Підсилювач деформації

Підсилювач деформації, що містить розташовані в спільній площині дві консольно закріплені пластини з односторонніми прямокутними виступами, які розташовані з утворенням поперечних зазорів і з'єднані між собою чутливими елементами, який відрізняється тим, що поперечні зазори між суміжними виступами пластин мають різну величину. (19) (21) u200807492 (22) 02.06.2008 (24) 27.10.2008 (46) 27.10.2008, Бюл.№ 20, 2008 р. (72) БОБИР МИКОЛА ІВАНОВИЧ, U A, ТРИВАЙЛО МИ ХАЙЛО СЕМЕНОВИЧ, UA, ГРАБОВСЬКИЙ АН АТОЛІЙ ПАВЛОВИЧ, UA (73) НАЦІОН АЛЬНИЙ ТЕХНІЧНИЙ УНІВЕРСИТЕТ УКРАЇНИ "КИЇВСЬКИЙ ПОЛІТЕХНІЧНИЙ ІНСТИТУТ", U A 3 36512 4 3, 4, які розташовані в передбачених для цієї мети d2 , d3 відповідно в А/d1, А/d2, А/d3 разів. При цьому, на пластинах прямокутних впадинах 5, 6. Виступи чутливі елементи 7 отримують різну відносну де3, 4 розташовані з утворенням між собою різної формацію, а тому працюють і з різними коефіцієнвеличини поперечних зазорів d1, d2, d3 , яке досягатами підсилення, рівними також відношенням А/d1, ється виконанням виступів 4 пластини 2 різної доА/d2, А/d3 . Внаслідок цього, діапазони чутливості вжини с1, с2. Суміжні виступи 3, 4 в зонах зазорів різних чутливи х елементів 7 змінюються по ампліd1 , d2, d3 з'єднані між собою чутливими елементатуді коливань: діапазон чутливості тензорезистоми (тензорезисторами) 7. рів, що працюють з більшим коефіцієнтом підсиПластини 1, 2 консольно закріплені на базі А лення зміщується в сторону малих деформацій, а за допомогою прокладок 8 на поверхні досліджудіапазон чутли вості тензорезисторів, що працюють ваної деталі (конструкції) 9. з меншим коефіцієнтом підсилення, зміщується в Працює ПД наступним чином. При циклічному сторону великих деформацій. навантаженні досліджуваної деталі 9 деформація Зміщення діапазонів чутливості окремих тенбази А передається з прокладок 8 жорсткими плазорезисторів внаслідок різної, замість однакової в стинами 1, 2 через виступи 3, 4 на чутливі елеменпрототипі, величини зазорів "d1, d2, d3" між вистути 7, які деформуються на участках d1, d2 , d3 на пами 3, 4 пластин 1, 2 збільшує загальний діапатаку ж величину. Деформація чутливи х елементів зон вимірюваних деформацій та підвищує точність приводить до зміни їх початкового електричного вимірювання, що приводить до зростання експлуопору, по якому визначають деформації досліджуатаційних можливостей ПД, а отже, і до розшиваної деталі та накопичення викликаних ними порення області використання. шкоджень. Так як деформація бази А повністю передається чутливим елементам 7, то відбувається збільшення деформації цих елементів на участках d1, Комп’ютерна в ерстка В. Мацело Підписне Тираж 28 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601