Владімірова Тетяна Петрівна
Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів
Номер патенту: 44121
Опубліковано: 15.01.2002
Автори: Остафійчук Богдан Костянтинович, Шпак Анатолій Петрович, Владімірова Тетяна Петрівна, Молодкін Вадим Борисович, Лень Євген Георгійович, Кисловський Євген Миколайович, Решетник Олег Васильович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Оліховський Степан Йосипович
МПК: G01N 23/20, G01N 23/00
Мітки: монокристалів, досконалості, структурної, контролю, спосіб
Формула / Реферат:
Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів, який полягає в тому, що досліджуваний зразок опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі l і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють залежність дифрагованої інтенсивності , де...