Спосіб виявлення дефектного приповерхневого шару оптичного скла
Номер патенту: 67516
Опубліковано: 15.06.2004
Автори: Бондаренко Максим Олексійович, Канашевич Георгій Вікторович, Дубровська Галина Миколаївна
Формула / Реферат
Спосіб виявлення дефектного приповерхневого шару оптичного скла, що включає попередній розігрів зразка до 400...520°С, опромінювання зразка електронним потоком та переміщення його вздовж поверхні зразка зі швидкістю 0,1...50 см/с, який відрізняється тим, що питома потужність, з якою ведуть навантаження зразка електронним потоком складає , а зразок підлягає наступному травленню протягом до 10 хвилин в розчині фтористоводневої кислоти в гліцерині, у співвідношенні 1:9.
Текст
Винахід відноситься до області обробки поверхні скла, зокрема, до способів виявлення дефектного (порушеного) приповерхневого шару, який утворюється в результаті механічного шліфування і полірування і може бути використаний в оптичній промисловості. Існуючі оптичні способи виявлення дефектного приповерхневого шару, а саме - дифузного відбиття [1] та еліпсометричний [2] тривалі й неідеальні. Існує також спосіб виявлення приповерхневого дефектного шару скла, згідно якого поверхню скла оброблюють розчином фтористоводневої кислоти і гліцерину (у співвідношенні 1:9) на протязі 20 хвилин з метою дослідження структури приповерхневого шару оптичного скла методом сорбції криптону [3]. Недоліком способу є те, що розчин не фіксує мікрогеометрії дефектного шару. Він діє (розчиняє) як на продукти полірування дефектного шару, що заповнюють його мікронерівності, так і на сам дефектний (порушений) шар, який залягає від поверхні на глибину до 1,5мкм. Так, наприклад, при тривалості травлення менше 20 хвилин дефектний шар виявляється неповністю, а при дії розчину на протязі часу більше 20 хвилин - починає розчинятися і сам дефектний шар. Відомий спосіб виявлення приповерхневого дефектного шару оптичного скла (А. с. 1367565А СРСР С 03 С 23/00; С 30 В 33/00) - прототип, за допомогою якого при виявленні дефектного шару відбувається його відшарування. Даний спосіб включає попередній розігрів зразка до 400...520°С, опромінюванням зразка електронним променем з питомою потужністю Рпит = 1·102...5·10 4Вт/см 2 та переміщенням його вздовж поверхні зразка із швидкістю v = 0,1 ...50см/с. Проте такі режими обробки електронним променем приводять до оплавлення поверхні скла на глибину в десятки разів більшу, ніж глибина залягання дефектного шару, що підтверджується відшаровуванням поверхні зразка товщиною 20... 120мкм. В основу винаходу поставлено задачу створення ефективного способу виявлення і фіксування приповерхневого дефектного шару оптичного скла, в якому шляхом зміни технології забезпечується одночасне фіксування і виявлення дефектного шару в поверхні оптичного скла без його відшарування. Поставлена задача досягається тим, що в способі виявлення приповерхневого дефектного шару оптичного скла, який включає попередній розігрів зразка до 400...520°С, опромінювання зразка електронним променем з питомою потужністю Рпит = 1·102...5·104Вт/см 2 та переміщення його вздовж поверхні зразка зі швидкістю v = 0,1 ...50см/с, згідно винаходу, питома потужність, з якої починають навантажувати зразок електронним, променем складає Рпит ≤ 1·102Вт/см 2, а зразок підлягає наступному травленню на протязі до 10 хвилин в розчині фтористоводневої кислоти в гліцерині. Сукупність цих суттєвих ознак забезпечує виявлення і фіксування дефектного приповерхневого шару оптичного скла. Це обумовлено тим, що використано електронний промінь потужність якого не більше 1·102Вт/см 2, крім того, вибрано оптимальний термін наступного травлення - до 10 хвилин в розчині фтористоводневої кислоти в гліцерині (у співвідношенні 1:9). Така комбінована обробка може бути використана для вивчення будови заполірованого дефектного шару при розробці оптичних матеріалів стійких до тріщиноутворення і методів підвищення механічних властивостей поверхневих шарів скла. Винахід ілюструється наступними прикладами. Обробку скла по способу, що пропонується ведуть шляхом попереднього розігріву до температури 400...520 °С у вакуумі із залишковим тиском р 0=10-3Па. Для цього використовувалася електронно-променева гармата Пірса, яка формує електронний потік стрічкової форми питомою потужністю 5 101...5 10 4Вт/см 2. Швидкість переміщення електронного потоку по поверхні скла складає 0,1...50см/с. Травлення в розчині фтористоводневої кислоти HF в гліцерині (у співвідношенні 1:9) проводилося на протязі від 3 секунд до 15 хвилин. Об'єкти, які підлягали обробці представляють собою диски (діаметром 20мм, товщиною 6мм) із оптичного скла марок К8, К108 з чистотою поверхні P = III та Р = ІV. Поверхня вивчалася за допомогою оптичного мікроскопа „Laboval" (виробництво ГДР) і електронного мікроскопа РЭМ-100У (виробництво СРСР, м.Суми) при збільшені х500 та х3000 відповідно. Приклади обробки представлені в таблиці 1. Таблиця 1. Характеристика рельєфу (наявність дефектного шару) на склі К8, К108 після обробки різними способами Таблиця № п/п 1 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 Спосіб обробки 2 Відомий - окремо травлення [1] -II-II-IIВідомий окремо електроннопроменева обробка[2] -II-IIТой, що пропонується (електроннопроменева обробка з наступним травленням) -II-II Питома потужність потоку, Вт/см 2 3 Відсутня -II-//-II Термін травлення, с 4 3 60 3·102 9·102 Наявність дефектного шару 5 Не виявляється -II-II-II 1·102 Відсутнє -II -II-II -II 0,5·102 3 Слабо виявляється 0,5·102 0,5·102 15 5·102 -II Виявляється 0,5·10 5·102 2 11 1 0.5·102 3 6·102 4 0,5 102 7·102 1·102 6·102 13 -II2 Той, що пропонується (електроннопроменева обробка з наступним травленням) -II 14 -II 1·102 7·102 15 -II 5·102 6·101 12 -II5 Не виявляється (матована поверхня) Виявляється Не виявляється (матована поверхня) -II Згідно одержаних результатів питому потужність потоку Рпит ≤ 1·102Вт/см 2, а також швидкість переміщення потоку 0,1...50см/с і термін травлення в розчині фтористоводневої кислоти і гліцерину - на протязі до 10 хвилин включно можна вважати оптимальними. Аналогічні результати одержані і на інших марках скла та в інших розчинах фтористоводневої кислоти. Літературні джерела: 1. Топорец А.С. Оптика шероховатой поверхности. - Л.: Машиностроение. Ленингр. отд-ние, 1988. - 191 с. 2. Пшеницын В.И., Абаев М.И., Лызлов Н.Ю. Эллипсометрия в физико-химических исследованиях. -Л.: Химия, 1986. - 152 с. 3. Бейм И.Г., Буркат Т.М. и др. / ОМП, 1976, №7. - С.20-26.
ДивитисяДодаткова інформація
Назва патенту англійськоюA method for the revelation of the defective near-surface layer
Автори англійськоюDubrovska Halyna Mykolaivna, Kanashevych Heorhii Viktorovych, Bondarenko Maksym Oleksiiovych
Назва патенту російськоюСпособ выявления дефектного приповерхностного слоя оптического стекла
Автори російськоюДубровская Галина Николаевна, Канашевич Георгий Викторович, Бондаренко Максим Алексеевич
МПК / Мітки
МПК: C03C 15/00
Мітки: шару, скла, оптичного, приповерхневого, дефектного, виявлення, спосіб
Код посилання
<a href="https://ua.patents.su/2-67516-sposib-viyavlennya-defektnogo-pripoverkhnevogo-sharu-optichnogo-skla.html" target="_blank" rel="follow" title="База патентів України">Спосіб виявлення дефектного приповерхневого шару оптичного скла</a>
Попередній патент: Пристрій для живлення двигуна внутрішнього згорання озонованим паливом
Наступний патент: Гіроскопічна система
Випадковий патент: Спосіб лікування мультифокальних атеросклеротичних уражень сонних артерій