Патенти з міткою «х-променів»

Номер патенту: 104335

Опубліковано: 25.01.2016

Автори: Фодчук Ігор Михайлович, Баловсяк Сергій Васильович

МПК: G06F 17/17, G01T 1/16, G06T 17/30 ...

Мітки: висоті, поверхні, відбивання, арифметичної, зовнішнього, нерівностей, кристалу, визначення, х-променів, методом, спосіб, повного, середньої

Формула / Реферат:

Спосіб визначення середньої арифметичної висоти Ra нерівностей поверхні кристалу методом повного зовнішнього відбивання Х-променів на основі розподілів інтенсивності кривих гойдання (КГ) І(α), які обчислюють шляхом інтерполяції експериментальних КГ Η(α), отриманих в X-променевому дифрактометрі при фіксованих кутах θ повороту кристалу в Q базових точках з координатами (αр, Нр), який відрізняється тим, що точне...