Безконтактний тривимірний профілометр
Номер патенту: 39972
Опубліковано: 25.03.2009
Автори: Юцкевич Святослав Сергійович, Закієв Іслам Мусаєвич, Закієв Вадим Ісламович, Ігнатович Сергій Ромуальдович
Формула / Реферат
Безконтактний тривимірний профілометр, що містить джерело білого світла, світловіддільник, призначений для формування опорного й вимірювального пучків випромінювання, еталонне дзеркало, встановлене в ході опорного пучка випромінювання, ПЗЗ матрицю (прилад з зарядовим зв'язком) із системою обробки інформації, встановлену у ході суміщених пучків випромінювання, який відрізняється тим, що засіб для зміни оптичної різниці ходу між опорним і вимірювальним пучками випромінювання виконаний у вигляді плоских пружин із закріпленим еталонним дзеркалом з можливістю переміщення за допомогою електромагнітного рушія, а тривимірний профіль побудований за послідовністю відеокадрів з наступним присвоєнням висоті кожній точці номера кроку, при якому отримана максимальна інтенсивність, причому від отриманого результату віднятий профіль зразкової поверхні, попередньо зареєстрований і збережений у пам'яті.
Текст
Безконтактний тривимірний профілометр, що містить джерело білого світла, світловіддільник, призначений для формування опорного й вимірювального пучків випромінювання, еталонне дзеркало, встановлене в ході опорного пучка випромі 3 На кресленні зображена блок-схема безконтактного тривимірного профілометру. Безконтактний тривимірний профілометр включає джерело білого світла 1, встановлений по ходу випромінювання світловіддільник 2, який формує опорний і вимірювальний пучки випромінювання. У ході вимірювального пучка встановлена поверхня для реєстрації 3. У ході опорного пучка встановлене еталонне дзеркало 4, закріплене до корпуса за допомогою штока 5 і плоских пружин 6. Протилежний кінець штока 5 закріплений до якоря 7, який розташований у магнітному полі постійного магніту 8. ЦАП 9, включений входом до ЕОМ 10, а виходом до якоря 7, призначений для керування струмом, що проходить по якорю, а відповідно й положенням еталонного дзеркала 4. У ході суміщених опорного й вимірювального пучків установлена ПЗЗ матриця 11, підключена до ЕОМ 10 для обробки інформації. Прилад працює таким чином. Пучок випромінювання від джерела 1 ділиться світловіддільником 2 на вимірювальний, котрий надходить на поверхню для реєстрації 3 й опорний, спрямований на еталонне дзеркало 4. Відбившись від досліджуваної поверхні 3 й еталонного дзеркала 4 пучки сполучаються світловіддільником 2 й утворюють інтерференційну картину на поверхні ПЗЗ матриці 11, інтенсивність якої в кожній точці одночасно обчислюється ЕОМ 10. Для здійснення зміни фази в опорному каналі за заданим законом за допомогою ПО й ЦАП 9 регулюють струм на якорі 7, а відповідно й силу, яка діє на плоскі пружини 6 через шток 5. Причому, сила, яка діє на шток 5 і величина прогину плоских пружин 6, прямо пропорційна струму, який проходить через якір 7, тому що ширина якоря 7 більше 39972 4 ширини магнітного поля, який перетинає якір 7. Тобто величина зсуву еталонного дзеркала 4 прямо пропорційна величині струму, який проходить через якір 7 постійного магніту 8. Для реєстрації тривимірного профілю поверхні покроково переміщується еталонне дзеркало й по послідовності відеокадрів визначають максимуми інтенсивності (яскравості) у кожній точці поверхні, що проецюється на ПЗЗ матрицю. А висота кожної точки буде дорівнюти кількості кроків, при якій досягається максимум інтенсивності. Якщо, наприклад, у якійсь точці максимум інтенсивності досяг на 10-тім кроці, а один крок еталонного дзеркала дорівнює 1нм, то висота цієї точки дорівнює 10нм і т.д. у всіх точках. Приклад. Плоскі пружини виконані з листової сталі товщиною 0,1мм і шириною 2мм, якір намотаний в 2 шари дротом товщиною 0,1мм на замкнутому алюмінієвому кільці для демпфірування коливань за рахунок виникаючих у кільці протидіючих струмів. Електромагнітний рушій еталонного дзеркала виконаний на подобу мініатюрного динаміка. Наприклад, при установці на мікроінтерферометр МІІ-4 замість нерухомого еталонного дзеркала рухливого, із пропонованим електромагнітним рушієм і відповідним ПО для визначення максимальної яскравості в кожній точці поверхні, що проецюється на ПЗЗ матрицю, установленої замість фотоапарата, то можна реєструвати як тривимірні, так і двовимірні профілі поверхні (див. додаток А). Джерела інформації 1. Авторське свідоцтво SU 1816313 A3, 1990. 2. И.М. Нагибина, В.А. Москалев, H.A. Полушкина, В.Л. Рудин. Прикладная физическая оптикаΜ.: Высш. шк., 2002. - 565с. 5 Комп’ютерна верстка Л.Литвиненко 39972 6 Підписне Тираж 28 прим. Міністерство освіти і науки України Державний департамент інтелектуальної власності, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюContact-less three-dimensional profile measuring device
Автори англійськоюIhnatovych Serhii Romualdovych, Zakiev Islam Musaievych, Zakiev Vadym Islamovych, Yutskevych Sviatoslav Serhiiovych
Назва патенту російськоюБесконтактный трехмерный профилометр
Автори російськоюИгнатович Сергей Ромуальдович, Закиев Ислам Мусаевич, Закиев Вадим Исламович, Юцкевич Святослав Сергеевич
МПК / Мітки
МПК: G01B 9/02, G01B 11/30
Мітки: профілометр, тривимірний, безконтактний
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-39972-bezkontaktnijj-trivimirnijj-profilometr.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Безконтактний тривимірний профілометр</a>
Попередній патент: Гідравлічний реактивний привід несучих (повітряних) гвинтів вертольота
Наступний патент: Варіант конструкції підвісної системи десантного парашута
Випадковий патент: Спосіб моделювання клінічної смерті