Спосіб лазерного контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання
Номер патенту: 57495
Опубліковано: 25.02.2011
Автори: Маслов Володимир Петрович, Венгер Євген Федорович, Качур Наталія Володимирівна
Формула / Реферат
Спосіб лазерного контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання, в якому випромінювання проходить через зразок, потрапляє на прилад, що фіксує пропускання випромінювання, який відрізняється тим, що зразок опромінюють лазерним випромінюванням з довжиною хвилі, що відповідає діапазону прозорості цього кристалу, вимірюють розподіл потужності випромінювання, яке пройшло через зразок, і порівнюють з величиною потужності випромінювання цього лазера, що пройшло через еталонний зразок у такому ж тілесному куті.
Текст
Спосіб лазерного контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні 3 57495 хвилі 10,6 мкм. Для визначення розподілу потужності випромінювання на окуляр приладу ставився ряд діафрагм діаметром 2, 3 та 5 мм. Результати вимірювань порівнювались з еталонним зразком тієї ж товщини, що і дослідний зразок. Якщо різниця результатів вимірювань складала не більше 5%, зразок вважався якісним. При більшій різниці результатів зразок вважали неякісним, тому що велике розсіювання вказує на велику кількість дефектів. Комп’ютерна верстка Л.Литвиненко 4 Література 1. М.Н. Семибратов Технология оптических деталей. -М.: Машиностроение, 1978. -415с. 2. Є.Ф. Венгер, М.М. Локшин, І.Л. Марічева, В.П. Маслов, Н.В. Качур, А.Б. Ляпіна. Спосіб контролю матеріалів, прозорих в інфрачервоному (ІЧ) діапазоні випромінювання. Патент України на корисну модель №16797/1 від 12.12.2008 р. Підписне Тираж 23 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for laser control of quality of crystalline materials transparent in optical range of radiation
Автори англійськоюVenher Yevhen Fedorovych, Kachur Nataliia Volodymyrivna, Maslov Volodymyr Petrovych
Назва патенту російськоюСпособ лазерного контроля качества кристаллических материалов, прозрачных b оптическом диапазоне излучения
Автори російськоюВенгер Евгений Федорович, Качур Наталья Владимировна, Маслов Владимир Петрович
МПК / Мітки
МПК: G01N 23/02
Мітки: якості, прозорих, випромінювання, матеріалів, контролю, діапазоні, оптичному, лазерного, спосіб, кристалічних
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-57495-sposib-lazernogo-kontrolyu-yakosti-kristalichnikh-materialiv-prozorikh-v-optichnomu-diapazoni-viprominyuvannya.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб лазерного контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання</a>
Спосіб контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (іч) діапазоні випромінювання
Номер патенту: 56200
Опубліковано: 10.01.2011
Автори: Качур Наталія Володимирівна, Гаврилов Валерій Олександрович, Локшин Михайло Маркович, Маслов Володимир Петрович, Венгер Євген Федорович, Кіндрась Олександр Петрович
МПК: G01N 25/72
Мітки: спосіб, прозорих, кристалічних, контролю, випромінювання, матеріалів, діапазоні, іч, якості, інфрачервоному
Формула / Реферат:
Спосіб контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (ІЧ) діапазоні випромінювання, в якому випромінювання проходить через зразок, потрапляє на прилад, що фіксує пропускання ІЧ випромінювання, який відрізняється тим, що зразок опромінюють лазерним випромінюванням з довжиною хвилі, що відповідає діапазону прозорості цього кристалу, вимірюють величину потужності випромінювання, яке пройшло через зразок, і порівнюють з...
Спосіб контролю матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання
Номер патенту: 49479
Опубліковано: 26.04.2010
Автори: Венгер Євген Федорович, Качур Наталія Володимирівна, Марічева Ірина Леонідовна, Родічев Юрій Михайлович, Локшин Михайло Маркович, Ляпіна Алла Борисівна, Маслов Володимир Петрович, Кіндрась Олександр Петрович
МПК: G01N 25/72
Мітки: оптичному, випромінювання, спосіб, контролю, матеріалів, діапазоні, прозорих
Формула / Реферат:
Спосіб контролю якості матеріалів, прозорих в оптичному діапазоні випромінювання, що включає реєстрацію зображення за допомогою оптикоелекронної цифрової камери, який відрізняється тим, що оптичне зображення створюють у вигляді ґратки, а реєстрацію зображення здійснюють після проходження випромінювання через тест-систему, яка складається зі зразка оптичного матеріалу, та другої ґратки, ідентичної першій, поверненої відносно першої ґратки,...
Спосіб контролю оптичних заготовок з кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (іч) діапазоні випромінювання
Номер патенту: 56199
Опубліковано: 10.01.2011
Автори: Ліптуга Анатолій Іванович, Качур Наталія Володимирівна, Маслов Володимир Петрович, Прохорович Анатолій Вікторович
МПК: G01N 25/72
Мітки: матеріалів, оптичних, заготовок, діапазоні, випромінювання, інфрачервоному, кристалічних, контролю, спосіб, прозорих, іч
Формула / Реферат:
Спосіб контролю якості кристалічних матеріалів, прозорих в інфрачервоному (14) діапазоні випромінювання, в якому випромінювання проходить через зразок, потрапляє на прилад, що фіксує пропускання ІЧ-випромінювання, який відрізняється тим, що від початку кристалічного злитка на відстані 0,20,3 D (де D - діаметр злитка) від затравочного кристалу вирізають вздовж осі росту...
Спосіб об’ємного контролю матеріалів, прозорих в інфрачервоному (іч) діапазоні випромінювання
Номер патенту: 49480
Опубліковано: 26.04.2010
Автори: Маслов Володимир Петрович, Качур Наталія Володимирівна, Сингаївський Олександр Федорович, Кіндрась Олександр Петрович, Венгер Євген Федорович, Локшин Михайло Маркович, Пекар Григорій Соломонович
МПК: G01N 25/72
Мітки: спосіб, іч, інфрачервоному, прозорих, діапазоні, випромінювання, контролю, матеріалів, об`ємного
Формула / Реферат:
Спосіб контролю якості матеріалів, прозорих в ІЧ діапазоні випромінювання, що включає реєстрацію температурного поля зразка за допомогою тепловізійної системи, який відрізняється тим, що зразок додатково опромінюють ультразвуковими коливаннями від УЗ товщиноміра, а реєстрацію температурного поля здійснюють після ІЧ опромінювання через тест-систему, яка виконана у вигляді ґратки з плівкового матеріалу, що відбиває ІЧ випромінювання, яка...
Спосіб контролю матеріалів, прозорих в інфрачервоному (іч) діапазоні випромінювання
Номер патенту: 38990
Опубліковано: 26.01.2009
Автори: Маслов Володимир Петрович, Марічева Ірина Леонідовна, Локшин Михайло Маркович, Ляпіна Алла Борисівна, Венгер Євген Федорович, Качур Наталія Володимирівна
МПК: G01N 25/72
Мітки: іч, спосіб, випромінювання, матеріалів, діапазоні, контролю, прозорих, інфрачервоному
Формула / Реферат:
Спосіб контролю якості матеріалів, прозорих в ІЧ-діапазоні випромінювання, який включає реєстрацію температурного поля зразка за допомогою тепловізійної системи, який відрізняється тим, що реєстрацію температурного поля здійснюють після ІЧ-опромінювання через тест-систему, яка виконана у вигляді ґратки з плівкового матеріалу, що відбиває ІЧ-випромінювання, з кількістю пар ліній 0,5-5 на мм, яка нанесена на підкладку з матеріалу, що пропускає...
Попередній патент: Спосіб збагачення залізної руди
Наступний патент: Спосіб планування роботи бортових систем космічних апаратів
Випадковий патент: Автоматичний вимикач