Пристрій для випробування на зрушення зразків матеріалів при низьких температурах
Номер патенту: 11107
Опубліковано: 25.12.1996
Автори: Гуріна Тетяна Михайлівна, Осецький Олександр Іванович
Текст
1. Устройство для испытания на сдвиг образцов материалов при низких температурах, содержащее криостат. размещенные в нем подвижный и неподвижный захваты для образца и соответствующие им полую активную и размещенную коаксиально ей эталонную тяги, средства измерения деформации, и средства измерения и изменения температуры, о т л и ч а ю щ е е е с я тем, что подвижный захват выполнен в виде связанной с активной тягой втулки с уступом для размещения образца и коаксиальной ей цилиндрической приставки, один конец которой предназначен для контакта с образцом, а д р у г о й - с а к т и в н о й т я г о й , а неподвижный захват выполнен в виде цилиндра с выступом на торце, расположенным в одной плоскости с уступом активного захвата и установленный коаксиально первой, второй проставки, один торец которой предназначен для взаимодействия с образцом, а другой - для контакта с пассивной тягой. (20)94321671,22 03.93 (21)4900524/SU (22)08.01 91 (24)25.12.96 (46)25.12.96. Бюл. №4 (56) 1. Бернер Р., Кронмюллер Г. Пластическая деформация монокристаллов. М., 1969, с. 23-25. 2. Пустовалов В.В. Методы изучения пластичности и прочности твердых тел при низких температурах. Киев, Наукова Думка, 1971, с. 18-20,28-35 3. Вугли Д.А. Механические свойства материалов при низких температурах. М , Мир, 1974. с. 299-303 4 Бернер Р., Кронмюллер Г. Пластическая деформация монокристаллов. М., Мир, 1969, с. 25-26. 5 Пустовалов В.В. Методы изучения пластичности и прочности твердых тел при низких температурах Киев, Наукова думка, 1971, с. 79-81. 6. Осецький А И. Солдатов В.А. Установка для изучения низкотемпературной ползучести металлов в режиме резко меняющихся температур - Сб • Приборы для физических исследований. Киев, Наукова думка, 1974, с 175-180 (прототип) (72) Осецький Олександр Іванович, Гуріна Тетяна Михайлівна 2 Устройство п о п . 1 , о т л и ч а ю щ е е с я тем, что оно снабжено герметичной ячейкой, размещенной между уступами захватов и соответствующими торцами проста вок. Изобретение относится к измерительной технике и может быгь использовано для исследования механических свойств замороженных растворов и биологических систем Известно устройство для изучения механических свойств материалов при низких температурах, в которых исследуемые образцы деформируются растяжением. Деформируемый образец, закрепленный в специальных захватах, помещают в криостат испытательной машины. Захват, удерживающий нижний конец образца, закреплен непод С 11107 вижно на опорной колонне, а захват, удерживающий верхний конец образца, шарнири о соединен с тянущим штоком, передающим поступательное движение от редуктора к образцу [1]. Недостатком этого устройства является то, что деформация растяжения образца измеряется при строго фиксированной температуре образца, зависящей от температуры хладагента, заполняющего криостат. Наиболее близкой к заявляемому устройству является установка для изучения ползучести кристаллов в условиях чистого сдвига при низких температурах. Установка включает криостат, в котором размещены деформирующее устройство, состоящее из подвижного и неподвижного фигурных захватов для образца, полой активной тяги, дифференциальное устройство для измерения деформации, включающее индуктивный датчик, нагревательные элементы для изменения температуры и система регистрации температуры [6]. Недостатком устройства является то, что оно не позволяет получать точную информацию о механических свойствах растворов и биосистем и исследовать образцы, находящиеся в жидкофазпом состоянии. Это обусловлено несовершенной конструкцией захватов. В силу высокой гетерогенности растворов и биологических систем в них при охлаждении и кристаллизации возникают значительные термоупругие напряжения, приводящие к микрорастрескиванию исследуемых образцов. При приложении внешней нагрузки происходит разрушение образцов по образовавшимся трещинам, что значительно снижает точность измерений и препятствует определению истинных пластических характеристик отдельных кристаллов или сплошных блоков. Задачей изобретения явпяется создание такого устройства для испытания на сдвиг образцов материалов при низких температурах, в котором путем изменения конструкции захватов можно было бы избежать разрушения образцов и, таким образом, повысить точность измерения его механических характеристик. Эта задача решается тем, что D устройстве для испытаний на сдвиг образцов материалов при низких температурах, содержащем криостат, размещенные в нем подвижный и неподвижный захваты для образца и соответствующие им полую активную и размещенную коэксиально ей эталонную тяги, средства измерения деформации и средства измерения и изменения температуры, согласно изобретению подвижный захват выполнен в виде связанной с активной тя 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 гой втулки с уступом для размещения образца и коаксиальной ей цилиндрической простаоки, один конец которой предназначен для контакта с образцом, а другой - с активной тягой, а неподвижный захват выполнен о виде цилиндра с выступом на торце, расположенным в одной плоскости с уступом активного захвата, и установленной коаксиально первой второй проставки, один торец которой предназначен для взаимодействия с образцом, а другой-для контакта с пассивной тягой. Кроме того, устройство снабжено герметичной ячейкой, размещенной между уступами захватов и соответствующими торцами проставок. Конструкция за.-.ватов в заявляемом устройстве позволяете высокой точностью исследовать пластические характеристики объекта за счет того, что зазор Д h между деформирующими цилиндрическими проставками можно уменьшать до значений в несколько микрон, т.е. до величины, заведомо меньшей размера отдельных кристаллов. В результате пластическая деформация всего образца возможна только при деформации каждого отдельного кристаллита, находящегося в зоне сдвига. В этом случае отдельные микротрещины не влияют на регистрируемые значения упругопластических характеристик кристаллитов, что резко снижает погрешность измерений и повышает точность информации о фазовых и структурных состояниях исследуемых замороженных растворов и биосистем. Заявляемое устройство схематически изображено на фиг. 1. \ia фиг. 2 изображен фрагмент полной сборки герметичной ячейки. Устройство включает опорную колонну 1, на которой неподвижно закреплен цилиндр 2 с выступом на торце. Коаксиалыю цилиндру 2 расположена подвижная первая цилиндрическая проставка 3, неподвижная вторая цилиндрическая простаяка 4 и втулка 5 с уступом для размещения образца. Выступ цилиндра 2 находится в ОДНОЙ плоскости с уступом 5. Первая проставка 3 с помощью прижимного фонаря 6 и фиксатора 7 мембраны крепится неподвижно относительно втулки 5. Вторая проставка 4 с помощью гайки 8 и распорного фторопластового кольца 9 неподвижно фиксируется относительно цилиндра 2, Верхний конец первой проставки 3 предназначен для контакта с активной тягой 10, а ее нижний конец - для контакта с образцом. Верхний торец второй лростзвки 4 предназначен для взаимодействия с образцом, а ее нижний торец - для контакта с эталонной пассивной тягой 11107 11. Пассивная тяга 11 размещена коэксиально активней тяге 10. Прижимной фонарь 6 с помощью активной тяги 10 связан с механизмом нагружения 12, который обеспечивает вертикальное перемещение первой проставки 3 и втулки 5 относительно цилиндра 2 и второй проставки 4 и служит для приложения внешней нагрузки F к исследуемому образцу. Втулка 5, коаксиальная ей первая проставка 3 и активная тяга 10 образуют подвижный захват устройств?, а цилиндр 2, вторая проставка 4 и пассивная тяга 11 составляют неподвижный захват. Для ограничения соскальзывания первой проставкиЗи втулки 5 вниз а момент сборки устройства предусмотрен упор 13, который крепится фиксатором 14 для предотвращения проворачивания втулки 5 относительно цилиндра 2 при фиксировании в ней первой проставки 3 с помощью прижимного фонаря 6. Для изучения охлаждаемых клеточных суспензий и растворов имеется специальная герметичная ячейка 15, размещенная между уступами захватов и соответствующими торцами проставок: нижним торцом первой проставки 3 и верхним торцом второй проставки 4. В герметичной ячейке 15 предусмотрены две тонкие резиновые ограничительные мембраны 16 и 17. Мембрана 16 крепится на первой проставке 3 при помощи фиксатора 7 мембраны, а мембрана 17 - на тонком металлическом каркасе 18 при помощи фиксатора 19 мембраны. На цилиндре 2 мембрана 17 фиксируется распорным кольцом 9. Для удаления излишков раствора, образующегося при его кристаллизации, в каркасе 18 предусмотрены технологические отверстия 20. Температура образца измеряется термометром 21 сопротивления и изменяется с помощью нагревателя 22 и криостата 22 с криогенной жидкостью, омывающей і орпус камеры, в которой расположено устройство. Для контроля температурного режимі чувствительный элемент термометра 21 сопротивления устанавливается в непосредственной близости от исследуемого образца, для чего в цилиндре 2 вдоль ЄІО осы выполнено отверсп>а24. Программа охлаждения или нагрева образца при этом задается и контролируется с помощью автомагического регуляторастабипизатора 25 температуры (РСТ) Измерение деформации замороженного образца осуществляется с помощью дифференциально включенного индуктивного датчика 26 линейных перемещений. Корпус этого датчика с помощью кронштейна 27 связан с активной тягой 10, а его сердечник с помощью кронштейна 28 и эталонной пас 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 сивной тягой 11. Приложение нагрузки F к этой тяге производится с помощью дополнительной и независимой ступени общего механизма 12 нагружения. Сигнал от датчика 26 перемещений подается на двухкоордимзтный графопостроитель 29 При регистрации деформационных криеых О = (J{t) где
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюDevice for testing material samples on shear at low temperatures
Автори англійськоюOsetskyi Oleksandr Ivanovych, Hurina Tetiana Mykhailivna
Назва патенту російськоюУстройство для испытания на сдвиг образцов материалов при низких температурах
Автори російськоюОсецкий Александр Иванович, Гурина Татьяна Михайловна
МПК / Мітки
Мітки: пристрій, температурах, матеріалів, випробування, зразків, низьких, зрушення
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/6-11107-pristrijj-dlya-viprobuvannya-na-zrushennya-zrazkiv-materialiv-pri-nizkikh-temperaturakh.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для випробування на зрушення зразків матеріалів при низьких температурах</a>
Попередній патент: Піддон
Наступний патент: Прес
Випадковий патент: Спосіб визначення стійкості винограду до філоксери