Патенти з міткою «стехіометрії»

Номер патенту: 65585

Опубліковано: 12.12.2011

Автори: Гешл Павел, Копач Олег Вадимович, Фочук Петро Михайлович, Феш Роман Миколайович

МПК: H01L 21/18, C30B 13/14

Мітки: вирощування, контрольованим, пристрій, монокристалів, відхиленням, стехіометрії

Формула / Реферат:

1. Пристрій для вирощування монокристалів з контрольованим відхиленням від стехіометрії, що включає двозонну ростову піч опору з розміщеною в ній запаяною скляною ампулою росту з наважками компонентів, який відрізняється тим, що пристрій містить герметичний автоклав з можливістю регулювання тиску газу, в якому розміщено піч, в нижній частині якої знаходиться п'єдестал з розміщеною на ньому ампулою росту та компенсаційний ковпак, нижньою...