Спосіб контролю клейових з’єднань оптичних деталей

Реферат: Спосіб контролю оптично прозорих матеріалів включає реєстрацію зображення клейового з'єднання за допомогою оптико-електронної цифрової камери та порівняльного аналізу зображення ґратки, що сформовано через еталонний зразок. Зображення ґратки, що пройшло через зразок оптичного матеріалу, формується в оптичному мікроскопі, а порівняльний аналіз з еталоном проводиться шляхом визначення цифрового значення та формування об'ємного зображення з'єднання шляхом фіксації випромінювальної здатності площини дослідження. UA 118192 U (54) СПОСІБ КОНТРОЛЮ КЛЕЙОВИХ З'ЄДНАНЬ ОПТИЧНИХ ДЕТАЛЕЙ UA 118192 U UA 118192 U 5 10 15 20 25 30 35 40 45 50 55 60 Корисна модель належить до технології оптичного виробництва і може використовуватись при виробництві клейових оптичних деталей для контролю якості склеювання. Клейові з'єднання оптичних деталей можуть бути проаналізовані з застосуванням сучасних оптико-електронних вимірювальних систем. Однак, більшість з них дозволяє проводити дослідження якості клеєного з'єднання в системі координат (х; у), що значно обмежує достовірність дослідження. При дослідженні клейових з'єднань не достатньо аналізувати клейове з'єднання в системі координат (х; у) і є необхідним аналіз товщини проклеювання та площі і форми зчеплення. В системі (х; у; z). Це призводить до того, що при виробництві оптичних приладів існує певний відсоток браку оптичних клейових оптичних деталей та їх оптичних блоків. [1]. Для проведення якісного дослідження клейових з'єднань необхідно проводити їх об'ємне дослідження. Найбільш близьким технічним рішенням, прийнятим за найближчий аналог, є спосіб контролю оптично прозорих матеріалів, який включає опромінювання ґратки, формування зображення, що пройшло через зразок, що контролюється, реєстрацію зображення ґратки за допомогою оптико-електронної цифрової камери та порівняльного аналізу зображення ґратки, що сформовано через еталонний зразок та зразок, що контролюється. Зображення ґратки, що пройшло через зразок оптичного матеріалу, формується в оптичному мікроскопі, а порівняльний аналіз з еталоном проводиться шляхом визначення цифрового значення сигнал/шум на лінійній ділянці кривої контрастності оптико-електронної системи контролю [2]. Такий метод завдяки тому, що при використанні двох ґраток, одна з яких повернена відносно іншої, створюється муаровий візерунок, дозволяє підвищити чутливість вимірювання. До того ж цей метод простий в реалізації. Недоліком найближчого аналога є те, що контроль оптичних деталей здійснювався в площині координат (х; у) та не мало змоги досліджувати клейові об'єкти в системі координат (х; у; z). Задачею запропонованої корисної моделі є створення способу контролю з'єднань оптично прозорих матеріалів, що дозволяє отримувати об'ємне зображення з'єднання, а результат вимірювань отримувати у цифровому визначенні, що несе інформацію про розподіл клейового з'єднання в числовому вигляді, при такому способі дослідження знижується кількість браку. Поставлена задача вирішується тим, що пропонується спосіб контролю оптично прозорих матеріалів, який включає реєстрацію зображення клейового з'єднання за допомогою оптикоелектронної цифрової камери та порівняльного аналізу зображення ґратки, що сформовано через еталонний зразок, який відрізняється тим, що зображення ґратки, що пройшло через зразок оптичного матеріалу, формується в оптичному мікроскопі, а порівняльний аналіз з еталоном проводиться шляхом визначення цифрового значення та формування об'ємного зображення з'єднання шляхом фіксації випромінювальної здатності площини дослідження. Позитивний ефект запропонованого технічного рішення полягає в тому, що спосіб за запропонованою корисною моделлю дозволяє отримати об'ємне зображення клейового з'єднання оптично прозорих деталей, що значно покращує якість дослідження та зменшує кількість браку. Приклад реалізації. Реалізацію цього технічного рішення було здійснено на зразках стандартних оптичних клеїв. Було підготовлено 5 зразків клейових з'єднань, що були виготовлені з застосуванням різних видів клеїв й однакового покривного за розміром і товщиною скла (15×15×2 мм), зазор між якими становив 100 мкм. Як мікроскоп використовувався мікроскоп для біологічних досліджень типу БИОЛАМ, який дозволяв проводити контроль зразків на проходження світла. Цифрова камера Novus-130 ВН з ПЗЗ- матрицею Sony 1/3 дюйми, роздільною здатністю 752×582 встановлювалась безпосередньо на окуляр мікроскопа. Як ґратки було використано міри за ГОСТ 15114-78 "Системы телескопические для оптических приборов. Визуальный метод определения предела разрешения". Для контролю було обрано міру, яка відповідала лінійній ділянці кривої контрастності. Випромінювання від галогенної лампи розжарювання проходило через ґратку, потім через клейовий зразок (або еталон), що контролювався, і через оптичну систему мікроскопа, зображення ґратки формувалось на ПЗЗ матриці камери та передавалось на монітор комп'ютера, на якому встановлено спеціалізоване програмне забезпечення об'ємного дослідження (фіг. 1). Результати експериментів показали, що об'ємні зображення клейових з'єднань несуть більше інформації про клейову поверхню, зображення з'єднань в системі (х; у) є малоінформативними й оманливими. Порівняння результатів експериментальних досліджень 1 UA 118192 U одного й того ж зразку в системах координат (х; у) (фіг. 1) й (х; у; z) (фіг. 2) показало, що 40 % площі з'єднання не виконує функції міцності, що призводить до браку з'єднання. Тому можна зробити висновок, що запропонований спосіб є об'єктивним та ефективним. 5 Джерела інформації: 1. М.Н. Семибратов. Технология оптических деталей, - Μ.: Машиностроение, 1978. – 415 с. 2. Маркіна О.М. Качур Н.В. Спосіб контролю оптично прозорих матеріалів, патент України на корисну модель № 95934 від 12.01.2015, бюл. № 1. 10 ФОРМУЛА КОРИСНОЇ МОДЕЛІ 15 Спосіб контролю оптично прозорих матеріалів, який включає реєстрацію зображення клейового з'єднання за допомогою оптико-електронної цифрової камери та порівняльного аналізу зображення ґратки, що сформовано через еталонний зразок, який відрізняється тим, що зображення ґратки, що пройшло через зразок оптичного матеріалу, формується в оптичному мікроскопі, а порівняльний аналіз з еталоном проводиться шляхом визначення цифрового значення та формування об'ємного зображення з'єднання шляхом фіксації випромінювальної здатності площини дослідження. Комп’ютерна верстка В. Мацело Міністерство економічного розвитку і торгівлі України, вул. М. Грушевського, 12/2, м. Київ, 01008, Україна ДП “Український інститут інтелектуальної власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601 2