G01N 23/20 — за допомогою дифракції, наприклад для дослідження структури кристалів; за допомогою відбитого випромінювання

Номер патенту: 118210

Опубліковано: 25.07.2017

Автори: Войналович Олександр Володимирович, Майло Андрій Миколайович, Писаренко Георгій Георгійович

МПК: G01N 3/00, G01N 23/20

Мітки: визначення, спосіб, рентгенівський, ступеня, пошкодження, металевої, матеріалу, деталі

Формула / Реферат:

Рентгенівський спосіб визначення ступеня втомного пошкодження матеріалу металевої деталі, що включає виготовлення серії однакових зразків з матеріалу, тотожного матеріалу досліджуваної деталі, кожний зразок серії навантажують до створення у ньому механічного напруження певного значення, опромінюють досліджувану деталь і зразки рентгенівським промінням однакових параметрів, а далі фотометруванням співставляють відносний ступінь потемніння...

Номер патенту: 113682

Опубліковано: 10.02.2017

Автор: Семенов Костянтин Іванович

МПК: G01N 23/20

Мітки: рентгенівського, дифрактометра, спосіб, юстування

Формула / Реферат:

Спосіб юстування рентгенівського дифрактометра, який полягає в застосуванні лазера і штатних пристроїв гоніометра, який відрізняється тим, що лазер вставляють в утримувач детектора, і, при відключеному джерелі рентгенівського випромінювання, юстують послідовно положення утримувача, нульової лінії, площини зразка, після чого лазер змінюють на детектор і юстують положення джерела рентгенівського випромінювання.

Номер патенту: 98040

Опубліковано: 10.04.2015

Автори: Михайлов Антон Ігоревич, Михайлов Ігор Федорович, Батурін Олексій Анатолійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: вмісту, визначення, сталі, спосіб, вуглецю

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту вуглецю в сталі, що включає в себе опромінення зразка потоком монохроматизованого рентгенівського випромінювання через колімаційну систему і реєстрацію структурних відбиттів цементиту, за інтенсивністю яких визначають вміст вуглецю, який відрізняється тим, що потік монохроматизованого рентгенівського випромінювання отримують за допомогою вторинної мішені, матеріал якої вибирають так, щоб його лінії флюоресценції...

Номер патенту: 90566

Опубліковано: 10.06.2014

Автори: Соломон Андрій Михайлович, Пекар Володимир Ярославович, Пекар Ярослав Михайлович

МПК: C30B 35/00, G01N 23/20

Мітки: кристалографічних, кріплення, монокристалів, пристрій, площин, визначенні

Формула / Реферат:

Пристрій для кріплення монокристалів при визначенні кристалографічних площин, що містить платформу, виконану з можливістю обертання відносно її вертикальної осі, та оправку для кріплення кристала, який відрізняється тим, що платформа, фіксована на поворотному столі дифрактометра, містить регульовану в горизонтальній площині опорну поперечну пластину, а оправка складається з двох квадратних пластин, з'єднаних між собою за допомогою чотирьох...

Номер патенту: 78213

Опубліковано: 11.03.2013

Автори: Мазанко Володимир Федорович, Богданов Євген Іванович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович, Храновська Катерина Миколаївна, Богданов Сергій Євгенович

МПК: G01N 13/00, G01N 23/20, G01N 23/00 ...

Мітки: монокристала, спосіб, об'ємі, визначення, розподілу, домішок

Формула / Реферат:

Спосіб визначення розподілу домішок в об'ємі монокристала, що включає опромінення монокристала випромінюванням, реєстрацію випромінювання, розрахунок концентрації домішок в монокристалі, який відрізняється тим, що опромінювання монокристала здійснюють рентгенівським випромінюванням, послідовно видаляють шари монокристала товщиною порядку 3-5 довжин абсорбції, вимірюють інтенсивність дифракційних рентгенівських ліній у кожному шарі, визначають...

Номер патенту: 73734

Опубліковано: 10.10.2012

Автори: Сердега Борис Кирилович, Порєв Володимир Андрійович, Кущовий Сергій Миколайович, Венгер Євген Федорович, Маслов Володимир Петрович, Матяш Ігор Євгенійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: якості, сапфір, вимірювання, прозорих, контролю, пристрій, діапазоні, кристалів, оптичному

Формула / Реферат:

Пристрій контролю якості кристалів, прозорих в оптичному діапазоні вимірювання, що містить напівпровідниковий лазер, фазові пластини, утримувач зразка, модулятор поляризації та фотоелектронний приймач, який відрізняється тим, що одна фазова пластина розташована безпосередньо перед зразком, який контролюється, а друга - після нього.

Номер патенту: 71897

Опубліковано: 25.07.2012

Автори: Родін Леонід Михайлович, Тюльпінов Олександр Дмитрович, Овсієнко Ольга Леонідівна

МПК: G01N 23/20

Мітки: каталізаторів, спосіб, стабільності, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення стабільності каталізаторів, що містять дисперсні метали і оксиди металів, шляхом оцінки їх активності в активованому стані при нагріванні, який відрізняється тим, що прожарювання зразків у рентгенівській термокамері проводять при температурі 600 °C, порівнюють температурні залежності середнього розміру кристалітів і питому поверхню активного компонента різних зразків однотипних дисперсних каталізаторів.

Номер патенту: 65586

Опубліковано: 12.12.2011

Автори: Заяць Микола Сергійович, Мілєнін Віктор Володимирович, Конакова Раїса Василівна, Редько Роман Анатолійович

МПК: G01N 23/20, G01R 31/27

Мітки: спосіб, основі, ненадійних, структур, відбраковування, gаas, гомоепітаксійних, потенційно

Формула / Реферат:

Спосіб відбраковування потенційно ненадійних гомоепітаксійних структур на основі GaAs та ІnР, що базується на вимірюванні спектрів оптичного відбиття в інтервалі довжин хвиль 900-1200 нм, який відрізняється тим, що контрольовані структури після вимірювання спектра оптичного відбиття додатково піддають впливу імпульсного магнітного поля з індукцією 50-70 мТл, тривалістю імпульсу 1,0-4,0 мс, частотою слідування імпульсів 10-20 Гц і тривалістю...

Номер патенту: 90081

Опубліковано: 12.04.2010

Автори: Челмерс Алекс, Ротшільд Пітер, Адамс Уільям, Гродзінс Лі, Періч Льюіс У.

МПК: G01V 5/00, G01N 23/20

Мітки: мобільного, автомобіль-фургон, допомогою, зворотним, випромінювання, розсіюванням, контролю, рентгенівського

Формула / Реферат:

1. Система контролю для огляду об'єкта, яка включає прикладний засіб пересування, який характеризується вміщувальним корпусом, джерело проникного випромінювання, яке повністю міститься у корпусі прикладного засобу пересування, для генерації проникного випромінювання, просторовий модулятор для формування проникного випромінювання у пучок для опромінення об'єкта зі змінним у часі скануючим профілем, детекторний модуль, який повністю міститься...

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Носик Валєрій Лєонідовіч, Молодкін Вадим Борисович, Айс Джин Емері, Білоцька Алла Олексіївна, Сторижко Володимир Юхимович, Карнаухов Іван Михайлович, Гинько Ігор Володимирович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Оліховський Степан Йосипович, Первак Катерина Вадимівна, Шпак Анатолій Петрович, Барабаш Роза Ісаківна, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Віталій Вадимович, Лень Євген Георгійович, Булавін Леонід Анатолійович, Кисловський Євген Миколайович, Татаренко Валентин Андрійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: декількома, спосіб, структурної, багатопараметричної, типами, дефектів, діагностики, монокристалів

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Номер патенту: 88855

Опубліковано: 25.11.2009

Автори: Бондар Володимир Йосипович, Семирга Олександр Михайлович, Делідон Руслан Миколайович, Данільченко Віталій Юхимович

МПК: G01N 23/20

Мітки: сплавах, визначення, мартенситної, фазі, об'ємної, частки, спосіб, заліза, основі

Формула / Реферат:

Спосіб визначення об'ємної частки мартенситної фази в сплавах на основі заліза, який включає установку зразка сплаву на гоніометрі рентгенівського дифрактометра, опромінення його пучком характеристичних рентгенівських променів, реєстрацію дифракційних рентгенівських рефлексів від кристалографічних площин аустенітної і мартенситної фаз, вимірювання їх інтегральної інтенсивності, який відрізняється тим, що реєстрацію дифракційних...

Номер патенту: 88419

Опубліковано: 12.10.2009

Автори: Данільченко Віталій Юхимович, Кондратьєв Сергій Павлович, Бондар Володимир Йосипович

МПК: G01N 23/20

Мітки: орієнтації, визначення, кристалографічно, спосіб, монокристала

Формула / Реферат:

Спосіб визначення кристалографічної орієнтації монокристала, який включає нерухоме закріплення монокристала в гоніометричній головці рентгенівської камери обертання, опромінення монокристала пучком немонохроматизованих характеристичних рентгенівських променів, реєстрацію дифракційної картини монокристала, що обертається, побудову його полюсної фігури і визначення кутового положення кристалографічних площин, який відрізняється тим, що...

Номер патенту: 86246

Опубліковано: 10.04.2009

Автори: Глибицький Геннадій Марксович, Красницька Алла Абрамівна

МПК: G01N 23/20, C09K 19/38

Мітки: нуклеїнову, кислоту, речовини, впливу, визначення, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб визначення впливу речовини на нуклеїнову кислоту, що передбачає формування рідиннокристалічної дисперсії з нуклеїнової кислоти, який відрізняється тим, що шляхом висушування розчину суміші нуклеїнової кислоти й речовини формують рідиннокристалічну дисперсію та одержують плівку з відповідними текстурами і по величині відношення площі текстур на плівці до площі всієї плівки роблять висновок про вплив речовини.

Номер патенту: 36075

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Ковальчук Михайло Валентинович, Лень Євген Георгійович, Первак Катерина Вадимівна, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Віталій Вадимович, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Гинько Ігор Володимирович, Білоцька Алла Олексіївна, Низкова Ганна Іванівна, Кисловський Євген Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: дефектів, структурної, декількома, типами, діагностики, спосіб, багатопараметричної, монокристалів

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...

Номер патенту: 82219

Опубліковано: 25.03.2008

Автори: Черкасов Олексій Володимирович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Василенко Євген Сергійович, Лісовой Георгій Миколайович, Азарян Альберт Арамаісович

МПК: G01N 23/20

Мітки: проб, гамма-гамма, руд, кювета, порошкових, методом, випробування

Формула / Реферат:

Кювета для випробування порошкових проб руд гамма-гамма-методом, виготовлена у вигляді місткості циліндричної форми із алюмінію, яка відрізняється тим, що кювета має глибину, яка дорівнює , та товщину дна, яка дорівнює , при цьому:

Номер патенту: 27578

Опубліковано: 12.11.2007

Автори: Казьоннова Ніна Іванівна, Мороз Микола Георгійович, Кочергін Олександр Васильович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, щільності, неоднорідностей, пошуку, речовини

Формула / Реферат:

Спосіб пошуку неоднорідностей щільності речовини, що включає реєстрацію зворотно-розсіяного γ-випромінювання та режими калібрування і пошуку, а алгоритм вимірювання параметрів сигналу та обробки їх процесором має поріг спрацьовування, який відрізняється тим, що в цей алгоритм введені додаткові пороги спрацьовування верхні  та нижні

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Шпак Анатолій Петрович, Когут Михайло Тихонович, Григор'єв Данило Олегович, Барабаш Роза Ісаківна, Білоцька Алла Олексіївна, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович, Гинько Ігор Володимирович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, монокристалів, досконалості, визначення, структурної

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Номер патенту: 78353

Опубліковано: 15.03.2007

Автори: Азарян Альберт Арамаісович, Василенко Євген Сергійович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Лісовой Георгій Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: порошкових, руд, металів, спосіб, важких, пробах, вмісту, чорних, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд, що включає засипання матеріалу проби в кювету, ущільнення матеріалу проби в кюветі тиском на його поверхню, установку кювети з пробою у зону опромінення на задані відстані від джерела випромінювання і детектора випромінювання, опромінення матеріалу проби гамма-випромінюванням джерела, реєстрацію детектором інтенсивності розсіяного матеріалом проби випромінювання і, за...

Номер патенту: 78018

Опубліковано: 15.02.2007

Автори: Шведов Леонід Костянтинович, Добровольський Валентин Давидович, Новіков Микола Васильович

МПК: G01N 23/20

Мітки: рентгеноструктурного, аналізу, добровольським-шведовим, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб рентгеноструктурного аналізу, за яким рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі, досліджуваний зразок встановлюють на столі гоніометра, опромінюють його пучком рентгенівських променів і реєструють інтенсивність дифрагованих променів за допомогою детектора, який відрізняється тим, що рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі із поворотом навколо своєї осі на 90°, отримують прямокутну проекцію фокальної плями та реєструють...

Номер патенту: 77223

Опубліковано: 15.11.2006

Автори: Новиков Микола Миколайович, Макара Володимир Арсенійович, Теселько Петро Олексійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, оцінки, досконалості, кристалів, структурної, інтегральної

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що включає реєстрацію рентгенівської двокристальної дифрактограми, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують криву коливання в геометрії Брегга, реєструють максимальне значення її інтенсивності  та її ширину поблизу підніжжя на рівні

Номер патенту: 11811

Опубліковано: 16.01.2006

Автори: Азарян Альберт Арамаісович, Василенко Євген Сергійович, Лісовой Георгій Миколайович, Василенко Вячеслав Євгенійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: пробах, чорних, порошкових, важких, спосіб, вмісту, визначення, металів, руд

Формула / Реферат:

Спосіб визначення вмісту чорних і важких металів у порошкових пробах руд, що включає засипання матеріалу проби в кювету, ущільнення матеріалу проби в кюветі тиском на його поверхню, установку кювети з пробою у зону опромінення на задані відстані від джерела випромінювання і детектора випромінювання, опромінення матеріалу проби гама-випромінюванням джерела, реєстрацію детектором інтенсивності розсіяної матеріалом проби випромінювання і, за її...

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Григор'єв Данило Олегович, Молодкін Вадим Борисович, Гинько Ігор Володимирович, Низкова Ганна Іванівна, Когут Михайло Тихонович, Барабаш Роза Ісаківна, Шпак Анатолій Петрович, Білоцька Алла Олексіївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: визначення, монокристалах, товщини, механічної, спосіб, обробки, порушеного, поверхневого, шару

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...

Номер патенту: 4680

Опубліковано: 17.01.2005

Автори: Добровольський Валентин Давидович, Шведов Леонід Костянтинович, Новіков Микола Васильович

МПК: G01N 23/20

Мітки: добровольським-шведовим, спосіб, аналізу, рентгеноструктурного

Формула / Реферат:

Спосіб рентгеноструктурного аналізу, згідно з яким рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі, досліджуваний зразок встановлюють на столі гоніометра, опромінюють його пучком рентгенівських променів і реєструють інтенсивність дифрагованих променів за допомогою детектора, який відрізняється тим, що рентгенівську трубку розміщують на дифрактометрі так, щоб забезпечити прямокутну проекцію фокальної плями і дефокусування дифрагованих...

Номер патенту: 62553

Опубліковано: 15.12.2003

Автори: Соломон Андрій Михайлович, Лавріненко Валерій Іванович, Пуга Павло Павлович, Проц Лариса Анатоліївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: контролю, якості, спосіб, кристалу

Формула / Реферат:

1. Спосіб контролю якості кристалу, який включає опромінення поверхні досліджуваного та еталонного кристалів монохроматичним рентгенівським променем та зняття кривих качання шляхом вимірювання інтенсивності відбитого рентгенівського променя при різних кутах повороту пучка відносно кристала та порівняння кривих качання, який відрізняється тим, що еталонний та досліджуваний кристали зішліфовують з утворенням площин з ідентичною...

Номер патенту: 42618

Опубліковано: 17.11.2003

Автори: Новиков Микола Миколайович, Ременюк Петро Іванович, Теселько Петро Олексійович, Сушко Володимир Георгійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: оцінки, інтегральної, структурної, спосіб, досконалості, кристалів

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...

Номер патенту: 59495

Опубліковано: 15.09.2003

Автор: Кумахов Мурадін Абубєкіровіч

МПК: G01N 23/20, G01N 1/04

Мітки: рентгенівський, комплекс, вимірювально-випробувальний

Формула / Реферат:

1. Вимірювально-випробувальний комплекс для досліджень в рентгенівському діапазоні випромінювання одночасно на кількох аналітичних установках, який містить джерело випромінювання, канали транспортування випромінювання до аналітичних установок і апаратуру аналітичних установок (5), який відрізняється тим, що як джерело випромінювання він містить джерело (1) розбіжного рентгенівського випромінювання, принаймні один канал транспортування...

Номер патенту: 44121

Опубліковано: 15.01.2002

Автори: Остафійчук Богдан Костянтинович, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Лень Євген Георгійович, Владімірова Тетяна Петрівна, Решетник Олег Васильович, Оліховський Степан Йосипович, Шпак Анатолій Петрович, Немошкаленко Володимир Володимирович

МПК: G01N 23/20, G01N 23/00

Мітки: структурної, монокристалів, контролю, спосіб, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...

Номер патенту: 34988

Опубліковано: 15.03.2001

Автори: Костецький Олексій Михайлович, Романюк Микола Миколайович, Кравців Роман Йосипович

МПК: G01T 1/202, G01N 23/20

Мітки: пристрій, оптичний, дози, іонізуючого, потужності, вимірювання, інтегральної, випромінювання

Формула / Реферат:

1. Оптичний пристрій для вимірювання потужності та інтегральної дози іонізуючого випромінювання, що складається з джерела світла, оптичного датчика радіації, відрізняється тим, що в нього введено чутливий елемент, виготовлений з оптично прозорого анізотропного кристалу у вигляді плоскопаралельної пластинки, та установки для вимірювання оптичного двозаломлення на експериментально встановленій фіксованій довжині хвилі, що відповідає...

Номер патенту: 34891

Опубліковано: 15.03.2001

Автори: Цибулевський Юрій Євгенович, Азарян Альберт Арамаісович, Константінов Григорій Вікторович, Василенко В'ячеслав Євгенович

МПК: G01V 5/00, G01N 23/20

Мітки: корисного, контролю, стрічці, компонента, вмісту, спосіб, конвейєрний, гірничий, маси

Формула / Реферат:

Спосіб контролю вмісту корисного компонента в гірничій масі на конвеєрній стрічці, який полягає у тому, що поверхню гірничої маси на конвеєрі розрівнюють підвісним пристроєм, на якому встановлені джерело та детектор гамма-квантів, періодично вимірюють інтенсивність зворотно-розсіяного гірничою масою потоку гамма-квантів і за його величиною визначають вміст корисного компонента у мінеральній сировині, який відрізняється тим, що після...

Номер патенту: 32987

Опубліковано: 15.02.2001

Автори: Коложварі Марія Василівна, Шпирко Григорій Миколайович, Богданова-Борець Олександра Василівна

МПК: G01N 23/20, C30B 33/00

Мітки: спосіб, монокристалу, орієнтування

Текст:

...згідно винаходу, на монокристалі виконують принаймні дві пари паралельних зрізів , визначають взаємне розміщення виконаних зрізів , розділяють монокристал на дві частини, кожна з яких містить принаймні два непаралель-них зрізи, після чого визначають просторове положення по відношенню -до кристалографічних напрямків монокристалу зрізів однієї , переваж 2. но, меншої частини монокристалу 1 по ньому судять про орієнтацію зрізів на другій...

Номер патенту: 31875

Опубліковано: 15.12.2000

Автори: Яковлєва Світлана Вячеславівна, Азарян Альберт Арамаісович, Василенко Вячеслав Євгенійович, Смолянський Павло Станиславович

МПК: E21C 39/00, G01N 23/20

Мітки: спосіб, контролю, маси, стрічці, конвейєрний, гірничий, компоненту, корисного, вмісту

Текст:

...та про товщину d шара сировиини на стрічці, а з-за явища кутової анізотропії характер залежності N2, розсіяного на кут 60° випромінювання, від q та d, відрізняється від характеру залежності інтенсивності N/ випромінювання, розсіяного на кут 90°, від тих же параметрів, т.б. NrM2, і в результаті є дві величини інтенсивності випромінювання, кожна з яких по своєму характеризує вміст корисного компоненту q в сировині і величиину d шару...

Номер патенту: 19220

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Немошкаленко Володимир Володимирович, Бідник Дмитро Ілліч, Ковальчук Михайло Валентинович, Кшевецький Станіслав Антонович, Гуреєв Микола Анатолійович, Когут Михайло Тихонович, Остапчук Анатолій Іванович, Кисловський Євген Миколайович, Литвинов Юрій Михайлович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Низкова Ганна Іванівна, Гуреєв Анатолій Миколайович, Осиновський Максим Євгенович, Поленур Олександр Вольфович, Оліховський Степан Йосифович, Кривицький Владислав Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Шпак Анатолій Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: визначення, розсіюючих, монокристалів, структурної, досконалості, спосіб, динамічної

Формула / Реферат:

Способ определения структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно котором исследуемый образец облучают полихроматическим пучком рентгеновского излучения и измеряют интегральную интенсивность рефлексов при дифракции излучения для двух положений при повороте образца и определяют статический фактор Дебая-Валлера Lн, отличающийся тем, что дифракцию излучения в обоих положениях образца осуществляют в геометрии Брэгга,...

Номер патенту: 19490

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Юрлов Владислав Михайлович, Поляков Анатолій Євгенович, Федчук Олександр Петрович, Руденко Руслана Олександрівна

МПК: G01N 23/20, A61P 9/10, G01N 33/49, G01N 1/40 ...

Мітки: атерогенних, діагностики, спосіб, дісліпідемій

Формула / Реферат:

Способ диагностики атерогенных дислипидемий, включающий приготовление на подложке липидной фракции плазмы крови с участками кристаллизации, отличающийся тем, что в липидной фракции плазмы крови посредством лазерной дифрактометрии определяют среднюю арифметическую величину участков кристаллизации (D) и при значении D £ 16,3 мкм устанавливают отсутствие атерогенной дислипидемии, а при значении D>16,3 мкм - ее наличие.

Номер патенту: 20094

Опубліковано: 25.12.1997

Автори: Гаврилова Олена Миколаївна, Низкова Ганна Іванівна, Немошкаленко Володимир Володимирович, Гурєєв Анатолій Миколайович, Лось Андрій Вікторович, Когут Михайло Тихонович, Оліховський Степан Йосипович, Кривицький Владислав Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Кисловський Євген Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, монокристалів, контролю, досконалості, динамічної, експресного, спосіб, розсіюють

Формула / Реферат:

Способ экспрессного контроля структурного совершенства динамически рассеивающих монокристаллов, согласно которому исследуемый образец облучают пучком рентгеновского излучения, осуществляют брэгг-дифракцию, измеряют интегральную интенсивность отражения, поворачивают образец таким образом, чтобы реализовалось брэгг-отражение, характеризующееся тем же вектором дифракции, измеряют его интегральную интенсивность, рассчитывают по измеренным...

Номер патенту: 20840

Опубліковано: 07.10.1997

Автори: Азарян Альберт Арамаісович, Серебреніков Вадим Михайлович, Красуля Олександр Сергійович, Азарян Володимир Альбертович

МПК: G01N 23/20

Мітки: сировини, пристрій, спосіб, переробці, конвеєрі, оперативного, реалізації, мінеральної, технологічними, контролю, управління, параметрами

Формула / Реферат:

1. Способ оперативного контроля и управления технологическими параметрами при переработке минерального сырья на конвейере заключается в том, что контролируемую горную массу облучают источником ионизирующего излучения, регистрируют интегральный поток обратно-рассеянного излучения, по которому определяют содержание полезного компонента, отличающийся тем, что непрерывно контролируют содержание полезного компонента в горной массе, активную...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Низкова Ганна Іванівна, Кисловський Євген Миколайович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Оліховський Степан Йосипович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Молодкін Вадим Борисович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Шпак Анатолій Петрович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Гинько Ігор Володимирович, Грищенко Тарас Аркадійович, Когут Михайло Тихонович

МПК: G01N 23/20

Мітки: спосіб, монокристалів, контролю, структурної, досконалості

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...

Номер патенту: 10780

Опубліковано: 25.12.1996

Автори: Бизов Володимир Федорович, Азарян Альберт Арамоисович

МПК: G01N 23/20

Мітки: сировини, конвейері, компонента, мінеральний, технологічного, вмісту, пристрій, оперативного, спосіб, контролю, реалізації, корисного

Формула / Реферат:

1. Способ оперативного технологического контроля содержания полезного компонента в ми­неральном сырье на конвейере, заключающийся в том, что контролируемую горную массу облучают источником ионизирующего излучения, регистри­руют интегральный поток обратно рассеянного из­лучения, по которому определяют содержание полезного компонента, отличающийся тем, что регистрируют отраженные на малые углы гамма-кванты при горизонтальном L ³ 0,5 Дк...

Номер патенту: 5255

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Утенкова Ольга Володимирівна, Харитонов Арнольд Вікторович, Греков Олексій Анатолієвич, Данільченко Віталій Юхимович

МПК: G01N 23/20

Мітки: ренгенівська, камера-монохроматор

Формула / Реферат:

1. Рентгеновская камера-монохроматор, со­держащая подставку, цилиндрическую кассету, коллиматор и ловушку, установленные на кас­сете, гониометрическую головку, ось враще­ния которой совпадает с осью кассеты, кристалл-монохроматор, закрепленный в кристаллодержателе, отличающаяся тем, что, с целью повышения производительности, кристаллохроматор выполнен сменным и смонтиро­ван на выходном конце коллиматора, установленного с возможностью...

Номер патенту: 5035

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Охрименко Микола Микитович, Тіхонов Леонід Володимирович, Харькова Галина Василівна, Белоцька Ала Олексіївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: кососиметричних, трансмісіонній, рентгенівський, топографії, спосіб, зйомок

Формула / Реферат:

Способ кососимметричных съемок в рентгено­вской трансмиссионной топографии, включающий установку кристалла известной ориентации в де­ржателе на оси гониометра, предварительную его ориентировку, при которой нормаль поверхности кристалла и нормаль отражающей плоскости выво­дят в плоскость, содержащую ось гониометра, вы­вод отражающей плоскости в кососимметричное брэгговское положение, облучение входной повер­хности кристалла пучком...

Номер патенту: 5036

Опубліковано: 28.12.1994

Автори: Тіхонов Леонід Володимирович, Харькова Галина Василівна, Белоцька Ала Олексіївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: походження, широкому, спосіб, методом, зйомок, рентгенівському, аномального, пучці, кососиметричний

Формула / Реферат:

Способ кососимметричных съемок в широком рентгеновском пучке по методу аномального про­хождения, включающий установку кристалла из­вестной ориентации в держателе на оси гониометра, предварительную его ориентировку, при которой нормаль поверхности кристалла и нормаль отражающей плоскости выводят в плос­кость, содержащую ось гониометра, вывод отража­ющей плоскости в кососимметричное брэгговское положение, облучение входной поверхности...