Кютт Регінальд Ніколаєвіч
Спосіб контролю структурної досконалості монокристалів
Номер патенту: 14831
Опубліковано: 18.02.1997
Автори: Молодкін Вадим Борисович, Оліховський Степан Йосипович, Гинько Ігор Володимирович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Грищенко Тарас Аркадійович, Шпак Анатолій Петрович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Кисловський Євген Миколайович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Когут Михайло Тихонович, Низкова Ганна Іванівна
МПК: G01N 23/20
Мітки: досконалості, контролю, спосіб, структурної, монокристалів
Формула / Реферат:
Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны выбранной из условия - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца где путем наклона образца в угловом диапазоне от...