Спосіб контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (іч) діапазоні випромінювання
Номер патенту: 56200
Опубліковано: 10.01.2011
Автори: Локшин Михайло Маркович, Кіндрась Олександр Петрович, Гаврилов Валерій Олександрович, Маслов Володимир Петрович, Качур Наталія Володимирівна, Венгер Євген Федорович
Формула / Реферат
Спосіб контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (ІЧ) діапазоні випромінювання, в якому випромінювання проходить через зразок, потрапляє на прилад, що фіксує пропускання ІЧ випромінювання, який відрізняється тим, що зразок опромінюють лазерним випромінюванням з довжиною хвилі, що відповідає діапазону прозорості цього кристалу, вимірюють величину потужності випромінювання, яке пройшло через зразок, і порівнюють з величиною потужності випромінювання цього лазера, що пройшло через еталонний зразок.
Текст
Спосіб контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (ІЧ) діапазоні випромінювання, в якому випромінювання проходить через зразок, потрапляє на прилад, що фіксує пропускання ІЧ випромінювання, який відрізняється тим, що зразок опромінюють лазерним випромінюванням з довжиною хвилі, що відповідає діапазону прозорості цього кристалу, вимірюють величину потужності випромінювання, яке пройшло через зразок, і порівнюють з величиною потужності випромінювання цього лазера, що пройшло через еталонний зразок. (19) (21) u201006129 (22) 20.05.2010 (24) 10.01.2011 (46) 10.01.2011, Бюл.№ 1, 2011 р. (72) ВЕНГЕР ЄВГЕН ФЕДОРОВИЧ, ГАВРИЛОВ ВАЛЕРІЙ ОЛЕКСАНДРОВИЧ, КАЧУР НАТАЛІЯ ВОЛОДИМИРІВНА, КІНДРАСЬ ОЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ, ЛОКШИН МИХАЙЛО МАРКОВИЧ, МАСЛОВ ВОЛОДИМИР ПЕТРОВИЧ (73) ВЕНГЕР ЄВГЕН ФЕДОРОВИЧ, ГАВРИЛОВ ВАЛЕРІЙ ОЛЕКСАНДРОВИЧ, КАЧУР НАТАЛІЯ ВОЛОДИМИРІВНА, ЛОКШИН МИХАЙЛО МАРКОВИЧ, КІНДРАСЬ ОЛЕКСАНДР ПЕТРОВИЧ, МАСЛОВ ВОЛОДИМИР ПЕТРОВИЧ 3 56200 нювач використовували СО2 - лазер з довжиною хвилі 10,6мкм. Результати вимірювань порівнювались з еталонним зразком тієї ж товщини, що і дослідний зразок. Якщо різниця результатів вимірювань складала не більше 10%, зразок вважався якісним. При більшій різниці результатів зразок вважали неякісним, тому що велике розсіювання вказує на велику кількість дефектів. Комп’ютерна верстка Л. Купенко 4 Джерела інформації: 1. М.Н. Семибратов Технология оптических деталей, -М.: Машиностроение, 1978. - 415с. 2. Є.Ф. Венгер, М.М. Локшин, І.Л. Марічева, В.П. Маслов, Н.В.Качур, А.Б. Ляпіна Спосіб контролю матеріалів, прозорих в інфрачервоному (ІЧ) діапазоні випромінювання Патент України на корисну модель №16797/1 від 12.12.2008р. Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for control of quality of crystalline materials transparent in infrared (ir) zone of radiation
Автори англійськоюVenher Yevhen Fedorovych, Havrylov Valerii Oleksandrovych, Kachur Nataliia Volodymyrivna, Kindras Oleksandr Petrovych, Lokshyn Mykhailo Markovych, Maslov Volodymyr Petrovych
Назва патенту російськоюСпособ контроля качества кристаллических материалов, прозрачных в инфракрасном (ик) диапазоне излучения
Автори російськоюВенгер Евгений Федорович, Гаврилов Валерий Александрович, Качур Наталья Владимировна, Киндрась Александр Петрович, Локшин Михаил Маркович, Маслов Владимир Петрович
МПК / Мітки
МПК: G01N 25/72
Мітки: діапазоні, матеріалів, прозорих, іч, випромінювання, кристалічних, якості, контролю, інфрачервоному, спосіб
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-56200-sposib-kontrolyu-yakosti-kristalichnikh-materialiv-prozorikh-v-infrachervonomu-ich-diapazoni-viprominyuvannya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (іч) діапазоні випромінювання</a>
Спосіб контролю оптичних заготовок з кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (іч) діапазоні випромінювання
Номер патенту: 56199
Опубліковано: 10.01.2011
Автори: Прохорович Анатолій Вікторович, Качур Наталія Володимирівна, Ліптуга Анатолій Іванович, Маслов Володимир Петрович
МПК: G01N 25/72
Мітки: заготовок, кристалічних, прозорих, спосіб, матеріалів, діапазоні, оптичних, контролю, інфрачервоному, випромінювання, іч
Формула / Реферат:
Спосіб контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (14) діапазоні випромінювання, в якому випромінювання проходить через зразок, потрапляє на прилад, що фіксує пропускання ІЧ-випромінювання, який відрізняється тим, що від початку кристалічного злитка на відстані 0,20,3 D (де D - діаметр злитка) від затравочного кристалу вирізають вздовж осі росту...
Спосіб об’ємного контролю матеріалів, прозорих в інфрачервоному (іч) діапазоні випромінювання
Номер патенту: 49480
Опубліковано: 26.04.2010
Автори: Маслов Володимир Петрович, Локшин Михайло Маркович, Кіндрась Олександр Петрович, Сингаївський Олександр Федорович, Качур Наталія Володимирівна, Пекар Григорій Соломонович, Венгер Євген Федорович
МПК: G01N 25/72
Мітки: діапазоні, контролю, іч, матеріалів, прозорих, інфрачервоному, спосіб, об`ємного, випромінювання
Формула / Реферат:
Спосіб контролю якості матеріалів, прозорих в ІЧ діапазоні випромінювання, що включає реєстрацію температурного поля зразка за допомогою тепловізійної системи, який відрізняється тим, що зразок додатково опромінюють ультразвуковими коливаннями від УЗ товщиноміра, а реєстрацію температурного поля здійснюють після ІЧ опромінювання через тест-систему, яка виконана у вигляді ґратки з плівкового матеріалу, що відбиває ІЧ випромінювання, яка...
Спосіб контролю матеріалів, прозорих в інфрачервоному (іч) діапазоні випромінювання
Номер патенту: 38990
Опубліковано: 26.01.2009
Автори: Локшин Михайло Маркович, Марічева Ірина Леонідовна, Ляпіна Алла Борисівна, Качур Наталія Володимирівна, Маслов Володимир Петрович, Венгер Євген Федорович
МПК: G01N 25/72
Мітки: прозорих, спосіб, діапазоні, іч, матеріалів, контролю, інфрачервоному, випромінювання
Формула / Реферат:
Спосіб контролю якості матеріалів, прозорих в ІЧ-діапазоні випромінювання, який включає реєстрацію температурного поля зразка за допомогою тепловізійної системи, який відрізняється тим, що реєстрацію температурного поля здійснюють після ІЧ-опромінювання через тест-систему, яка виконана у вигляді ґратки з плівкового матеріалу, що відбиває ІЧ-випромінювання, з кількістю пар ліній 0,5-5 на мм, яка нанесена на підкладку з матеріалу, що пропускає...
Спосіб контролю матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання
Номер патенту: 49479
Опубліковано: 26.04.2010
Автори: Кіндрась Олександр Петрович, Родічев Юрій Михайлович, Локшин Михайло Маркович, Качур Наталія Володимирівна, Венгер Євген Федорович, Марічева Ірина Леонідовна, Ляпіна Алла Борисівна, Маслов Володимир Петрович
МПК: G01N 25/72
Мітки: оптичному, матеріалів, спосіб, прозорих, діапазоні, контролю, випромінювання
Формула / Реферат:
Спосіб контролю якості матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання, що включає реєстрацію зображення за допомогою оптикоелекронної цифрової камери, який відрізняється тим, що оптичне зображення створюють у вигляді ґратки, а реєстрацію зображення здійснюють після проходження випромінювання через тест-систему, яка складається зі зразка оптичного матеріалу, та другої ґратки, ідентичної першій, поверненої відносно першої ґратки,...
Пристрій для контролю якості оптичних матеріалів
Номер патенту: 39789
Опубліковано: 10.03.2009
Автори: Сердега Борис Кирилович, Качур Наталія Володимирівна, Венгер Євген Федорович, Маслов Володимир Петрович
МПК: G01N 21/21
Мітки: якості, пристрій, контролю, матеріалів, оптичних
Формула / Реферат:
Пристрій для контролю якості оптичних матеріалів, що складається з поляризованого джерела видимого світла, модулятора, світлоподільника, еталона, компенсатора, фотодетектора, при цьому пристрій виконаний з можливістю кріплення зразка механізмами переміщення на координатному столі з мікрогвинтами, який відрізняється тим, що пристрій має додаткове джерело ІЧ-випромінювання, яке поєднане з джерелом видимого діапазону в одному каналі, а...
Попередній патент: Спосіб контролю оптичних заготовок з кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (іч) діапазоні випромінювання
Наступний патент: Спосіб зведення свердлонабивних паль
Випадковий патент: Спосіб визначення міцності матеріалів при випробуванні на ударну в'язкість