Нічий Сергій Васильович

Номер патенту: 82724

Опубліковано: 12.08.2013

Автори: Нічий Сергій Васильович, Політанський Леонід Францович, Грицюк Богдан Миколайович

МПК: H01L 23/32

Мітки: шотткі, створення, бар'єрів, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб створення бар'єрів Шотткі за допомогою лазерного випромінювання, який відрізняється тим, що в область формування бар'єра на поверхню напівпровідникового матеріалу попередньо наносять розчин солі металу, з роботою виходу електрона, що забезпечує отримання випрямляючого контакту з напівпровідником, після чого проводять обробку даної області поверхні імпульсним лазерним випромінюванням з енергією, яка забезпечує термічний відпал...

Номер патенту: 69106

Опубліковано: 25.04.2012

Автори: Грицюк Богдан Миколайович, Громко Євген Дмитрович, Нічий Сергій Васильович

МПК: H01L 21/263

Мітки: напівпровідникових, створення, матеріалів, контактів, омічних, спосіб

Формула / Реферат:

Спосіб створення омічних контактів до напівпровідникових матеріалів, шляхом обробки поверхні напівпровідника імпульсним лазерним випромінюванням, який відрізняється тим, що в область формування контакту попередньо наносять розчин солі металу, робота виходу електрона якого забезпечує омічний контакт з напівпровідником, після чого проводять обробку даної області поверхні імпульсним лазерним випромінюванням з енергією, яка забезпечує проплавку...

Номер патенту: 32573

Опубліковано: 26.05.2008

Автор: Нічий Сергій Васильович

МПК: G01N 27/00

Мітки: вимірювання, холла, матеріалів, спосіб, коефіцієнта, напівпровідникових

Формула / Реферат:

1. Спосіб вимірювання коефіцієнта Холла напівпровідникових матеріалів при включеному та виключеному магнітному полі, який відрізняється тим, що через зразок пропускають лінійнозмінний струм, включають магнітне поле, вимірюють приріст напруги  між вимірювальними зондами і приріст струму () за один і той...

Номер патенту: 32572

Опубліковано: 26.05.2008

Автор: Нічий Сергій Васильович

МПК: G01N 27/00

Мітки: матеріалів, провідності, вимірювання, питомої, напівпровідникових, спосіб, однорідних

Формула / Реферат:

1. Спосіб вимірювання питомої провідності однорідних напівпровідникових матеріалів на зразках правильної геометричної форми двозондовим методом, який відрізняється тим, що через зразок пропускають лінійнозмінний струм і значення питомої провідності визначають як величину, яка пропорційна відношенню приросту струму до приросту напруги між вимірювальними зондами на лінійній ділянці лінійнозмінного струму, за один і той же проміжок...