Босий Віталій Ісаєвич
Спосіб прихованого маркування об’єкта і його розпізнавання
Номер патенту: 87818
Опубліковано: 25.02.2014
Автори: Ляшенко Олег Всеволодович, Власенко Олександр Іванович, Босий Віталій Ісаєвич, Велещук Віталій Петрович, Киселюк Максим Павлович
МПК: G01R 1/00
Мітки: прихованого, спосіб, маркування, розпізнавання, об'єкта
Формула / Реферат:
Спосіб прихованого маркування об'єкта і його розпізнавання, який включає нанесення на поверхню ділянки з двох шарів напівпровідників і домінуючим механізмом випромінювальної рекомбінації, які створюють р-n-перехід, і нанесення на шарах елементів маркування, який відрізняється тим, що нанесення елементів маркування здійснюють шляхом створення механічних заглиблень в верхньому шарі напівпровідника, а для розпізнавання маркування до...
Спосіб діагностики та характеризації світлодіодних gan структур по електролюмінесценції мікроплазм
Номер патенту: 85050
Опубліковано: 11.11.2013
Автори: Ляшенко Олег Всеволодович, Борщ Володимир Васильович, Власенко Олександр Іванович, Велещук Віталій Петрович, Киселюк Максим Павлович, Власенко Зоя Костянтинівна, Босий Віталій Ісаєвич
МПК: G01R 31/26
Мітки: діагностики, мікроплазм, світлодіодних, структур, спосіб, характеризації, електролюмінесценції
Формула / Реферат:
Спосіб діагностики та характеризації світлодіодних GaN структур, в якому до світлодіодної структури прикладають постійну зворотну напругу і фіксують свічення мікоплазм, який відрізняється тим, що величину зворотної напруги збільшують до максимально можливого неруйнівного значення і вимірюють спектр електролюмінесценції всіх мікоплазм, і за величиною інтенсивності електролюмінесценції та величиною відношення інтенсивностей максимумів синьої...
Пристрій для неактивного тестування світлодіодів
Номер патенту: 65759
Опубліковано: 12.12.2011
Автори: Ляшенко Олег Всеволодович, Босий Віталій Ісаєвич, Велещук Віталій Петрович, Власенко Олександр Іванович, Криськов Цезарій Андрійович, Киселюк Максим Павлович, Криськов Анатолій Андрійович
МПК: G01R 31/02
Мітки: пристрій, неактивного, світлодіодів, тестування
Формула / Реферат:
Пристрій для неактивного тестування світлодіодів, який містить джерело живлення, вихід якого з'єднаний з клемами для підключення виводів світлодіодів, які перевіряються, і з'єднаними з ними і між собою вимірювальними пристроями, який відрізняється тим, що застосовується джерело живлення постійного струму і паралельно до нього під'єднано додаткове джерело живлення постійної напруги, а як вимірювальні пристрої використовуються амперметр та...
Спосіб відбракування напівпровідникових світлодіодів
Номер патенту: 56827
Опубліковано: 25.01.2011
Автори: Босий Віталій Ісаєвич, Ляшенко Олег Всеволодович, Власенко Олександр Іванович, Велещук Віталій Петрович, Киселюк Максим Павлович
МПК: H01L 21/66
Мітки: світлодіодів, напівпровідникових, відбракування, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб відбракування напівпровідникових світлодіодів на основі GaN, GaAs, GaP, який включає вимірювання напруги, який відрізняється тим, що для випробування на надійність світловипромінюючих структур попередньо для зразків із партії, виготовленої в одному технологічному циклі, методами акустичної емісії вимірюють середній струм , при якому виникає акустична емісія, і...