Рейковий магнітний дефектоскоп

Рейковий магнітний дефектоскоп, до складу якого входить рейковий транспортний засіб, укріплена на ньому намагнічувальна система у вигляді П-подібного магнітопроводу з постійними магнітами на його кінцях, а також датчик магнітного поля, з'єднаний з електронною апаратурою реєстрації, який відрізняється тим, що кожний з магнітів з'єднаний з магнітопроводом через шарнір. (19) (21) u200609856 (22) 14.09.2006 (24) 15.02.2007 (46) 15.02.2007, Бюл. № 2, 2007 р. (72) Кравченко Олександр Іванович, Бовда Олександр Михайлович, Тарасенко Андрій Іванович (73) Кравченко Олександр Іванович, Бовда Олександр Михайлович, Тарасенко Андрій Іванович 3 20977 4 стю його руйнування при ударах об випадковий П-подібний магнітопровід 1 прикріплено до сторонній предмет, що може з'явитися на рейці рами 2 залізничні вагони. Постійні магніти 3 шарніабо поблизу його (наприклад, відшарування або рно прикріплені до магнітопроводу 1 додатковими вибій головки рейки; вкладиш, що піднявся, на ма-гнітопроводами 4 за допомогою валів 5. Між стику рейок; дерев'яний настил, що піднявся, залімагнітами 3 поблизу від рейки розміщений датчик зничного переїзду й т.п. - найчастіше при прохомагнітного поля, сигнал від якого подається на дженні системи, що намагнічує, над рейкою стоелектронну апаратур у реєстрації (на фіг. 1 датчик і роння перешкода, наприклад, дерев'яний настил апаратура реєстрації не показані). переїзду із залізною окантовкою, підіймається над Колеса вагона рухаються по рейці 6 з перерейкою під дією першого по ходу магніту, після шкодою 7. Стрілками показаний напрямок руху чого про нього вдаряється другий магніт). Зазнавагона й напрямок обертання магніту 3 навколо чений недолік стає помітніше зі збільшенням вала 5 при наїзді магніту 3 на перешкоду. Дефекшвидкості руху де фектоскопа. тоскоп проходить перешкоду в такий спосіб, як це В основу корисної моделі поставлене завданнаведено на Фіг.2 (розглядається випадок, коли ня створити такий магнітний рейковий дефектоодин з магнітів 3 ударяється об виниклу перешкоскоп, що у порівнянні з магнітним рейковим дефекду 7). За рахунок шарнірної підвіски магніт 3, потоскопом, обраним як прототип, був більше вертаючись, піднімається, пропускаючи перешкоду надійним у роботі. 7. Після проходження перешкоди 7 відхилений Поставлене завдання досягається тим, що в магніт під дією власної ваги вертається в робоче рейковому магнітному дефектоскопі, до складу положення до упору 8. якого входить рейковий транспортний засіб, укріпДля збільшення магнітного потоку системи, що лена на ньому система, що намагнічує, у вигляді намагнічує, з постійними магнітами (тобто для збіП-подібного магнітопроводу з постійними магнітальшення чутливості дефектоскопа) габарити поми на його кінцях, а також датчик магнітного поля, стійних магнітів можуть бути збільшені, а матеріал з'єднаний з електронною апаратурою реєстрації, магніту (сплав магнико) може бути замінений кожний з магнітів з'єднаний з магнітопроводом сплавом неодим-залізо-бор (Nd-Fe-B) з більш вичерез шарнір. сокими магнітними характеристиками. (Як показуШарнірне приєднання постійного магніту до ють розрахунки й експерименти, для створення в магнітопроводу робить конструкцію системи, що 10-міліметровому зазорі між полюсом і рейкою намагнічує, складною при ударі об випадкову пемагнітного потоку близько 18мВб магніт зі сплаву решкоду з поверненням у робочий стан після проNd-Fe-B повинен мати розміри 320´90´50мм 3). ходження перешкоди, завдяки чому виключається При таких габаритах магніту й початковому 10руйнування магнітів і досягається підвищення наміліметровому видаленні магніту від рейки при дійності роботи дефектоскопа. максимально відхиленому магніті дефектоскоп На Фіг.1 схематично зображена намагнічувапроходить перешкоди висотою до 170мм. льна система дефектоскопа при наїзді його на Таким чином, пропонований магнітний рейкоперешкоду; вий дефектоскоп у порівнянні з дефектоскопом, а на Фіг.2 показаний розріз намагнічувальної обраним як прототип, є більше надійним у роботі. системи по А-А. Комп’ютерна в ерстка Н. Лисенко Підписне Тираж 26 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601