Ременюк Петро Іванович

Номер патенту: 42618

Опубліковано: 17.11.2003

Автори: Теселько Петро Олексійович, Новиков Микола Миколайович, Сушко Володимир Георгійович, Ременюк Петро Іванович

МПК: G01N 23/20

Мітки: оцінки, досконалості, кристалів, інтегральної, спосіб, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...