Контрольний пристрій для заміру параметрів внутрішніх сферичних поверхонь

Контрольний пристрій для заміру параметрів внутрішніх сферичних поверхонь, який виконаний у вигляді корпуса, в якому встановлено піноль з можливістю регулювання вздовж своєї осі, індикатора, розміщеного в пінолі, який відрізняється тим, що затискний елемент виконано у вигляді хомута, який жорстко закріплено на зовнішньому діаметрі контрольованої деталі, в торцевій частині 3 33176 верхньої частини жорстко закріплено кронштейн 6, який виступає над торцем контрольованої деталі 2. У кронштейні 6 виконано паз 7 у вигляді ластівкового хвоста і розміщено регулювальну шестерню 8 з привідним барабаном 9. Регулювальна шестерня 8 взаємодіє з рухомою тягою 10, яка також виконана у вигляді ластівкового хвоста і розміщена у пазі 7 кронштейна 6 з можливістю переміщення в осьовому напрямку. Регулювальна шестерня 8 і рухома тяга 10 підтиснуті кришкою 11 кронштейна 6. На протилежній стороні рухомої тяги 10 жорстко закріплено конус 12 з наскрізними горизонтальним 13 та вертикальним 14 отворами. В горизонтальному отворі 13 розміщено піноль у вигляді втулки 15 з наскрізним отвором 16 в якому через вертикальний отвір 14 корпусу 12 встановлено індикатор 17, який контактує з внутрішньою вимірювальною сферичною поверхнею 18 деталі 2. Робота контрольного пристрою для заміру параметрів внутрішніх сферичних поверхонь здійснюється наступним чином. На торець контрольованої деталі 2 встановлюють хомут 1 і за допомогою стяжного болта 5 з гайкою жорстко його закріплюють. За допомогою 4 приводного барабана 9 переміщають в осьовому напрямку рухому тягу 10 з корпусом 12 та індикатором 17. Переміщення проводять до тих пір, доки вісь індикатора 17 не співпаде з центром внутрішньої сферичної поверхні 18 деталі 2. При встановлені по центру внутрішньої сферичної поверхні 18 індикатора 17 на його шкалі наносять допустиме відхилення величини сфери. Після підготовчих робіт індикатор 17 провертають разом з піноллю 15 у всіх потрібних напрямках по вимірювальній сферичній поверхні 18 і при відхиленні більше допустимого констатують про виправний або не виправний брак. Після закінчення заміру пристрій знімають з вимірювальної деталі і встановлюють на іншу. Контрольний пристрій можна використовувати і в масовому виробництві, підключивши його до комп'ютера і виставивши його по еталонній деталі. Крім цього за допомогою цього пристрою можна здійснювати контроль шорсткості поверхні введенням додаткового щупа і підключенням його до профілометрів, інтерферометрів і комп'ютера. До переваг пристрою відноситься розширення технологічних можливостей і підвищення продуктивності контрольних операцій. 5 Комп’ютерна в ерстка Л. Купенко 33176 6 Підписне Тираж 26 прим. Міністерство осв іт и і науки України Держав ний департамент інтелектуальної в ласності, вул. Урицького, 45, м. Київ , МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислов ої в ласності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601