Патенти з міткою «відбракування»
Спосіб відбракування деталей
Номер патенту: 112213
Опубліковано: 12.12.2016
Автори: Рудковський Михайло Борисович, Добровольська Інна Вікторівна, Мельник Марина Михайлівна
МПК: G01F 17/00
Мітки: деталей, спосіб, відбракування
Формула / Реферат:
1. Спосіб відбракування деталей шляхом контролю об'єму витісненої рідини в посудині, виконаній з мірною камерою, з'єднаною своїми кінцями з завантажувальною камерою, що складається з двох однакових за обсягом частин, розташованих у вертикальній площині одна над одною і обладнаних герметичними кришками, який відрізняється тим, що спочатку виконують мірну камеру з довжиною L і внутрішнім об'ємом V, рівним за величиною допустимого збільшення...
Спосіб відбракування космічних знімків за хмарністю
Номер патенту: 66195
Опубліковано: 26.12.2011
Автори: Парфенюк Василь Григорович, Топольницький Павло Петрович, Загорулько Олександр Миколайович, Ожінський Віктор Васильович
МПК: G05B 17/00
Мітки: хмарністю, спосіб, відбракування, космічних, знімків
Формула / Реферат:
Спосіб відбракування космічних знімків за хмарністю, який полягає в тому, що перед проведенням зйомки здійснюють попереднє оцінювання величини хмарності над районом зйомки бортовим комплексом керування (БКК) космічного апарата, який відрізняється тим що відповідно до отриманого відсотка хмарності та максимально допустимого відсотка для даного знімка рішення про проведення зйомки чи відбракування знімка приймає бортовий комплекс.
Спосіб відбракування напівпровідникових світлодіодів
Номер патенту: 56827
Опубліковано: 25.01.2011
Автори: Ляшенко Олег Всеволодович, Власенко Олександр Іванович, Киселюк Максим Павлович, Велещук Віталій Петрович, Босий Віталій Ісаєвич
МПК: H01L 21/66
Мітки: напівпровідникових, відбракування, спосіб, світлодіодів
Формула / Реферат:
Спосіб відбракування напівпровідникових світлодіодів на основі GaN, GaAs, GaP, який включає вимірювання напруги, який відрізняється тим, що для випробування на надійність світловипромінюючих структур попередньо для зразків із партії, виготовленої в одному технологічному циклі, методами акустичної емісії вимірюють середній струм , при якому виникає акустична емісія, і...
Засіб відбракування монокристалів корунду складної форми
Номер патенту: 22450
Опубліковано: 03.03.1998
Автори: Гончаренко Тетяна Вікторівна, Литвинов Леонід Аркадійович, Піщік Валеріан Володимирович, Добровинська Олена Рувимівна
МПК: G01N 3/40
Мітки: форми, монокристалів, відбракування, корунду, складної, засіб
Формула / Реферат:
Способ отбраковки монокристаллов корунда сложной формы, включающий механическое воздействие посредством вдавливания алмазной пирамидки, отличающийся тем, что вдавливание осуществляют с величиной нагрузки 105-110 г и контролируют отсутствие микротрещин вокруг отпечатка.
Спосіб відбракування напівпровідникових приладів
Номер патенту: 5301
Опубліковано: 28.12.1994
Автори: Коваленко Олег Васильович, Скрипник Юрій Олексійович, Соловйов Іван Іванович
МПК: G01R 31/26, H01H 1/00
Мітки: відбракування, приладів, напівпровідникових, спосіб
Формула / Реферат:
Способ отбраковки полупроводниковых приборов, включающий воздействие на контролируемый прибор тренирующими электропотенциалами и импульсом греющей мощности величиной не менее 1,5 максимально допустимой рассеиваемой мощности, определение изменения параметров контролируемого прибора и сравнение этого изменения с эталонным значением, отличающийся тем, что после воздействия на контролируемый прибор импульсом греющей мощности и в процессе...