G06T 17/30 — опис поверхні, наприклад, поліномное опис поверхні
Спосіб визначення середньої арифметичної висоти нерівностей поверхні кристалу методом повного зовнішнього відбивання х-променів
Номер патенту: 104335
Опубліковано: 25.01.2016
Автори: Баловсяк Сергій Васильович, Фодчук Ігор Михайлович
МПК: G01T 1/16, G09B 23/26, G06F 17/17, G06T 17/30 ...
Мітки: х-променів, арифметичної, відбивання, поверхні, методом, повного, нерівностей, спосіб, зовнішнього, висоті, середньої, кристалу, визначення
Формула / Реферат:
Спосіб визначення середньої арифметичної висоти Ra нерівностей поверхні кристалу методом повного зовнішнього відбивання Х-променів на основі розподілів інтенсивності кривих гойдання (КГ) І(α), які обчислюють шляхом інтерполяції експериментальних КГ Η(α), отриманих в X-променевому дифрактометрі при фіксованих кутах θ повороту кристалу в Q базових точках з координатами (αр, Нр), який відрізняється тим, що точне...
Спосіб визначення локальних деформацій кристалів на основі профілів розподілу інтенсивності зворотно відбивних електронів
Номер патенту: 100924
Опубліковано: 10.08.2015
Автори: Баловсяк Сергій Васильович, Ткач Василь Миколайович, Фодчук Ігор Михайлович
МПК: G06F 17/17, G06T 17/30, G01T 1/16 ...
Мітки: деформацій, інтенсивності, відбивних, основі, розподілу, спосіб, профілів, локальних, визначення, електронів, кристалів, зворотної
Формула / Реферат:
Спосіб визначення локальних деформацій кристалів на основі профілів розподілу інтенсивності зворотно відбитих електронів, що отримані за методом Кікучі в множині областей кристалу, який полягає в тому, що для кожної області кристалу значення локальної деформації обчислюють через площу під інтерпольованим профілем z(х) смуги Кікучі, отриманої в скануючому електронному мікроскопі від відповідної області досліджуваного кристалу, а значення...