Спосіб навантаження оболонкових конструкцій при голографічній дефектоскопії
Формула / Реферат
Спосіб навантаження оболонкових конструкцій при голографічній дефектоскопії, що включає навантаження просторової тонкостінної оболонкової конструкції акустичним чином від гучномовця локально, який відрізняється тим, що деталі навантажують акустичною хвилею за допомогою гучномовця та механічно пружинним елементом, який прикріплено до діафрагми того ж гучномовця, що розміщений на віддалі 40-45 мм від поверхні, яку вивчають, до появи на моніторі комп'ютера інтерференційних смуг, які фіксують в пам'яті комп'ютера і створюють комп'ютерну голограму.
Текст
Спосіб навантаження оболонкових конструкцій при голографічній дефектоскопії, що включає навантаження просторової тонкостінної оболонко 3 58033 створюють комп'ютерну голограму. Приклад. Дослідження проводили з виявлення прихованих дефектів (тріщин) в стінках робочої камери емульситатора, який виготовлено із нержавіючої сталі і знаходився в експлуатації на протязі 64 годин. Акустичне збудження передавали від акустичного генератора частотами в діапазоні -20,0 60,0 Гц. Для проведення досліджень, з метою виявлення дефектів достатньо було задати п'ять рівнів зміни частоти акустичного збудження. При кожній зміні частоти проводили фіксування голограми. Гучномовець було розміщено на віддалі 40 -45 мм від поверхні деталі. В якості механічного навантажувача застосовували пружинний елемент виготовлений із пружинної сталі 2-го класу, довжиною 38 мм і прикріпленого за допомогою клею до центру діафрагми гучномовця. Ре Комп’ютерна верстка Л.Литвиненко 4 зультати голографування дали змогу визначати не тільки форму і розміри дефекту, а також глибину його залягання, що може бути корисним при удосконаленні або створенні нових технологічних процесів. При цьому було отримано комп'ютерну голограму, яка показувала на наявність тріщин в стінці оболонкової конструкції. Інтерференційні смуги фіксувались чітко. Утворено було картину комп'ютерної голограми з чіткою фіксацією прихованих тріщин довжиною 0,9 - 4,5 мм, а величину мікродеформування визначали відомими способами, зчитуючи інформацію з голограми. Таким чином було встановлено, деталь, яку досліджували, є непридатною до експлуатації і повинна бути вибракувана, так як подальша експлуатація цього обладнання може привести до забруднення механічними частками продукту. Підписне Тираж 23 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for loading membrane structures at holographic defectoscopy
Автори англійськоюKarabyniosh Serhii Stepanovych
Назва патенту російськоюСпособ нагрузки оболочковых конструкций при голографической дефектоскопии
Автори російськоюКарабиньош Сергей Степанович
МПК / Мітки
МПК: G01B 5/24
Мітки: дефектоскопії, навантаження, оболонкових, спосіб, конструкцій, голографічний
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-58033-sposib-navantazhennya-obolonkovikh-konstrukcijj-pri-golografichnijj-defektoskopi.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб навантаження оболонкових конструкцій при голографічній дефектоскопії</a>