Спосіб визначення середньої арифметичної висоти нерівностей поверхні кристалу методом повного зовнішнього відбивання х-променів
Номер патенту: 104335
Опубліковано: 25.01.2016
Формула / Реферат
Спосіб визначення середньої арифметичної висоти Ra нерівностей поверхні кристалу методом повного зовнішнього відбивання Х-променів на основі розподілів інтенсивності кривих гойдання (КГ) І(α), які обчислюють шляхом інтерполяції експериментальних КГ Η(α), отриманих в X-променевому дифрактометрі при фіксованих кутах θ повороту кристалу в Q базових точках з координатами (αр, Нр), який відрізняється тим, що точне значення кута θ повороту кристалу, при якому його поверхня паралельна до осі первинного пучка Х-променів, визначають в автоматичному режимі за максимумом КГ, а значення інтерпольованої КГ І(α) обчислюють в QІ точках з координатами (αk, Ik) як суму згладженої функції ІC(α), яка апроксимує базові точки, та лінійної узгоджуючої функції U (α,р), яка плавно наближує значення функції І(α) до Нр у вузлах інтерполяції p, де в якості функції ІC(α) використовують інтерпольовану за допомогою кубічних сплайнів залежність Η(α) після її згортки з ядром фільтра Гауса.
Текст
Реферат: Спосіб визначення середньої арифметичної висоти Ra нерівностей поверхні кристалу методом повного зовнішнього відбивання Х-променів на основі розподілів інтенсивності кривих гойдання (КГ) І(α), які обчислюють шляхом інтерполяції експериментальних КГ Η(α), отриманих в Xпроменевому дифрактометрі при фіксованих кутах θ повороту кристалу в Q базових точках з координатами (αр, Нр), причому точне значення кута θ повороту кристалу, при якому його поверхня паралельна до осі первинного пучка Х-променів, визначають в автоматичному режимі за максимумом КГ, а значення інтерпольованої КГ І(α) обчислюють в QІ точках з координатами (αk, Ik) як суму згладженої функції ІC(α), яка апроксимує базові точки, та лінійної узгоджуючої функції U (α,р), яка плавно наближує значення функції І(α) до Нр у вузлах інтерполяції p, де як функцію ІC(α) використовують інтерпольовану за допомогою кубічних сплайнів залежність Η(α) після її згортки з ядром фільтра Гауса. UA 104335 U (12) UA 104335 U UA 104335 U 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 Корисна модель належить до галузі неруйнівної діагностики рельєфу поверхні кристалів за даними Х-променевих методів, зокрема методу повного зовнішнього відбивання (ПЗВ) Хпроменів (X-ray reflectivity), і може практично використовуватися для отримання і обробки розподілу інтенсивності Х-променевих кривих ПЗВ з метою більш точного визначення середньої арифметичної висоти нерівностей поверхні кристалів [1-5]. Метод ПЗВ Х-променів використовується для визначення параметрів рельєфу поверхні і параметрів поверхневого шару кристалів [1-3]. Даний метод реалізується в Х-променевих дифрактометрах. В методі ПЗВ Х-променів на поверхню плоского зразка під кутом ковзання θ
ДивитисяДодаткова інформація
МПК / Мітки
МПК: G01T 1/16, G06T 17/30, G09B 23/26, G06F 17/17
Мітки: відбивання, визначення, висоті, нерівностей, спосіб, повного, поверхні, кристалу, арифметичної, зовнішнього, методом, середньої, х-променів
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/10-104335-sposib-viznachennya-seredno-arifmetichno-visoti-nerivnostejj-poverkhni-kristalu-metodom-povnogo-zovnishnogo-vidbivannya-kh-promeniv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб визначення середньої арифметичної висоти нерівностей поверхні кристалу методом повного зовнішнього відбивання х-променів</a>
Спосіб виготовлення призми зовнішнього відбивання
Номер патенту: 7208
Опубліковано: 15.06.2005
Автори: Маслов Володимир Петрович, Коломзаров Юрій Вікторович
Мітки: зовнішнього, спосіб, відбивання, виготовлення, призми
Формула / Реферат:
Спосіб виготовлення призми зовнішнього відбивання, який полягає у виготовленні основи та бокових пластин із відбиваючим світло покриттям, які приєднують до основи, який відрізняється тим, що основу та бокові пластини виконують зі склокерамічних матеріалів з ультранизьким значенням коефіцієнта теплового розширення, дзеркальне покриття виконують напиленням шару алюмінію, а приєднання бокових пластин до основи проводять методом дифузійного...
Спосіб вимірювання висоти дзеркала рідкого металу в кристалізаторі та зонд для визначення такої висоти
Номер патенту: 98880
Опубліковано: 25.06.2012
Автори: Арцбергер Маттіас, Плоциннік Уве, Ліфтухт Дірк
МПК: G01F 23/292, B22D 11/18, B22D 2/00, G01F 23/22, G01K 11/32, B22D 11/20
Мітки: дзеркала, вимірювання, такої, металу, кристалізаторі, визначення, рідкого, висоті, спосіб, зонд
Формула / Реферат:
1. Спосіб вимірювання висоти дзеркала рідкого металу в кристалізаторі (1) для розливання металу, при цьому для визначення висоти дзеркала металу вимірюють розподіл температури в зоні дзеркала металу по висоті кристалізатора (1), при цьому вимірювання температури здійснюють за допомогою одного або декількох вимірювальних волокон, виконаних у вигляді світловоду, і/або за допомогою щонайменше одного вимірювального зонда, який закладають в мідну...
Спосіб визначення оптимальної концентрації лізозиму для створення ліотропного магнітного рідкого кристалу
Номер патенту: 99099
Опубліковано: 25.05.2015
Автори: Студеняк Ігор Петрович, Копчанський Петер, Ковальчук Олександр Васильович, Газова Зузана, Тімко Мілан, Шіпошова Катаріна
МПК: G02F 1/13
Мітки: магнітного, створення, кристалу, спосіб, оптимальної, ліотропного, рідкого, лізозиму, визначення, концентрації
Формула / Реферат:
Спосіб визначення оптимальної концентрації лізозиму для створення ліотропного магнітного рідкого кристалу, який відрізняється тим, що по мінімуму зміни електричної провідності під дією магнітного поля від концентрації білка (лізозиму) визначають оптимальну концентрацію білка (лізозиму) для створення ліотропного магнітного рідкого кристалу на основі водних розчинів лізозиму, магнетиту та магнітної рідини.
Спосіб визначення ухилів, кривизни, нерівностей дорожнього покриття
Номер патенту: 102994
Опубліковано: 25.11.2015
Автор: Каленик Костянтин Леонідович
МПК: E01C 23/07, G01C 7/04
Мітки: кривизни, покриття, ухилів, дорожнього, спосіб, нерівностей, визначення
Формула / Реферат:
Спосіб визначення ухилів, нерівностей, кривизни дорожнього покриття, що включає вимірювання прискорення і лінійної швидкості транспортного засобу, пройденого шляху і часу руху, подальше визначення ухилів і кривизни профілю дорожнього покриття за допомогою ЕОМ шляхом обчислення значення прискорення у напрямі руху і величини поздовжнього ухилу профілю для заданої ділянки шляху, який відрізняється тим, що вимірювання прискорення транспортного...
Спосіб відновлення висоти прикусу з індивідуальним формуванням рельєфу оклюзійної поверхні
Номер патенту: 34601
Опубліковано: 15.03.2001
Автор: Біда Віталій Іванович
МПК: A61C 13/007
Мітки: оклюзійної, індивідуальним, поверхні, рельєфу, відновлення, формуванням, висоті, спосіб, прикусу
Формула / Реферат:
Спосіб відновлення висоти прикусу з індивідуальним формуванням рельєфу оклюзійної поверхні, який включає визначення висоти конструктивного прикусу та відновлення анатомічної форми зубів, який відрізняється тим, що додатково фіксують 1/2 висоти конструктивного прикусу і під контролем прикусного валка, зубів-антагоністів та з урахуванням індивідуального стереотипу жування проводять реставрацію анатомічної форми зубів однієї з щелеп гібридними...
Попередній патент: Спосіб отримання концентрату та олії ядра сої
Наступний патент: Спосіб отримання концентрату та олії ядра кедрового горіха
Випадковий патент: Спосіб одержання подових виробів з дріжджового тіста