Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

1. Спосіб кінематичного аналізу механізму III класу, який полягає у знаходженні особливої точки, яка належить базисній ланці і визначається як точка перетину осей двох довільних повідків, який відрізняється тим, що до шатунної точки базисної ланки механізму III класу приєднують умовну ланку, яка не порушує степінь вільності зазначеного механізму.

2. Спосіб за п. 1, який відрізняється тим, що кінематичний аналіз механізму III класу зводиться до послідовного кінематичного аналізу двох шарнірних чотириланковиків - механізмів II класу.

Текст

1. Спосіб кінематичного аналізу механізму III класу, який полягає у знаходженні особливої точ 3 до чотириланковика O2CDO3, у якого параметри VВ і aВ шатунної точки В вже відомі. Тому легко можуть бути визначені лінійні та кутові швидкості та прискорення всіх точок та ланок чотириланковика O2CDO3 Джерела інформації Комп’ютерна верстка Г. Паяльніков 65203 4 1. Баранов Г.Г. Курс теории механизмов и машин. – М: Машиностроение, 1975. - 494 с. 2. Артоболевский И.И. Теория механизмов. М.: Наука, 1988. - 640 с. 3. Артоболевский И.И. Об эволютах шатунних кривих. // Доклады АН СССР. - М: АН СССР, 1944. - Т. 45, № 3. - С. 107-109. Підписне Тираж 23 прим. Державна служба інтелектуальної власності України, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Method for kinematic analysis of a mechanism of iii class

Автори англійською

Zubaschenko Heorhii Pavlovych, Korchenko Oleksandr Hryhorovych, Aleinikova Natalia Vasylivna

Назва патенту російською

Способ кинематического анализа механизма iii класса

Автори російською

Зубащенко Георгий Павлович, Корченко Александр Григорьевич, Алейникова Наталия Васильевна

МПК / Мітки

МПК: F16H 21/00

Мітки: класу, аналізу, ііі, кінематичного, механізму, спосіб

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/2-65203-sposib-kinematichnogo-analizu-mekhanizmu-iii-klasu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб кінематичного аналізу механізму ііі класу</a>

Подібні патенти