Уткіна Тетяна Юріївна
Цифро-аналоговий перетворювач
Номер патенту: 115415
Опубліковано: 25.10.2017
Автори: Лукашенко Дмитро Андрійович, Лукашенко Володимир Андрійович, Уткіна Тетяна Юріївна, Лукашенко Андрій Германович, Лукашенко Валентина Максимівна
Мітки: цифро-аналоговий, перетворювач
Формула / Реферат:
Цифро-аналоговий перетворювач, що містить операційний підсилювач, резисторну матрицю типу R-2R, резистор оберненого зв'язку, дві шини живлення, шину загального потенціалу, шину опорної напруги, n-розрядні комірки, причому кожна n-розрядна комірка містить вхідну розрядну шину, перший захисний діод, перший та другий МДП-ключі, перший транзистор скидання, перший транзистор управління, другий захисний діод, вихід якого підключений до шини...
Напівпровідниковий запам’ятовуючий пристрій з відновленням працездатності при багатократних відмовах
Номер патенту: 82607
Опубліковано: 12.08.2013
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович, Колпаков Іван Олександрович, Рябцев Володимир Григорович
МПК: G11C 7/00
Мітки: запам'ятовуючий, працездатності, багатократних, відмовах, відновленням, пристрій, напівпровідниковий
Формула / Реферат:
Напівпровідниковий запам'ятовуючий пристрій з відновленням працездатності при багатократних відмовах, який містить основний і запасний масиви запам'ятовуючих комірок, контролер самотестування, генератори кодів адреси і даних, мультиплексори кодів операцій, адреси і даних, компаратор, причому перші, другі і треті виходи контролера самотестування підключені до перших входів мультиплексора коду операцій, генератора коду адреси і генератора коду...
Мікросхема пам’яті з вбудованими засобами самотестування, стиснення діагностичної інформації та відновлення працездатності
Номер патенту: 82048
Опубліковано: 25.07.2013
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Андрієнко Володимир Олександрович, Рябцев Володимир Григорович
МПК: G11C 7/00
Мітки: стиснення, вбудованими, працездатності, інформації, пам'яті, самотестування, відновлення, діагностичної, засобами, мікросхема
Формула / Реферат:
Мікросхема пам'яті з вбудованими засобами самотестування, стиснення діагностичної інформації та відновлення працездатності, яка містить масив запам'ятовуючих комірок, резервні рядки і стовпці комірок, дешифратори рядків і стовпців, вбудовані засоби самотестування та відновлення працездатності, комутатори кодів операцій і адреси, шинний формувач кодів даних, перший вхід/вихід якого підключено до першого входу/виходу мікросхеми пам'яті, другий...
Кусково-лінійний апроксиматор
Номер патенту: 77797
Опубліковано: 25.02.2013
Автори: Лукашенко Дмитро Андрійович, Лукашенко Валентина Максимівна, Лукашенко Андрій Германович, Лукашенко Володимир Андрійович, Зубко Ігор Анатолійович, Уткіна Тетяна Юріївна
МПК: G06G 7/26
Мітки: апроксиматор, кусково-лінійний
Формула / Реферат:
Кусково-лінійний апроксиматор, що містить джерело опорних напруг, перша і друга групи виходів якого підключені відповідно до опорних входів блока компараторів та інформаційних входів першої перемикальної матриці, інформаційний вхід апроксиматора підключений до інформаційного входу блока компараторів, підключеного виходами до керуючих входів першої перемикальної матриці, виходи якої з'єднані з входами підсумовуючого операційного підсилювача,...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами самотестування та ремонту
Номер патенту: 69073
Опубліковано: 25.04.2012
Автори: Андрієнко Володимир Олександрович, Рябцев Володимир Григорович, Пилипець Сергій Сергійович, Уткіна Тетяна Юріївна
МПК: G11C 7/00
Мітки: пам'яті, самотестування, вбудованими, напівпровідникової, ремонту, мікросхема, засобами
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами самотестування та ремонту, що містить основний масив запам'ятовуючих комірок, контролер самотестування, генератори кодів адреси та даних, мультиплексори кодів операцій МХ1, адреси МХ2 і даних МХ3, компаратор, причому перші, другі та треті виходи контролера самотестування підключені до перших входів мультиплексора кодів операцій МХ1, генератора кодів адреси і генератора кодів даних...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами забезпечення допустимого теплового режиму самотестування
Номер патенту: 68985
Опубліковано: 25.04.2012
Автори: Рябцев Володимир Григорович, Андрієнко Володимир Олександрович, Уткіна Тетяна Юріївна
МПК: G11C 7/00
Мітки: допустимого, засобами, пам'яті, мікросхема, теплового, вбудованими, забезпечення, напівпровідникової, режиму, самотестування
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами забезпечення допустимого теплового режиму самотестування, яка містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X, Y, входи яких підключені до виходів комутатора адреси X і комутатора адреси Y відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами самотестування та захистом від перегрівання
Номер патенту: 56581
Опубліковано: 25.01.2011
Автори: Рябцев Володимир Григорович, Андрієнко Володимир Олександрович, Уткіна Тетяна Юріївна
МПК: G11C 7/00
Мітки: вбудованими, самотестування, мікросхема, напівпровідникової, перегрівання, засобами, пам'яті, захистом
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами самотестування та захистом від перегрівання, яка містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X, Y, входи яких підключені до виходів комутатора адреси X і комутатора адреси Y відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені до перших...
Мікросхема напівпровідникової пам’яті з вбудованими засобами багатоверсійного самотестування
Номер патенту: 49179
Опубліковано: 26.04.2010
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Рябцев Володимир Григорович, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G11C 7/00
Мітки: самотестування, мікросхема, пам'яті, напівпровідникової, засобами, вбудованими, багатоверсійного
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами багатоверсійного самотестування, що містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X,Y, входи яких підключені до виходів комутатора адреси Х і комутатора адреси Y відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені до перших входів/виходів...
Мікросхема напівпровідникової пам`яті з вбудованими засобами самотестування
Номер патенту: 47842
Опубліковано: 25.02.2010
Автори: Уткіна Тетяна Юріївна, Рябцев Володимир Григорович, Андрієнко Володимир Олександрович
МПК: G11C 7/00
Мітки: мікросхема, напівпровідникової, самотестування, вбудованими, пам'яті, засобами
Формула / Реферат:
Мікросхема напівпровідникової пам'яті з вбудованими засобами самотестування, яка містить масив комірок пам'яті, оснащений дешифраторами адреси X, Y, входи яких підключені до виходів комутатора 1 і комутатора 2 відповідно, і підсилювачами зчитування, входи/виходи яких підключені до перших входів/виходів селектора і перших входів компаратора даних, другі входи/виходи селектора підключені до перших входів/виходів елементів введення/виведення,...
Прилад для тестування напівпровідникової пам’яті
Номер патенту: 40675
Опубліковано: 27.04.2009
Автори: Андрієнко Володимир Олександрович, Рябцев Володимир Григорович, Уткіна Тетяна Юріївна
МПК: G11C 29/00
Мітки: пам'яті, напівпровідникової, прилад, тестування
Формула / Реферат:
Прилад для тестування напівпровідникової пам'яті, який містить змінне джерело електроживлення, блок зв'язку з персональним комп'ютером, блок керування та індикації, входи/виходи яких через шину зв'язку з'єднані з першими входами/виходами интерфейсного блока, другі входи/виходи якого з'єднані з входами/виходами генератора тактових імпульсів, а треті входи/виходи інтерфейсного блока з'єднані з входами/виходами формувача синхросигналів, виходи...