Спосіб виявлення порушень суцільності закріпного простору вертикальних шахтних стволів

1. Способ выявления нарушений сплошности закрепного пространства вертикальных шахтных стволов, основанный на измерении параметров электрического поля дипольно-экваториальной установки при гальваническом заземлении и перемещении с заданным шагом равных по длине и находящихся на фиксированном расстоянии друг от друга питающего и измерительного диполей по профилям, параллельным осям диполей, построении графиков значение ΔU/I, где ΔU - разность потенциалов между электродами измерительного диполя, I - ток в цепи питающего диполя, осреднении значений ΔU/Ι в скользящем окне по заданному интервалу, нахождении нормального фона графиков и выделении аномалий, отличающийся тем, что питающий и измерительный диполи размещают в стволе вертикально, электроды диполей заземляют непосредственно в крепь ствола, выполняют серию измерений на каждой исследуемой глубине горизонтального сечения ствола", в процессе измерений изменяют ориентацию оси дипольно-экваториальной установки относительно стран света и расстояние между питающим и измерительным диполями, причем в пределах каждой из половин горизонтального сечения ствола параметры измеряют, по крайней мере, при четырех положениях питающего диполя, в каждом из которых электроды одной и той же полярности последовательно заземляют в вершинах равнобедренных трапеций, вписанных во внутренние полуокружности горизонтальных сечений ствола, для каждого положения питающего диполя параметры измеряют при трех положениях измерительного диполя, при этом одноименные измерительные электроды последовательно заземляют в остальных вершинах трапеций, размеры rjk сторон и диагоналей трапеций выбирают из соотношений I £ rjk < R для боковых сторон и R < rjk < 2R для параллельных сторон и диагоналей, где l - длина питающего (измерительного) диполя, R - размер внутреннего радиуса ствола, индексы j и к соответственно обозначают номера питающего и измерительного диполей, для каждой комбинации питающего и измерительного диполей строят графики относительных параметров в зависимости от глубины нахождения диполей в стволе

где ΔUijk,  - значення разности потенциалов измеренное, среднее в скользящем окне и нормального фона на I-ой глубине горизонтального сечения ствола соответственно при j-ом и k-ом положениях питающего и измерительного диполей и расстояние между ними rjk, вычисляют коэффициенты корреляции между графиками однотипных относительных параметров, по значениям которых судят о нарушениях сплошности закрепленного пространства,

2. Способ по п.1, отличающийся тем, что сравнивают графики однотипных относительных параметров, получение при I £ rijk<R, по результатам сравнения судят об однородности материала крепи ствола,

3. Способ по п. 1, отличающийся тем, что сравнивают пары графиков однотипных относительных параметров, полученных по одному и тому же профилю при двух положениях питающего диполя и расстояниях между питающими и измерительным диполями l £ rijk < R и R < ri(j±x)k<2R, где х - количество смещенных относительно друг друга позиций питающего диполя, по участкам уверенной корреляции графиков судят об интервалах нарушения сплошности закрепного пространства.

4. Способ по п. 1, отличающийся тем, что сравнивают пары графиков однотипных относительных параметров, полученных по одному и тому же профилю при двух смежных сближенных позициях питающего диполя и расстояниях между питающими и измерительным диполями R < rijk<2R, по участкам потери корреляции между графиками судят о нахождении нарушения сплошности закрепного пространства в интервале ствола между смежными положениями питающего диполя.

5. Способ по п. 1, отличающийся тем, что сравнивают пары графиков, полученных при одном и том же положении питающего диполя и двух смежных сближенных позициях измерительного диполя и расстояниях между питающим и измерительными диполямы R<rijk<2R, по участкам потери корреляции между графиками судят об интервалах нарушения сплошности закрепного пространства, располагающихся между смежными позициями измерительного диполя.