Патенти з міткою «арифметичної»
Спосіб визначення середньої арифметичної висоти нерівностей поверхні кристалу методом повного зовнішнього відбивання х-променів
Номер патенту: 104335
Опубліковано: 25.01.2016
Автори: Фодчук Ігор Михайлович, Баловсяк Сергій Васильович
МПК: G06F 17/17, G01T 1/16, G06T 17/30 ...
Мітки: висоті, визначення, нерівностей, х-променів, зовнішнього, арифметичної, середньої, повного, спосіб, відбивання, поверхні, кристалу, методом
Формула / Реферат:
Спосіб визначення середньої арифметичної висоти Ra нерівностей поверхні кристалу методом повного зовнішнього відбивання Х-променів на основі розподілів інтенсивності кривих гойдання (КГ) І(α), які обчислюють шляхом інтерполяції експериментальних КГ Η(α), отриманих в X-променевому дифрактометрі при фіксованих кутах θ повороту кристалу в Q базових точках з координатами (αр, Нр), який відрізняється тим, що точне...