Лінійка напівпровідникових приймачів випромінювання для скануючих цифрових рентгенографічних систем “маска”

Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Лінійка напівпровідникових приймачів випромінювання для скануючих цифрових рентгенографічних систем, що складається з лінійки напівпровідникових фотодіодів, підсилюючого екрана та відсіюючого растра, яка відрізняється тим, що підсилюючий екран виконаний з комірок, аналогічних по формі та розмірах напівпровідникових комірок, кожна з яких відділена одна від одної перетинкою з оптично- та рентгенонепрозорого матеріалу.

Текст

Лінійка напівпровідникових приймачів випромінювання для скануючих цифрових рентгеногра 3 15920 4 полягає у тому, що, використовуючи суміщення виконаної з прозорого для рентгенівського випродвох відомих рішень (перевипромінюючий підсимінювання матеріалу, до якої приєднані порошкові люючий екран та растр), автори отримали додатсцинтиляційні елементи та непрозора маска. Масковий позитивний ефект, а саме растр ослаблює ка була виготовлена методом лазерної літографії не тільки фон рентгенівського випромінювання, на лазерному технологічному комплексі ЛТ16але й фон оптичного "засвічування" у перевіпромі400/500, який дозволяє реалізувати роздільну зданюючому екрані. Корисність запропонованого техтність до 8 ліній на мм. Були виготовлені дві маски нічного рішення обумовлена спрощенням конструз коварової фольги сумарною товщиною 150мкм. кції, тому що використаний принци 2 в 1. Розмір непрозорої області складав 200мкм, а проТехнологія виготовлення маски з комірками для зорої - 300мкм. Для приєднання перевипромінююзаповнення їх матеріалом, який перевипромінює, чого екрану до лінійки фотодіодів використали може бути реалізована методами фотолітографії шар неорганічного в'яжучого товщиною від 2 до або лазерною обробкою ("пропалюванням") фоль5мкм. Для порівняння характеристик виготовленоги з різних металів (Аl, Cu, Mo, W та інші). го екрану були проведені дослідження перевипроПриклад реалізації. Для створення матеріалу, мінюючих екранів виробництва Інституту монокрищо перевипромінює, був використаний люмінофор сталів НАН України (м.Харків). Ці екрани Y2OS(Еu), який використовують у промисловості у представляють собою лінійки монокристалів якості червоного люмінофору для кольорових кіZnSe(Te), які розділені шарами діелектричної комнескопів. позиції з Аl2О3 - ТiO2 товщиною 150мкм. Цей люмінофор має цілу низку переваг у поріВимірювання та дослідження розподілу інтенвнянні з тими, яки широко використовують у тепесивності світіння досліджених зразків показало рішній час: збільшення контрастності зображення при викоридовжина хвилі максимуму оптичного випромістанні запропонованого перевипромінюючого екнювання від 625 до 650нм, що відповідає максирану від 1,5 до 2 разів. муму спектральної чутливості кремнієвих фотодіоВраховуючи, що запропоноване рішення мождів; на зіставити із своєрідною маскою, автори просять низька гігроскопічність, стійкість до дії розчинів присвоїти назву "МАСКА" запропонованій лінійці. кислот; Література: висока радіаційна стабільність; 1. Рекламні матеріали фірми HAMAMATSU, технологічні аспекти отримання структур з виЯпонія, на фотоприймачі серії S8865-128G та сокою інтенсивністю світіння широко відомі. S8865-256G. Була також створена маска з комірковою струhttp://sales.hamamatsu.com/en/products/solid-stateктурою, у якої розміри перевипромінюючих елемеdivision/image-sensors/photodiode-array-withнтів співпадають з розмірами фотодіодів лінійки, а amplifier.php розміри непрозорих областей співпадають з роз2. Основы рентгенодиагностической техники / мірами зазору між фотодіодами. Товщина маски з Под ред. Η.Η. Блинова. - М.: Медицина. - 2002г. комірковою структурою була рівною або переви392с. щувала товщину перевипромінюючої речовини на 3. Schueler Β.Α. General Overview of 10-20% і складала 300-350мкм. Конструктивно Fluoroscopic Imaging. 2002; 20; 111-1126. перевипромінюючий екран складався з підкладки, Комп’ютерна верстка Л. Ціхановська Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Matrix semiconductor radiation detector for a scanning digital radiographic system "maska"

Автори англійською

Maslov Volodymyr Реtrоvусh, Maslov Volodymyr Petrovych, Savorovskyi Fedir Hryhorovych, Tsyrkunov Yurii Yakymovych

Назва патенту російською

Матричный полупроводниковый приемник излучения для сканирующей цифровой рентгенографической системы "маска"

Автори російською

Маслов Владимир Петрович, Саворовский Федор Григорьевич, Циркунов Юрий Ефимович

МПК / Мітки

МПК: G03B 42/02, H05G 1/00

Мітки: випромінювання, маска, цифрових, напівпровідникових, приймачів, рентгенографічних, скануючих, лінійка, систем

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/2-15920-linijjka-napivprovidnikovikh-prijjmachiv-viprominyuvannya-dlya-skanuyuchikh-cifrovikh-rentgenografichnikh-sistem-maska.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Лінійка напівпровідникових приймачів випромінювання для скануючих цифрових рентгенографічних систем “маска”</a>

Подібні патенти