Шустов Юрій Михайлович

Спосіб виявлення локальних електрично активних дефектів на поверхні напівпровідника в структурах метал-діелектрик-напівпровідник

Завантаження...

Номер патенту: 94947

Опубліковано: 25.06.2011

Автори: Шустов Юрій Михайлович, Попов Володимир Михайлович, Клименко Анатолій Семенович, Поканевич Олексій Платонович

МПК: G01R 31/265, G01N 13/00, G01N 27/00 ...

Мітки: спосіб, виявлення, напівпровідника, активних, локальних, метал-діелектрик-напівпровідник, дефектів, електричної, структурах, поверхні

Формула / Реферат:

Спосіб виявлення локальних електрично активних дефектів на поверхні напівпровідника в структурах метал - діелектрик - напівпровідник (МДН), за яким по структурі, до якої прикладена напруга інвертуючої полярності, сканують електронним або фотонним променем з енергією, достатньою для генерації носіїв заряду на поверхні напівпровідника, а реєстрацію електрично активних дефектів проводять по зміні струму, наведеного електронним або фотонним...