Пристрій для контролю внутрішніх шліцевих поверхонь
Номер патенту: 24953
Опубліковано: 25.07.2007
Автори: Гевко Іван Богданович, Капаціла Людмила Миколаївна, Дзюра Володимир Олексійович, Геник Ігор Степанович, Брощак Іван Іванович
Формула / Реферат
Пристрій для контролю внутрішніх шліцевих поверхонь, який виконаний у вигляді плити з вертикальними стійками, базуючими і затискними елементами, який відрізняється тим, що зверху на стійках розміщені підтримуючі ролики, які взаємодіють з шліцевою втулкою з можливістю кругового провертання, а всередині шліцевої втулки розміщений рухомий блок, в пазах якого закріплено симетричний індикаторний блок, рухомий блок здійснює переміщення від привідного гвинта електродвигуна та напрямної, симетричний індикаторний блок взаємодіє з аналогово-цифровим перетворювачем та комп’ютером і жорстко встановлений у рухомий блок, в якому жорстко встановлені тримачі з п'єзоелементами, до яких під'єднані щупи, відстань між кінцями яких можна регулювати за допомогою гвинта, п'єзоелектричний датчик виконано у вигляді пластини, на якій розміщено тримач з п'єзоелементом, до якого під'єднано щуп, який розміщений на пружній основі, а знизу пластини розміщено шарнір і оптичний датчик з прорізами, та оптична пара.
Текст
Пристрій для контролю внутрішніх шліцевих поверхонь, який виконаний у вигляді плити з вертикальними стійками, базуючими і затискними елементами, який відрізняється тим, що зверху на стійках розміщені підтримуючі ролики, які взаємодіють з шліцевою втулкою з можливістю кругового провертання, а всередині шліцевої втулки 3 24953 Симетричний індикаторний блок 7, жорстко встановлено в рухомому блоці 5, в якому жорстко встановлено тримачі 13 із п'єзоелементами 14, до яких приєднано щупи 15, відстань між кінцями яких можна регулювати за допомогою гвинта 16. П'єзоелектричний датчик 17 (ПД2), який здійснює замір внутрішнього діаметра шліцевого отвору складається з пластини 18, на якій міститься тримач 19 з п'єзоелементом 20 до якого фіксується щуп 21, що міститься на пружній основі 22. Знизу пластини 18 розміщено шарнір 23 для зміни висоти вимірювання. Контроль величини вимірювання здійснюється оптичним датчиком 24 (ОДІ) та оптичною парою 25. Зміна положення шліцевої втулки 4 здійснюється ділильною головкою 26 через патрон 27. Принцип роботи контрольного пристрою такий. Шліцева втулка 4 встановлюється у ділильну головку 26 і фіксується патроном 27. Всередину вставляються рухомий блок 5 із направляючою 10 та привідним гвинтом 8. Вмикається комп’ютер 12 і аналогово-цифровий перетворювач 11. Рухомий блок 5 підводиться до краю шліцевої втулки 4 і встановлюються щуп 21 на поверхню впадини шліца та щупи 15 на бокові поверхні шліца. Причому одночасно із встановленням вимірних еле 4 ментів реєструються розміри, відповідно радіус впадин шліцевої втулки 4 (оптичним датчиком ОД1 24, та оптичною парою 25) та ширина шліца. Вмикається електродвигун 9 і здійснюється переміщення рухомого блока 5 з вимірними елементами вздовж направляючої 10. Внаслідок коливання щупів 15, 21 по нерівностях шліцевої втулки 4 відбувається коливання п'єзоелектричних пластин датчиків 7 ПД1 та 17 ПД2, внаслідок чого генерується електричний струм, величина якого відповідає величині шорсткості цих поверхонь. Дані через аналогово-цифровий перетворювач 11 надходять до комп’ютера 12, де програмно обробляються і виводяться результати у вигляді таблиць та графіків. При досягненні рухомим блоком 5 другого кінця шліцевої втулки 4 зупиняється електродвигун 9, рухомий блок 5 відводяться а ділильною головкою 26 провертають шліцеву втулку 4 і продовжують вимірювання наступних шліців і їх відносне розміщення. Вимірювання не пряме, тобто дане контрольне пристосування працює за відносним принципом й настроюється по еталону. До переваг контрольного пристою відноситься підвищення продуктивності контрольних операцій і розширення технологічних можливостей. 5 Комп’ютерна в ерстка М. Ломалова 24953 6 Підписне Тираж 26 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюDevice for testing internal splined surfaces
Автори англійськоюHevko Ivan Bohdanovych, Broschak Ivan Ivanovych, Dziura Volodymyr Oleksiiovych, Henyk Ihor Stepanovych
Назва патенту російськоюУстройство для контроля внутренних шлицевых поверхностей
Автори російськоюГевко Иван Богданович, Брощак Иван Иванович, Дзюра Владимир Алексеевич, Геник Игорь Степанович
МПК / Мітки
МПК: G01B 11/22
Мітки: шліцевих, контролю, пристрій, поверхонь, внутрішніх
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-24953-pristrijj-dlya-kontrolyu-vnutrishnikh-shlicevikh-poverkhon.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Пристрій для контролю внутрішніх шліцевих поверхонь</a>
Попередній патент: Триколісний автомобіль
Наступний патент: Спосіб виробництва пісочного печива
Випадковий патент: Телескопічний підйомник для футеровки конвертерів