Патенти з міткою «діркового»
Спосіб вимірювання товщини залишкового шару порушеної структури на монокристалічній підкладці діркового телуриду кадмію
Номер патенту: 25598
Опубліковано: 30.10.1998
Автори: Українець Валентин Остапович, Українець Наталія Андріївна, Ільчук Григорій Архипович
МПК: G01N 27/22
Мітки: діркового, спосіб, залишкового, телуриду, шару, монокристалічний, підкладці, товщини, вимірювання, структури, кадмію, порушеної
Формула / Реферат:
Спосіб вимірювання товщини залишкового шару порушеної структури на монокристалічній підкладці діркового телуриду кадмію, який включає травлення механічно обробленої поверхні діркового телуриду кадмію, який відрізняється тим, що на поверхні діркового телуриду кадмію створюють бар'єр Шотткі із металів з низькою температурою плавлення, вимірюють залежність диференціальної ємності від регульованого постійного зміщення, по якій визначають...