Теселько Петро Олексійович

Номер патенту: 104951

Опубліковано: 25.03.2014

Автори: Теселько Петро Олексійович, Бурбело Роман Михайлович, Андрусенко Дмитро Анатолійович, Титаренко Альона Ігорівна

МПК: G01N 29/00, G01N 21/17

Мітки: дослідження, спосіб, пристрій, фотоакустичного, здійснення, зразків

Формула / Реферат:

1. Спосіб фотоакустичного дослідження зразків, який полягає в тому, що зразок розміщують всередині фотоакустичної комірки та опромінюють модульованим світлом, чим періодично нагрівають його поверхню, а створений в результаті нагріву за рахунок теплопередачі змінний тиск газу передають по з'єднувальному каналу в мікрофонну камеру, який відрізняється тим, що частину розсіяного зразком світла каналюють в стінках з'єднувального каналу та...

Номер патенту: 48795

Опубліковано: 12.04.2010

Автори: Теселько Петро Олексійович, Новиков Микола Миколайович, Михалюк Ольга В'ячеславівна

МПК: H01L 21/02

Мітки: кремнії, спосіб, гетерування, кисневмісних, домішок

Формула / Реферат:

Спосіб гетерування кисневмісних домішок у кремнії, що включає відпал пластин у температурній області їх кисневого пересичення, який відрізняється тим, що пластини вводять в напружений стисканням стан, після чого здійснюють їх відпал при температурі 500-700 °С.

Номер патенту: 77223

Опубліковано: 15.11.2006

Автори: Теселько Петро Олексійович, Макара Володимир Арсенійович, Новиков Микола Миколайович

МПК: G01N 23/20

Мітки: інтегральної, оцінки, кристалів, спосіб, структурної, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що включає реєстрацію рентгенівської двокристальної дифрактограми, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують криву коливання в геометрії Брегга, реєструють максимальне значення її інтенсивності  та її ширину поблизу підніжжя на рівні

Номер патенту: 42618

Опубліковано: 17.11.2003

Автори: Теселько Петро Олексійович, Новиков Микола Миколайович, Ременюк Петро Іванович, Сушко Володимир Георгійович

МПК: G01N 23/20

Мітки: оцінки, спосіб, кристалів, структурної, досконалості, інтегральної

Формула / Реферат:

Спосіб інтегральної оцінки структурної досконалості кристалів, що полягає в реєстрації рентгенівської дифрактограми та визначенні ступеня досконалості кристала з відношення інтенсивностей розсіяння променів, який відрізняється тим, що від поверхні досліджуваного кристала записують трикристальну рентгенівську дифрактограму по методу Брегга в області кута повороту зразка a, при якому роздільно спостерігають дифузний та головний максимуми...