Лень Євген Георгійович
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів
Номер патенту: 89594
Опубліковано: 10.02.2010
Автори: Первак Катерина Вадимівна, Носик Валєрій Лєонідовіч, Молодкін Вадим Борисович, Гинько Ігор Володимирович, Лень Євген Георгійович, Білоцька Алла Олексіївна, Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Віталій Вадимович, Булавін Леонід Анатолійович, Низкова Ганна Іванівна, Татаренко Валентин Андрійович, Сторижко Володимир Юхимович, Айс Джин Емері, Барабаш Роза Ісаківна, Кисловський Євген Миколайович, Шпак Анатолій Петрович, Карнаухов Іван Михайлович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч
МПК: G01N 23/20
Мітки: типами, діагностики, дефектів, декількома, багатопараметричної, структурної, монокристалів, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів
Номер патенту: 36075
Опубліковано: 10.10.2008
Автори: Первак Катерина Вадимівна, Ковальчук Михайло Валентинович, Оліховський Степан Йосипович, Низкова Ганна Іванівна, Молодкін Вадим Борисович, Білоцька Алла Олексіївна, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Віталій Вадимович, Лень Євген Георгійович, Гинько Ігор Володимирович, Шпак Анатолій Петрович
МПК: G01N 23/20
Мітки: монокристалів, спосіб, структурної, дефектів, декількома, діагностики, типами, багатопараметричної
Формула / Реферат:
Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...
Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів
Номер патенту: 44121
Опубліковано: 15.01.2002
Автори: Решетник Олег Васильович, Владімірова Тетяна Петрівна, Остафійчук Богдан Костянтинович, Оліховський Степан Йосипович, Лень Євген Георгійович, Шпак Анатолій Петрович, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Немошкаленко Володимир Володимирович
МПК: G01N 23/00, G01N 23/20
Мітки: монокристалів, досконалості, спосіб, контролю, структурної
Формула / Реферат:
Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...