Пристрій для контролю якості оптичних матеріалів

Пристрій для контролю якості оптичних матеріалів, що складається з поляризованого джерела 3 39789 4 - пристрій дозволяє легко автоматизувати Приклад реалізації. процес вимірювання шляхом встановлення крокоДля реалізації запропонованої корисної моделі вих дви гунів у пристрій переміщення координатнобули використані працюючий в видимому (11) та в го столу, які будуть керуватись сигналами з ПК; на близькому інфрачервоному (2) діапазоні лазери. ПК будуть надходити сигнали від фотодетектора Світлоподільник (3) був виконаний з оптичного таким чином, що кожний результат вимірювання кварцу КІ, модулятор (7) поляризації виготовлено з буде ідентифікуватись з кожною точкою зразка, п’єзокристалічного кварцу, до якого прикладається яка контролювалась. напруга в межах 100-200В з частотою 5кГц. КомСхема пристрою приведена на Фіг. пенсатор (4) та поляризаційна призма Ніколи були Пристрій працює таким чином. виготовлені з ісландського шпату. Фотодіод (9) До вимірювання встановлюють на координатмарки ФД-7Г, германієвий. ному столі (6) еталон (5) і за допомогою компенсаКонтроль якості проводили на зразках кристатора (4) нормують оптичну систему на "0", аналогілів штучного корунду. При цьому було підтверчно прототипу. Потім на координатному столі (6) джено можливість забезпечення поставленої завстановлюють зразок (5), що буде контролювадачі, а саме дозволяє вимірювати характеристики тись. Контролер через окуляр (1), світлоподільник кристалу в дво х діапазонах (видимому і ІЧ). (3) обирає точку контролю на зразку (5). На цю Література: точку від джерела поляризованого світла (2) ви1. В.П. Маслов, Т.С. Мельник, В.А. Одарич, димого або 14 (11) діапазону через світлоподільЭллипсометрический способ контроля качества ники (3 і 10) поляризоване світло взаємодіє зі зраполирования деталей, а.с. СРСР 1366878 від зком і, через модулятор (7), поляризатор (8) 15.01.88 бюл. №2. фіксується фотодетектором (9). Таким чином здій2. Е.В. Берников, С.С. Гапонов, В.И. Туринов, снюється вимірювання в одній точці зразка. ОпеСпособ ИК-дефектоскопии, российский патент ратор переміщує зразок за допомогою механізму №92007717 опуб.27.02.1995. переміщення координатного стола і повторює кон3. В.Г. Костишин, Л.М. Летюк, О.Е. Бугакова, троль в іншій точці. При цьому складові оптичні Е.А. Ладыгин, A.M. Мусалитин, Оптический способ компоненти вимірювального каналу виконані з контроля кристаллов со структурой граната, росматеріалів прозорих як в видимому так і в інфрасийский патент №2093922 опуб.20.10.1997. червоному діапазонах, а фотоприймач працює як 4. Л.Й. Бережинський, Є.Ф. Венгер, В.П. Масв видимому так і в інфрачервоному діапазонах. лов, Б.К. Сердега, Пристрій вимірювання величини Новизна запропонованої корисної моделі поподвійного променезаломлення, деклараційний лягає в тому, що вона містить в собі невідомі рапатент України на корисну модель №7496 ніше поєднання та взаємодію відомих оптичних опуб.15.06.1995 бюл. №6. вузлів та механізмів і яке створює нові позитивні властивості. Комп’ютерна в ерстка В. Мацело Підписне Тираж 28 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601