Патенти з міткою «х-променевого»
Спосіб визначення величини деформаційних полів кристала на основі х-променевого муарового зображення в кремнієвому lll-інтерферометрі
Номер патенту: 121378
Опубліковано: 11.12.2017
Автори: Литвин Петро Мар'янович, Яремчук Іванна Володимирівна, Баловсяк Сергій Васильович, Фодчук Ігор Михайлович
МПК: G06F 17/00, G01T 1/16, G06F 17/17 ...
Мітки: полів, lll-інтерферометрі, величини, визначення, кристала, спосіб, кремнієвому, деформаційних, муарового, зображення, х-променевого, основі
Формула / Реферат:
Спосіб визначення величини деформаційних полів кристала на основі розподілу інтенсивності Х-променевого муарового зображення f, отриманого в кремнієвому LLL-інтерферометрі, який полягає в тому, що для отримання фазового муару в інтерферометрі встановлюють однорідну клиноподібну пластину, на основі цифрового муарового зображення f обчислюють енергетичний спектр Фур'є Ps та його радіальний розподіл FR, а значення максимальної зосередженої сили...