Рябцев Володимир Григорович
Напівпровідниковий запам’ятовуючий пристрій з відновленням працездатності при багатократних відмовах
Номер патенту: 82607
Опубліковано: 12.08.2013
Автори: Андрієнко Володимир Олександрович, Рябцев Володимир Григорович, Колпаков Іван Олександрович, Уткіна Тетяна Юріївна
МПК: G11C 7/00
Мітки: працездатності, напівпровідниковий, пристрій, відновленням, відмовах, запам'ятовуючий, багатократних
Формула / Реферат:
Напівпровідниковий запам'ятовуючий пристрій з відновленням працездатності при багатократних відмовах, який містить основний і запасний масиви запам'ятовуючих комірок, контролер самотестування, генератори кодів адреси і даних, мультиплексори кодів операцій, адреси і даних, компаратор, причому перші, другі і треті виходи контролера самотестування підключені до перших входів мультиплексора коду операцій, генератора коду адреси і генератора коду...
Мікросхема пам’яті з вбудованими засобами самотестування, стиснення діагностичної інформації та відновлення працездатності
Номер патенту: 82048
Опубліковано: 25.07.2013
Автори: Андрієнко Володимир Олександрович, Рябцев Володимир Григорович, Уткіна Тетяна Юріївна
МПК: G11C 7/00
Мітки: відновлення, засобами, мікросхема, працездатності, вбудованими, діагностичної, пам'яті, інформації, самотестування, стиснення
Формула / Реферат:
Мікросхема пам'яті з вбудованими засобами самотестування, стиснення діагностичної інформації та відновлення працездатності, яка містить масив запам'ятовуючих комірок, резервні рядки і стовпці комірок, дешифратори рядків і стовпців, вбудовані засоби самотестування та відновлення працездатності, комутатори кодів операцій і адреси, шинний формувач кодів даних, перший вхід/вихід якого підключено до першого входу/виходу мікросхеми пам'яті, другий...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами самотестування та ремонту
Номер патенту: 69073
Опубліковано: 25.04.2012
Автори: Пилипець Сергій Сергійович, Уткіна Тетяна Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович, Рябцев Володимир Григорович
МПК: G11C 7/00
Мітки: пам'яті, ремонту, засобами, самотестування, мікросхема, вбудованими, напівпровідникової
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами самотестування та ремонту, що містить основний масив запам'ятовуючих комірок, контролер самотестування, генератори кодів адреси та даних, мультиплексори кодів операцій МХ1, адреси МХ2 і даних МХ3, компаратор, причому перші, другі та треті виходи контролера самотестування підключені до перших входів мультиплексора кодів операцій МХ1, генератора кодів адреси і генератора кодів даних...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами забезпечення допустимого теплового режиму самотестування
Номер патенту: 68985
Опубліковано: 25.04.2012
Автори: Андрієнко Володимир Олександрович, Рябцев Володимир Григорович, Уткіна Тетяна Юріївна
МПК: G11C 7/00
Мітки: пам'яті, допустимого, режиму, самотестування, забезпечення, засобами, вбудованими, теплового, напівпровідникової, мікросхема
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами забезпечення допустимого теплового режиму самотестування, яка містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X, Y, входи яких підключені до виходів комутатора адреси X і комутатора адреси Y відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами самотестування та захистом від перегрівання
Номер патенту: 56581
Опубліковано: 25.01.2011
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович, Рябцев Володимир Григорович
МПК: G11C 7/00
Мітки: вбудованими, захистом, мікросхема, засобами, самотестування, напівпровідникової, перегрівання, пам'яті
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами самотестування та захистом від перегрівання, яка містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X, Y, входи яких підключені до виходів комутатора адреси X і комутатора адреси Y відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені до перших...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами багатоверсійного самотестування
Номер патенту: 49179
Опубліковано: 26.04.2010
Автори: Андрієнко Володимир Олександрович, Уткіна Тетяна Юріївна, Рябцев Володимир Григорович
МПК: G11C 7/00
Мітки: засобами, самотестування, мікросхема, багатоверсійного, пам'яті, вбудованими, напівпровідникової
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами багатоверсійного самотестування, що містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X,Y, входи яких підключені до виходів комутатора адреси Х і комутатора адреси Y відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені до перших входів/виходів...
Мікросхема напівпровідникової пам`яті з вбудованими засобами самотестування
Номер патенту: 47842
Опубліковано: 25.02.2010
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Рябцев Володимир Григорович, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G11C 7/00
Мітки: вбудованими, пам'яті, напівпровідникової, засобами, самотестування, мікросхема
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами самотестування, яка містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X, Y, входи яких підключені до виходів комутатора 1 і комутатора 2 відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені до перших входів/виходів елементів введення/виведення,...
Прилад для тестування напівпровідникової пам’яті
Номер патенту: 40675
Опубліковано: 27.04.2009
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Рябцев Володимир Григорович, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G11C 29/00
Мітки: тестування, пам'яті, прилад, напівпровідникової
Формула / Реферат:
Прилад для тестування напівпровідникової пам'яті, який містить змінне джерело електроживлення, блок зв'язку з персональним комп'ютером, блок керування та індикації, входи/виходи яких через шину зв'язку з'єднані з першими входами/виходами интерфейсного блока, другі входи/виходи якого з'єднані з входами/виходами генератора тактових імпульсів, а треті входи/виходи інтерфейсного блока з'єднані з входами/виходами формувача синхросигналів, виходи...