Завантажити PDF файл.

Формула / Реферат

Пристрій для експрес-аналізу, що містить конденсатор, між електродами якого розташований досліджуваний матеріал, який відрізняється тим, що як електроди використані дві оптично прозорі підкладки з нанесеним на їх один бік прозорим струмопровідним покриттям, які зміщені одна відносно одної таким чином, що частина кожної підкладки з прозорим покриттям виступає і служить контактною площадкою для подання електричної напруги, відстань між підкладками регулюється товщиною полімерної плівки для склеювання, яка розташована між прозорими струмопровідними покриттями обох підкладок до їх виступних частин для контактних площадок, при цьому полімерна плівка  має щонайменше один наскрізний отвір для розміщення досліджуваного матеріалу.

Текст

Пристрій для експрес-аналізу, що містить конденсатор, між електродами якого розташований 3 67988 4 вид електродів та їх взаємне розташування дозвосовувати експрес - аналіз з високою швидкістю лить забезпечити можливість виконання експрес вимірювання зразків та матеріалів. При цьому аналізів порошкових електролюмінофорів, з'являється можливість дослідження та фотолюмінофорів, рідких та твердих діелектриків вимірювання матеріалів або різних комбінацій за технологіями, які не руйнують зразок. концентрації матеріалів на одному і тому ж Поставлене завдання вирішується тим, що в пристрої. Таким чином стає можливим підбір оппристрої для експрес - аналізу, який містить контимально необхідних параметрів активних денсатор, між електродами якого розташований елементів приладів. матеріал, що досліджується, згідно винаходу у На кресленні відображено вид пристрою збоку якості електродів використовують дві оптично (Фіг.1) та вид пристрою зверху (Фіг.2). прозорі підкладки з нанесеним прозорим Полімерна клеюча плівка 1 вирізується ширитокопровідним покриттям, котрі зміщені одна ною за розміром скляної пластини 3, а довжиною відносно другої таким чином, що та частина кожної на (5-10)мм коротша за пластину. В плівці підкладки з прозорим покриттям, що виступає, вирізуються один або декілька отворів необхідних служить контактною площадкою для подання розмірів. Підготовлена таким чином плівка електричної напруги; відстань між підкладками приклеюється до токопровідного шару 2 скляної регулюють товщиною полімерної плівки для пластини 3 таким чином, щоб один кінець пластисклеювання, розташованою між прозорими ни був вільний на (5-10)мм. В отвір наноситься провідними покриттями обох підкладок за винятматеріал, що досліджується, 4 і зверху ком контактних площадок, та має один або накривається другою скляною пластиною 5 декілька наскрізних отворів для нанесення токопровідним шаром донизу із зміщенням цього матеріалу, який досліджується. скла на (5-10) мм відносно першого. Суттєвою перевагою винаходу, що Вільні кінці токопровідних шарів повинні бути пропонується, є простота виготовлення пристрою вільними від полімерної плівки, створюючи для експрес аналізів порошкових контактні площадки для подання електричної наелектролюмінофорів, фотолюмінофорів, рідких та пруги. твердих діелектриків при визначенні Така конструкція скріплюється струбциною із електролюмінісценції, фотолюмінісценції, натугою, що регулюється, і підключається контакдіелектричної проникності, ємнісних характеритами 7 до джерела живлення чи до вимірюючого стик, що дозволяють розраховувати пробивну наприладу. Розмір першого та другого скла, а також пругу приладів, які виготовлені на базі матеріалів, конфігурація отворів в полімерній плівці не реглащо досліджуються. ментуються. Використання конструкції пристрою, яка пропонується, дає можливість дослідникам засто Комп’ютерна верстка М. Клюкін Підписне Тираж 26 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601

Дивитися

Додаткова інформація

Назва патенту англійською

Device for fast testing materials

Автори англійською

Rodionov Valerii Yevhenovych, Bacherikov Yurii Yuriiovych, Kheilenko Olha Tykhonivna

Назва патенту російською

Устройство для быстрого анализа материалов

Автори російською

Родионов Валерий Евгеньевич, Бачериков Юрий Юрьевич, Хейленко Ольга Тихоновна

МПК / Мітки

МПК: H05B 33/26, G01N 21/66, G01N 27/00

Мітки: пристрій, експрес-аналізу

Код посилання

<a href="https://ua.patents.su/2-67988-pristrijj-dlya-ekspres-analizu.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для експрес-аналізу</a>

Подібні патенти