Патенти з міткою «самотестування»
Мікросхема пам’яті з вбудованими засобами самотестування, стиснення діагностичної інформації та відновлення працездатності
Номер патенту: 82048
Опубліковано: 25.07.2013
Автори: Рябцев Володимир Григорович, Уткіна Тетяна Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G11C 7/00
Мітки: інформації, працездатності, стиснення, мікросхема, засобами, пам'яті, діагностичної, відновлення, вбудованими, самотестування
Формула / Реферат:
Мікросхема пам'яті з вбудованими засобами самотестування, стиснення діагностичної інформації та відновлення працездатності, яка містить масив запам'ятовуючих комірок, резервні рядки і стовпці комірок, дешифратори рядків і стовпців, вбудовані засоби самотестування та відновлення працездатності, комутатори кодів операцій і адреси, шинний формувач кодів даних, перший вхід/вихід якого підключено до першого входу/виходу мікросхеми пам'яті, другий...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами самотестування та ремонту
Номер патенту: 69073
Опубліковано: 25.04.2012
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович, Пилипець Сергій Сергійович, Рябцев Володимир Григорович
МПК: G11C 7/00
Мітки: мікросхема, ремонту, вбудованими, пам'яті, самотестування, засобами, напівпровідникової
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами самотестування та ремонту, що містить основний масив запам'ятовуючих комірок, контролер самотестування, генератори кодів адреси та даних, мультиплексори кодів операцій МХ1, адреси МХ2 і даних МХ3, компаратор, причому перші, другі та треті виходи контролера самотестування підключені до перших входів мультиплексора кодів операцій МХ1, генератора кодів адреси і генератора кодів даних...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами забезпечення допустимого теплового режиму самотестування
Номер патенту: 68985
Опубліковано: 25.04.2012
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Рябцев Володимир Григорович, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G11C 7/00
Мітки: режиму, засобами, самотестування, теплового, вбудованими, пам'яті, напівпровідникової, забезпечення, мікросхема, допустимого
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами забезпечення допустимого теплового режиму самотестування, яка містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X, Y, входи яких підключені до виходів комутатора адреси X і комутатора адреси Y відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами самотестування та захистом від перегрівання
Номер патенту: 56581
Опубліковано: 25.01.2011
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович, Рябцев Володимир Григорович
МПК: G11C 7/00
Мітки: захистом, вбудованими, самотестування, перегрівання, напівпровідникової, мікросхема, пам'яті, засобами
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами самотестування та захистом від перегрівання, яка містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X, Y, входи яких підключені до виходів комутатора адреси X і комутатора адреси Y відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені до перших...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами багатоверсійного самотестування
Номер патенту: 49179
Опубліковано: 26.04.2010
Автори: Андрієнко Володимир Олександрович, Рябцев Володимир Григорович, Уткіна Тетяна Юріївна
МПК: G11C 7/00
Мітки: вбудованими, мікросхема, напівпровідникової, багатоверсійного, самотестування, засобами, пам'яті
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами багатоверсійного самотестування, що містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X,Y, входи яких підключені до виходів комутатора адреси Х і комутатора адреси Y відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені до перших входів/виходів...
Мікросхема напівпровідникової пам`яті з вбудованими засобами самотестування
Номер патенту: 47842
Опубліковано: 25.02.2010
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Рябцев Володимир Григорович, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G11C 7/00
Мітки: засобами, напівпровідникової, мікросхема, вбудованими, пам'яті, самотестування
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами самотестування, яка містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X, Y, входи яких підключені до виходів комутатора 1 і комутатора 2 відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені до перших входів/виходів елементів введення/виведення,...