Проц Лариса Анатоліївна
Пристрій для визначення густини рідин
Номер патенту: 93936
Опубліковано: 27.10.2014
Автор: Проц Лариса Анатоліївна
МПК: G01N 9/00
Мітки: рідин, визначення, густини, пристрій
Формула / Реферат:
Пристрій для визначення густини рідини, який включає ємність для досліджуваної рідини та шкалу, який відрізняється тим, що він містить принаймні два вертикально встановлених забірних патрубка, сполучених верхніми частинами та з відкритими нижніми кінцями, шкали, розміщені вздовж патрубків, порожнини патрубків у верхніх частинах сполучені з порожниною гнучкого патрубка, другий кінець якого сполучений з відкритою у верхній частині ємністю з...
Спосіб виготовлення пластин
Номер патенту: 94105
Опубліковано: 11.04.2011
Автори: Ткаченко Віктор Іванович, Рубіш Василь Михайлович, Проц Лариса Анатоліївна, Шпирко Григорій Миколайович
МПК: B24B 21/00, B24B 37/04, B24B 1/00 ...
Мітки: спосіб, пластин, виготовлення
Формула / Реферат:
Спосіб виготовлення пластин, який включає формування однієї плоскої поверхні заготовки, виготовлення підкладки з принаймні однією плоскою поверхнею, нанесення на плоску поверхню підкладки шару термопластичного матеріалу, нагрівання підкладки з термопластичним матеріалом та заготовки до температури розм'якшення термопластичного матеріалу, притискання заготовки плоскою стороною до плоскої сторони підкладки, охолодження та подальше шліфування...
Спосіб абразивної обробки кристала парателуриту
Номер патенту: 67174
Опубліковано: 15.06.2004
Автор: Проц Лариса Анатоліївна
МПК: B24B 1/00, C10M 173/00
Мітки: спосіб, кристала, обробки, парателуриту, абразивної
Формула / Реферат:
Спосіб абразивної обробки кристала парателуриту, який включає змочування абразивного матеріалу та оброблюваного кристала водовмісною мастильно-охолоджуючою рідиною, введення абразивного матеріалу у контакт з оброблюваним кристалом та їх відносне переміщення, який відрізняється тим, що до водовмісної мастильно-охолоджуючої рідини вводять перманганат калію в кількості 0,0001-0,001 маси мастильно-охолоджуючої рідини.
Спосіб контролю якості кристалу
Номер патенту: 62553
Опубліковано: 15.12.2003
Автори: Лавріненко Валерій Іванович, Проц Лариса Анатоліївна, Соломон Андрій Михайлович, Пуга Павло Павлович
МПК: G01N 23/20
Мітки: контролю, якості, кристалу, спосіб
Формула / Реферат:
1. Спосіб контролю якості кристалу, який включає опромінення поверхні досліджуваного та еталонного кристалів монохроматичним рентгенівським променем та зняття кривих качання шляхом вимірювання інтенсивності відбитого рентгенівського променя при різних кутах повороту пучка відносно кристала та порівняння кривих качання, який відрізняється тим, що еталонний та досліджуваний кристали зішліфовують з утворенням площин з ідентичною...
Пристрій для вирощування кристалу
Номер патенту: 35135
Опубліковано: 15.03.2001
Автори: Шпирко Григорій Миколайович, Коложварі Марія Василівна, Богданова-Борець Олександра Василівна, Проц Лариса Анатоліївна
МПК: C30B 15/00
Мітки: пристрій, кристалу, вирощування
Формула / Реферат:
Пристрій для вирощування кристалу, який містить тигель із розплавом, підставку із штоком, нагрівач та механізм вертикального переміщення тигля, який відрізняється тим, що механізм вертикального переміщення тигля містить розміщену під тиглем ємність з рідиною, в яку занурений поплавок, поплавок жорстко з'єднаний з підставкою тигля за допомогою несучого штоку, причому площа горизонтального перерізу ємності S та площа горизонтального перерізу...