поверхнею, при цьому зазначена основа завершення тестування всієї зони досліджуваної призначена для розміщення на відстані, поверхні, щонайменше, трьох міліметрів від тестованої - причому зазначений етап керування поверхні; здійснюють одночасно для елементів першого та - дефектоскоп включає контур охолодження другого рядів, при цьому зазначені перші основи за допомогою циркуляції текучого елементи кожного ряду входять у той самий середовища; стовпець, а зазначені другі елементи кожного - контур охолодження включає, щонайменше, ряду також входять у той самий стовпець, при одну тонку пластину з керамічного матеріалу, цьому другі елементи кожного ряду виконані з установлену напроти основи з можливістю можливістю подачі сигналів протилежної створення простору для циркуляції охолодного полярності при виявленні дефекту. текучого середовища. Інакше кажучи, елемент, що створює струми Даний винахід та його інші відмітні ознаки та Фуко, повинен бути обов'язково відділений від переваги будуть більш очевидні з елемента, що їх виявляє, у цьому ж ряді, нижченаведеного опису, представленого як щонайменше, одним неактивним елементом. приклад, з посиланнями на прикладені Дійсно, було виявлено, що збільшення відстані креслення, на яких: між двома випромінюючими/приймаючими Фіг.1 схематичний вид системи елементами дозволяє збільшити відстань між дефектоскопії відповідно до даного винаходу; цими елементами та тестованою поверхнею, Фіг.2 - вид у вертикальному розрізі зберігаючи при цьому ефективність елементів, вихоротокового дефектоскопа, застосовуваного в достатню для даного варіанта застосування. системі, показаній на Фіг.1; З'являється можливість використання елементів Фіг.3 - схематичний вид активної частини на відстані більше 1,5 міліметра від поверхні дефектоскопа, показаного на Фіг.2, відповідно до сляба, що дозволяє використовувати ці даного винаходу; дефектоскопи для виявлення поверхневих Фіг.4 - блок-схема способу виявлення тріщин на металевих слябах, одержуваних 7 80504 8 вимірювальних елементів 21. Ці два ряди поверхневих дефектів у відповідності до даного розташовані паралельно один одному в напрямку винаходу. довжини дефектоскопа 10. Ці ряди 22 та 24 На Фіг.1 показана система 2 поверхневої розташовують максимально близько один до дефектоскопії сталевого сляба 4, який виходить одного таким чином, щоб їхні відповідні елементи безпосередньо з установки безперервного лиття. були розташовані поруч один з одним та Сляб 4 розташований горизонтально і саме в торкалися один одного, щонайменше, з однієї такому положенні повільно рухається (зі сторони. швидкістю небагато більше 1м/хв.), проходячи під Для спрощення креслення в кожному ряді дефектоскопом 2. Для спрощення креслення на показані тільки шість вимірювальних елементів Фіг.1 показаний тільки лівий верхній край цього 21. В дійсності ряд може містити до тридцяти сляба 4. двох елементів і навіть більше. У цьому випадку Сляб 4 є безперервнолитою металевою елементи ряду 22 позначені по порядку знизу заготовкою. угору, відповідно, позиціями С1, С3, С5, С7, С9 та В тому місці, де находиться система 2 С11. Аналогічно, елементи ряду 24 позначені по дефектоскопії, сляб звичайно має температуру, порядку знизу угору, відповідно, позиціями С2, яка усе ще перевищує 550°С. Його верхня С4, С6, С8, С10 та С12. поверхня, що находиться напроти дефектоскопа Кожний з вимірювальних елементів 21 2, є нерівною і включає численні шорсткості та виконаний таким чином, щоб при подачі команди локальні рельєфні виступи, такі як відбитки від із блоку 12 виконувати функцію або зворотно-поступального руху кристалізатора або випромінюючого елемента, або приймаючого «острівки» окалини, а також, можливо, витягнуті елемента. дефекти поверхні, такі як поперечні тріщини, різні Коли елемент 21 виконує функцію розриви та заглибини. Ці поверхневі дефекти випромінюючого елемента, він може створювати приводять до локального розриву провідності струми Фуко на поверхні сляба 4. Для цього поверхні сляба 4. Необхідно відзначити, що цей кожен елемент включає обмотку 26, яка живиться розрив провідності не обов'язково означає змінним струмом. Вісь цієї обмотки 26 наявність розламу на поверхні сляба 4. У цьому перпендикулярна до активної грані дефектоскопа випадку показана тільки поперечна тріщина 6. Цю 10. тріщину 6 називають поперечною, тому що вона Коли елемент виконує функцію приймаючого розташована перпендикулярно напрямку руху елемента, він може виявляти струми Фуко на сляба 4. На Фіг.1 напрямок руху сляба 4 показано поверхні сляба 4 тільки в тому випадку, коли стрілкою F. струми Фуко, створені випромінюючим Для полегшення установки системи 2 елементом, відхилилися убік приймаючого дефектоскопії в середовищі, де температура елемента поверхневим дефектом, що перевищує 550°С, жодна з її деталей не є поширюється від одного елемента до іншого, рухомою, і тільки сляб 4 поступально рухається згідно з вже згаданим принципом, розкритим в ЕР під цією системою в напрямку переміщення F. 0195794. Для цього обмотка 26 утворює замкнуте Система 2 включає дефектоскоп 10, блок 12 електричне коло, використовуване для керування дефектоскопом, а також насос 14 для виявлення електромагнітних полей. нагнітання охолодного текучого середовища. Як уже було зазначено, суміжні елементи Дефектоскоп 10 виконаний з можливістю рядів 22 та 24 можуть бути змонтовані за виявлення дефектів провідності на поверхні диференціальною схемою відносно один одного сляба 4 за допомогою струмів Фуко. Оскільки на двох рядах таким чином, щоб уникнути принцип роботи такого дефектоскопа відомий, погрішностей виміру або виявлення через його докладний опис опускається. Наприклад, нерівності поверхні сляба 4, таких як відбитки від читач може звернутися до європейської заявки зворотно-поступального руху кристалізатора. ЕР 0195794 для одержання інформації про Зокрема, елементи кожного ряду 22 та 24, які принципи роботи таких дефектоскопів. виконують функцію приймаючих елементів, У цьому випадку дефектоскоп 10 має форму можуть генерувати сигнали виявлення прямокутного паралелепіпеда, який поверхневого дефекту із протилежною розташований перпендикулярно до напрямку полярністю. В результаті цього, коли приймаючий переміщення F і одна із граней якого (називана елемент ряду 22 виявляє дефект, він генерує «активною гранню», тому що на її поверхню сигнал, наприклад, позитивної полярності, тоді як виходять вимірювальні елементи) розташована відповідний приймаючий елемент ряду 24 паралельно поверхні сляба 4. Цей дефектоскоп генерує сигнал негативної полярності, виявивши 10 розміщають таким чином, щоб його активна той самий дефект. грань перекривала край сляба 4, забезпечуючи У цьому випадку, як правило, елементи 21 постійне тестування краю, навіть коли рухома примикають один до одного, а обмотки 26 заготовка трохи відхиляється в бічному напрямку суміжних елементів відділені одна від одної під час свого переміщення. проміжком X, меншим 0,5мм, який, краще, Як показано на Фіг.2, активна грань 20 дорівнює приблизно 0,2мм. Така близькість дефектоскопа утворена основою 20, в якій різних обмоток 26 дозволяє забезпечити майже установлені вимірювальні елементи 21. безперервне сканування та тестування поверхні Нижня поверхня цієї основи 20 показана на сляба по всій довжині рядів 22 та 24. Фіг.3. Це основа 20 включає, наприклад, два Щоб максимально збільшити загальну ідентичних ряди 22 і 24 абсолютно однакових 9 80504 10 24 виявляє цю тріщину та генерує відповідний чутливу поверхню дефектоскопа, елементи 21 сигнал. Після цього тріщину 6 виявляє, мають квадратну форму, таку ж форму має їхня щонайменше, один з елементів іншого ряду 22, внутрішня обмотка 26. Крім того, щоб виявляти який також генерує відповідний сигнал, але поверхневі дефекти або тріщини, довжина яких протилежної полярності. ледь перевищує 4 міліметри, кожна з обмоток Роботою дефектоскопа 10 управляє має квадратний перетин 4x4мм2. мультиплексор 12, який включає множину Для захисту основи 20 від перегріву часових віконець, при цьому кожне часове дефектоскоп 10 також обладнаний пристроєм 30 віконце відповідає встановленому інтервалу часу. (Фіг.2) охолодження основи 20. Цей пристрій В кожному часовому віконці активується тільки включає контур 32 циркуляції охолодного пара елементів ряду 22 та пара елементів ряду текучого середовища. Цей контур 32 опускається 24, тоді як всі інші елементи рядів 22 та 24 уздовж вертикальної стінки 36 дефектоскопа 10, залишаються неактивними. В неактивному стані проходить під основою 20 та піднімається уздовж обмотка 26 елементів розімкнута. Це дозволяє іншої вертикальної стінки 38 дефектоскопа 10. уникнути проблем перехресних перешкод між Для формування частини контуру 32, що обмотками 26 різних елементів. проходить під основою 20, пристрій 30 включає Зокрема, щоб дефектоскоп 10 міг працювати прямокутну тонку пластину 40, установлену надійно на відстані більше трьох міліметрів від навпроти та паралельно основі 20, захищаючи поверхні сляба 4, блок 12 керування діє в такий вимірювальні елементи. Цю тонку пластину спосіб. При проходженні першого часового виконують, наприклад, з керамічного матеріалу, віконця на етапі 60 блок 12 активує елементи С1 який пропускає електромагнітні хвилі, що та C2 як випромінюючі елементи, щоб вони генеруються та приймаються обмотками 26 генерували струми Фуко на верхній поверхні різних вимірювальних елементів. Ця тонка сляба 4. У той же час блок 12 активує елементи пластина 40 відстоїть, наприклад, приблизно на 1 С5 та С6 як приймаючі елементи, щоб вони міліметр від поверхні основи 20. Вона виявляли струми Фуко на поверхні сляба 4. При утримується на місці за допомогою двох такому керуванні дефектоскопом 10 між горизонтальних лапок 42 та 44, закріплених випромінюючими та приймаючими елементами уздовж її більших сторін. Лапки 42 та 44 виконані находиться неактивний елемент, у цьому випадку з можливістю ковзання по поверхні сляба 4 на елементи С3 та С4. Під час проходження зразок лиж. Кожна із цих горизонтальних лапок першого часового віконця проміжок між 42 та 44 нерухомо з'єднана з вертикальною випромінюючими та приймаючими елементами металевою пластиною 46 та 48, відповідно. перевищує, таким чином, чотири міліметри. Пластини 46 та 48 установлені уздовж стінок Експериментальним шляхом було 36 та 38 дефектоскопа 10. Вони відстоять від встановлено, що висота, на якій може бути вертикальних стінок 36 та 38, утворюючи простір розміщена основа 20 відносно поверхні сляба, для контуру 32. Для забезпечення термостійкості збільшується пропорційно проміжку між лапки 42 та 44, а також пластини 46 та 48 випромінюючими елементами та приймаючими виконують, наприклад, з нержавіючої сталі. елементами. Таким чином, при утворенні на етапі Товщину лапок 42 та 44, а також товщину тонкої 60 проміжку між випромінюючими елементами та пластини 40 та «товщину» контуру 32 під приймаючими елементами, щонайменше, рівного основою 20 вибирають таким чином, щоб висота чотирьом міліметрам, робота дефектоскопа 10 не Н, що відокремлює основу 20 від верхньої погіршується, в той час як він находиться на поверхні сляба 4, перевищувала або була рівною відстані приблизно в три міліметри від поверхні, трьом міліметрам і, краще, перевищувала 4 на якій він повинен виявляти дефекти. міліметри. Після цього, при проходженні другого Стрілки в контурі 32 показують напрямок часового віконця на етапі 62 блок 12 активує циркуляції охолодного текучого середовища. У елементи С3 та С4 і елементи С7 та С8 таким цьому випадку охолодним середовищем є вода. чином, щоб елементи С3 та С4 працювали Кожен кінець контуру 32 з'єднаний з насосом 14, одночасно як випромінюючі елементи, а виконаним з можливістю забезпечення циркуляції елементи С1 та С8 працювали одночасно як охолодного середовища в контурі 32. приймаючі елементи. У цей же час інші елементи Блок 12 керування є мультиплексором, і, зокрема, раніше активовані елементи, тобто виконаним з можливістю індивідуального елементи С1, С2, С5, С6, стають неактивними. керування кожним з елементів основи 20. Цей При проходженні наступного, третього блок керування виконують, наприклад, на основі часового віконця етап 62 повторюється під час звичайного програмовного електронного етапу 64 зі зсувом активованих елементів на обчислювального пристрою, з'єднаного із один елемент угору. Таким чином, під час цього запам'ятовувальним пристроєм 50, в якому етапу 64 як випромінюючі елементи працюють записані дані для виконання способу, показаного елементи С5 та С6, а елементи С9 та С10 на Фіг.4. працюють як приймаючі елементи. Далі з посиланням на Фіг.4, що показує спосіб При проходженні наступного часового віконця відповідно до даного винаходу, наведений опис блок 12 здійснює етап 66, ідентичний роботи системи. Під час роботи системи 2 сляб 4 попередньому, за винятком того, що активуються рухається горизонтально під дефектоскопом 10 в елементи С7, С8, С11 та С12. Після цього процес напрямку стрілки F. Коли бортова тріщина б повертається до етапу 60. проходить під основою 20, один з елементів ряду 11 80504 12 Етапи 60, 62, 64 та 66 повторюються, поки приймаючими елементами і, таким чином, мати працює система 2. Таким чином, відзначається, можливість розмістити дефектоскоп 10 на ще що, зміщаючи на один елемент активовані більшій відстані Η від поверхні сляба, у варіанті елементи під час кожного з етапів 60, 62, 64 та випромінюючі та приймаючі елементи одного 66, можна відсканувати всю ділянку поверхні ряду можуть бути відділені один від одного сляба, що находиться напроти основи 20, з одним, двома, трьома, чотирма або п'ятьма підвищеним розрізненням, тому що перетин неактивними елементами. елементів становить близько 4мм2, не Крім того, можна розширити можливості переміщаючи при цьому дефектоскоп 10. пристрою, передбачивши число рядів елементів Таким чином, цей спосіб керування дозволяє більше двох. виявляти з гарним розрізненням дефекти на Крім того, немає необхідності, щоб ряди поверхні шириною, що відповідає довжині елементів були суміжними. Між ними можна дефектоскопа, причому під час одного проходу передбачити проміжок. під дефектоскопом. Іншою перевагою системи 2 є Система 2 була описана для окремого те, що вона не реагує на положення краю сляба 4 випадку, коли її поміщають у середовище з відносно положення основи 20. Інакше кажучи, температурою, що перевищує 550°С. Цю ж вимірювальні елементи основи 20, які находяться систему, зрозуміло, можна використовувати для за межами поверхні сляба, тобто, за межами тестування сляба при навколишній температурі. верхнього краю сляба 4, ніяк не заважають роботі У цьому варіанті пристрій 30 охолодження основи дефектоскопа 10, і тому немає необхідності точно стає непотрібним, і від нього можна відмовитися. позиціювати сляб 4 напроти цього дефектоскопа Система 2 була описана для окремого 10. випадку, коли обмотки мають перетин 16 мм2. У Робота системи 2 описана для конкретного варіанті та залежно від довжини дефектів кожна випадку, коли при проходженні кожного часового обмотка може мати витягнутий і навіть строго віконця випромінюючі та приймаючі елементи прямокутний перетин, при цьому мала та велика розділені тільки одним неактивним елементом. сторони цього прямокутника мають довжину, що Щоб збільшити проміжок між випромінюючими та находиться в межах від 2 до 10мм. 13 Комп’ютерна верстка М. Мацело 80504 Підписне 14 Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method of detecting surface defects on a continuously-cast crude metallic product

Автори англійською

Меуаn Philipp, Turon Jean-Місhеl, Midroit Fabien

Назва патенту російською

Способ обнаружения поверхностных дефектов в металлической заготовке, полученной с помощью непрерывной разливки металла

Автори російською

Мейан Филип, Тюрон Жан-Мишель, Мидруа Фабьен

МПК / Мітки

МПК: G01N 27/90

Мітки: дефектоскопії, спосіб, поверхневої, безперервнолитої, система, заготовки, металевої

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/7-80504-sposib-ta-sistema-poverkhnevo-defektoskopi-bezperervnolito-metalevo-zagotovki.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб та система поверхневої дефектоскопії безперервнолитої металевої заготовки</a>

Подібні патенти