Спосіб визначення температури кюрі напівпровідникових матеріалів
Формула / Реферат
Спосіб визначення температури Кюрі напівпровідникових матеріалів, що включає її знаходження шляхом розрахунку, який відрізняється тим, що для матеріалу. експериментально визначають енергію поздовжнього оптичного фонона, а температуру Кюрі визначають з виразу
, Κ,
де енергія поздовжнього фонона вимірюється в меВ.
Текст
Спосіб визначення температури Кюрі напівпровідникових матеріалів, що включає її знахо дження шляхом розрахунку, який відрізняється тим, що для матеріала експериментально визначають енергію поздовжнього оптичного фонона, а температуру Кюрі визначають з виразу Tк 5,8 0 130 , Κ, Корисна модель належить до техніки визначення фізичних параметрів напівпровідникових матеріалів, зокрема, температури магнітного фазового переходу, тобто температури Кюрі. В останні роки різко виріс інтерес до напівпровідникових матеріалів, легованих домішками з незаповненими 3d- та 4f-оболонками. Їх особливість - наявність нескомпенсованого магнітного моменту, а матеріал при температурі, меншій від деякої критичної Тк (температура Кюрі) переходить у магнітовпорядкований стан [1]. Зрозуміло, що з практичної точки зору бажано вибирати напівпровідник з якомога більшою величиною Тк, оскільки при Т > Тк він переходить у невпорядкований (парамагнітний) стан і стає непридатним для виготовлення елементів магнето-електроніки, які б могли працювати в області високих температур. У зв'язку з цим важливим є визначення температури Кюрі для кожного конкретного матеріалу. Якщо для магнітних металевих сплавів ця задача давно вирішена, то для напівпровідників з магнітними домішками - залишається досить складною, що викликано низкою причин. Перша з них полягає в тому, що експериментальне визначення Тк з температурних залежностей магнетоопору ρв або магнітної сприйнятливості χв потребують досліджень у широкому температурному діапазоні, включаючи й область кріогенних температур. Друга причина пов'язана з проблемами створення якісних омічних контактів до зразків, призначених для вимірювання магнетоопору. У випадку нелінійності їх вольт-амперних характеристик залежність ρв(Т) спотворюється і може бути далекою від реальної, що у свою чергу викликає невизначеність Τк. Дослідження магнітної сприйнятливості χΒ хоча й не потребує зразків з омічними контактами, однак вимагає використання прецизійних вимірювань слабких сил діючих, на зразки з боку магнітного поля В. Зауважимо також, що розглянуті вище експериментальні методи у більшості випадків потребують температур значно нижчих від 300 К, що робить їх складними і вартісними. Альтернативним може бути теоретичний підхід, вибраний нами як найближчий аналог. Він враховує, що потенціальна енергія двох сусідніх атомів описується виразом [1] (13) 67458 (11) UA також взаємної орієнтації спінів S1 , і S2 . Базуючись на викладених вище принципах автор [2] розрахував величини U0 і А (а з них і температури Кюрі) для низки відомих напівпровідників, які містять домішкові атоми Μn у катіонній підґратці. Для матеріалів з відомими експериментальними значеннями Тк, останні непогано корелюють з розрахунковими. Використання даного теоретичного підходу для інших напівпровідників є складною задачею, оскільки вимагає додаткової інформації про низку макро- і мікропараметрів матеріалу, причому деякі з них також визначають лише розрахунковим шляхом. У зв'язку з цим актуальним є пошук інших методів знаходження температури Кюрі, особливо для нових напівмагнітних напівпровідників, число яких постійно зростає. (19) U U0 2AS1 S2 (1). Тут U0 визначається кулонівською взаємодією, а А - обмінний інтеграл, який залежить від відстані між атомами r12, їх хвильових функцій ψ1 і ψ2, а U де енергія поздовжнього фонона 0 вимірюється в меВ. 3 Задача корисної моделі - спрощення визначення температури Кюрі, напівпровідників з магнітними домішками. Нами пропонується емпіричний вираз, який зв'язує температуру Кюрі з енергією поздовжнього оптичного фонона ħω0(LO-фонона) залежністю. Tк ≈ 5,8·ħω0-130,K, (2) де ħω0 вимірюється в меВ. На фіг. 1 суцільною лінією зображено залежність (2). Заповнені кружечки належать до експериментальних, а незаповнені - до теоретичних значень Тк, наведені у [2]. Відповідні величини ħω0 для кожного з напівпровідників взято з роботи [3]. На фіг. 2 наведено перша Νω та друга Ν"ω похідні спектрів люмінесценції шарів ZnSe:Mn (а) і CdSe:Mn (б), а також спектри раманівського розсіяння шарів ZnO:Mn (в). Виявлена залежність є основою запропонованого способу визначення температури для будьякого напівпровідникового матеріалу, що містить домішку 3d- або 4f-елементів. Для цього експериментально знаходять енергію LO-фонона, а Тк визначають із залежності (2). Величину ħω0 знаходять зі спектрів люмінесценції раманівського розсіяння або люмінесценції матеріалу при 300 К, у зв'язку з чим відпадає необхідність використання низьких температур. Запропонований метод апробовано на двох широкозонних II-VI сполуках, для яких відсутні експериментальні значення температури Кюрі. Базовим матеріалом слугували пластинки, які були вирізані з об'ємних бездомішкових кристалів ZnSe, вирощених з розплаву під тиском інертного газу. Легування пластинок марганцем здійснювалось шляхом дифузії у закритому об'ємі, у результаті чого утворювались шари ZnSe:Mn [4]. Для виготовлення гетерошарів ZnO:Mn зразки з шаром ZnSe:Mn відпалювались на повітрі. Утворення нової сполуки ZnO на підкладинках ZnSe у результаті проведених відпалів підтверджується результатами досліджень спектрів оптичного відбивання [5]. 67458 4 На фіг. 2 наведено перша Ν'ω похідна звичайного спектра люмінесценції ZnSe:Mn, а також спе ктри раманівського розсіяння I~ шарів ZnO:Mn (де ~ 1 - спектроскопічна частота, яка вимірюється -1 в см ). Підстановка у вираз (2), знайдених зі спектрів величина ħω0 дозволила розрахувати для цих матеріалів значення Тк, які на фіг. 1 зображено незаповненими квадратиками. Як видно з приведених даних, знайдені Тк не суперечать виявленій закономірності зменшенню температури Кюрі для матеріалів з меншою величиною LO-фонона. Звернемо увагу на те, що для ZnSe:Mn експериментальне знаходження Тк із залежностей ρв(Т) і χв(Т) потребує досліджень в околі температур ~30 К, в той час як запропонований метод обмежився вимірюванням спектрів люмінесценції при 300 К. Таким чином, визначення температури Кюрі напівпровідника з магнітними домішками фактично зводиться до знаходження енергії LO-фонона у ньому, яку зазвичай, отримують зі спектрів люмінесценції або раманівського розсіяння, виміряних при кімнатних температурах. Джерела інформації: 1. Нагаев Э. Л. Физика магнитных полупроводников. М.: Наука, 1979. - 342 с. 2. Dietl Т. Spintronics and ferromagnetism in wide-band-gap semiconductors. // Physics of semiconductors - American Institute of Physics, 2005, P. 56-61. 3. Физические величины: Справочник. / Под ред. И. С. Григорьева, Е. З. Мейлихова. - М.: Энергоатомиздат, 1991. - С. 454-542. 4. Махній В. П., Кінзерська О. В., Ульяницький С. К. Спосіб легування селеніду цинку домішками перехідних металів. // Патент на корисну модель UA46928 опубл. 11.01.2010, Бюл. № 1, 2010 р. 5. Махній В. П., Хуснутдінов С. В. Спосіб виготовлення гетерошарів оксиду цинку. // Патент на корисну модель UA31870 опубл. 25.04.2008, Бюл. № 8, 2008 р. 5 67458 6 Комп’ютерна верстка І. Скворцова Державна служба інтелектуальної власності України, вул. Урицького, 45, м. Київ, МСП, 03680, Україна ДП “Український інститут промислової власності”, вул. Глазунова, 1, м. Київ – 42, 01601
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюMethod for semiconductor material curie temperature determination
Автори англійськоюMakhnii Viktor Petrovych
Назва патенту російськоюСпособ определения температуры кюри полупроводниковых материалов
Автори російськоюМахний Виктор Петрович
МПК / Мітки
МПК: H01L 21/66
Мітки: кюрі, температури, матеріалів, напівпровідникових, визначення, спосіб
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/3-67458-sposib-viznachennya-temperaturi-kyuri-napivprovidnikovikh-materialiv.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб визначення температури кюрі напівпровідникових матеріалів</a>
Попередній патент: Процес отримання сурми
Наступний патент: Труба теплообмінника
Випадковий патент: Пристрій для вимірювання концентрації газу