Патенти з міткою «муарового»
Спосіб визначення величини деформаційних полів кристала на основі х-променевого муарового зображення в кремнієвому lll-інтерферометрі
Номер патенту: 121378
Опубліковано: 11.12.2017
Автори: Фодчук Ігор Михайлович, Литвин Петро Мар'янович, Яремчук Іванна Володимирівна, Баловсяк Сергій Васильович
МПК: G06F 17/00, G01T 1/16, G06F 17/17 ...
Мітки: lll-інтерферометрі, деформаційних, визначення, величини, кремнієвому, кристала, спосіб, основі, муарового, х-променевого, полів, зображення
Формула / Реферат:
Спосіб визначення величини деформаційних полів кристала на основі розподілу інтенсивності Х-променевого муарового зображення f, отриманого в кремнієвому LLL-інтерферометрі, який полягає в тому, що для отримання фазового муару в інтерферометрі встановлюють однорідну клиноподібну пластину, на основі цифрового муарового зображення f обчислюють енергетичний спектр Фур'є Ps та його радіальний розподіл FR, а значення максимальної зосередженої сили...