Литвин Петро Мар’янович

Спосіб визначення величини деформаційних полів кристала на основі х-променевого муарового зображення в кремнієвому lll-інтерферометрі

Завантаження...

Номер патенту: 121378

Опубліковано: 11.12.2017

Автори: Фодчук Ігор Михайлович, Литвин Петро Мар'янович, Баловсяк Сергій Васильович, Яремчук Іванна Володимирівна

МПК: G01T 1/16, G06F 17/00, G06F 17/17 ...

Мітки: визначення, кремнієвому, зображення, величини, х-променевого, lll-інтерферометрі, спосіб, полів, основі, деформаційних, кристала, муарового

Формула / Реферат:

Спосіб визначення величини деформаційних полів кристала на основі розподілу інтенсивності Х-променевого муарового зображення f, отриманого в кремнієвому LLL-інтерферометрі, який полягає в тому, що для отримання фазового муару в інтерферометрі встановлюють однорідну клиноподібну пластину, на основі цифрового муарового зображення f обчислюють енергетичний спектр Фур'є Ps та його радіальний розподіл FR, а значення максимальної зосередженої сили...

Спосіб індивідуального тестування сітки для герніопластики на сумісність з організмом реципієнта

Завантаження...

Номер патенту: 101381

Опубліковано: 10.09.2015

Автори: Грищук Богдан Ярославович, Грищук Ярослав Іванович, Лазаренко Глеб Олегович, Ничитайло Михайло Юхимович, Лазаренко Олег Миколайович, Литвин Петро Мар'янович

МПК: G01N 33/84, A61B 10/00

Мітки: тестування, спосіб, реципієнта, сумісність, організмом, герніопластики, сітки, індивідуального

Формула / Реферат:

Спосіб індивідуального тестування сітки для герніопластики на сумісність з організмом реципієнта, згідно з яким спочатку з крові реципієнта виділяють імуноглобулін концентрацією 70 нг/мл, цим розчином модифікують активну частину зонда атомно-силового мікроскопа, після чого визначають силу взаємодії модифікованого зонда атомно-силового мікроскопа з матеріалом імплантата, який відрізняється тим, що виділяють імуноглобулін IgG.

Спосіб виготовлення терморезистора

Завантаження...

Номер патенту: 95630

Опубліковано: 25.12.2014

Автори: Болтовець Микола Силович, Литвин Петро Мар'янович, Холевчук Володимир Васильович, Венгер Євген Федорович, Голинна Тетяна Іванівна, Мітін Вадим Федорович, Матвєєва Людмила Олександрівна, Слєпова Олександра Станіславівна

МПК: G01K 7/22, G01J 5/20

Мітки: терморезистора, спосіб, виготовлення

Формула / Реферат:

Спосіб виготовлення терморезистора, який включає осадження термочутливої плівки монокристалічного германію у вакуумі на підкладку із напівізолюючого арсеніду галію, який відрізняється тим, що термочутливу плівку осаджують зі швидкістю V£Vn, при якій у плівці відбувається релаксація пружних напружень шляхом утворення крупномасштабного рельєфу на поверхні плівки і випадкових нанонеоднорідностей в об'ємі, до товщини d£dr, де товщина...

Спосіб формування полірованої поверхні кристалів плюмбум телуриду та твердих розинів pb1-xsnxte

Завантаження...

Номер патенту: 95348

Опубліковано: 25.12.2014

Автори: Копил Олександр Іванович, Литвин Петро Мар'янович, Томашик Василь Миколайович, Стратійчук Ірина Борисівна, Литвин Оксана Степанівна, Маланич Галина Петрівна, Томашик Зінаїда Федорівна

МПК: H01L 21/00

Мітки: формування, pb1-xsnxte, плюмбум, поверхні, твердих, спосіб, розинів, кристалів, телуриду, полірованої

Формула / Реферат:

Спосіб формування полірованої поверхні кристалів плюмбум телуриду та твердих розчинів Pb1-xSnxTe, що включає механічне шліфування поверхні пластин, хіміко-механічне полірування рідкофазним травильним розчином, який містить бром, бромідну кислоту та органічний розчинник, який відрізняється тим, що пластини кристалів полірують бромвиділяючим рідкофазним травильним розчином, до складу якого входить гідроген пероксид та бромідна кислота, а як...

Спосіб визначення товщини нанометрових шарів засобами атомно-силової мікроскопії

Завантаження...

Номер патенту: 67348

Опубліковано: 10.02.2012

Автори: Прокопенко Ігор Васильович, Литвин Оксана Степанівна, Литвин Петро Мар'янович

МПК: G01Q 80/00, G01B 5/06

Мітки: товщини, мікроскопі, нанометрових, шарів, спосіб, атомно-силової, засобами, визначення

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини нанометрових шарів, нанесених на підкладку, який включає утворення в шарі заглиблення, яке досягає границі розділу "шар-підкладка", який відрізняється тим, що в шарі утворюють серію заглиблень дряпанням зондом атомно-силового мікроскопа із зростаючою силою навантаження на зонд, одночасно вимірюють глибину подряпин і фіксують те значення глибини, яке залишається незмінним для останніх двох або більше...

Спосіб нанесення захисних елементів на компакт-диск

Завантаження...

Номер патенту: 75088

Опубліковано: 15.03.2006

Автори: Костюкевич Сергій Олександрович, Петров В'ячеслав Васильович, Шанойло Семен Михайлович, Косско Тетяна Гаврилівна, Литвин Петро Мар'янович, Крючин Андрій Андрійович, Бараненкова Валентина Пилипівна, Атамась Валентина Олексіївна

МПК: G11B 7/26, G11B 7/257

Мітки: спосіб, захисних, компакт-диск, елементів, нанесення

Формула / Реферат:

Спосіб нанесення захисних елементів в інформаційній зоні компакт-диска, який включає нанесення на диск-оригінал шару фоторезисту, опромінювання його модульованим лазерним випромінюванням відповідно до інформації, що записується, вилучення фоторезисту в опромінених місцях, який відрізняється тим, що спочатку наносять шар фоторезисту, експонують фоторезист у відповідності з необхідним захисним графічним зображенням, здійснюють селективне...