Решетник Олег Васильович
Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів
Номер патенту: 44121
Опубліковано: 15.01.2002
Автори: Лень Євген Георгійович, Оліховський Степан Йосипович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Шпак Анатолій Петрович, Решетник Олег Васильович, Остафійчук Богдан Костянтинович, Кисловський Євген Миколайович, Владімірова Тетяна Петрівна
МПК: G01N 23/20, G01N 23/00
Мітки: контролю, структурної, спосіб, монокристалів, досконалості
Формула / Реферат:
Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...