Гинько Ігор Володимирович

Номер патенту: 89594

Опубліковано: 10.02.2010

Автори: Татаренко Валентин Андрійович, Низкова Ганна Іванівна, Барабаш Роза Ісаківна, Булавін Леонід Анатолійович, Шпак Анатолій Петрович, Сторижко Володимир Юхимович, Карнаухов Іван Михайлович, Первак Катерина Вадимівна, Айс Джин Емері, Молодкін Віталій Вадимович, Лень Євген Георгійович, Гинько Ігор Володимирович, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Носик Валєрій Лєонідовіч, Білоцька Алла Олексіївна, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Оліховський Степан Йосипович

МПК: G01N 23/20

Мітки: структурної, декількома, типами, дефектів, діагностики, спосіб, багатопараметричної, монокристалів

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, що включає опромінення досліджуваного монокристала пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  та відомої інтенсивності , здійснення у ньому Брегг-дифракції на системі площин, вимірювання за допомогою...

Номер патенту: 36075

Опубліковано: 10.10.2008

Автори: Лень Євген Георгійович, Первак Катерина Вадимівна, Низкова Ганна Іванівна, Кисловський Євген Миколайович, Молодкін Вадим Борисович, Молодкін Віталій Вадимович, Гинько Ігор Володимирович, Оліховський Степан Йосипович, Ковальчук Михайло Валентинович, Шпак Анатолій Петрович, Білоцька Алла Олексіївна

МПК: G01N 23/20

Мітки: дефектів, монокристалів, структурної, діагностики, типами, спосіб, багатопараметричної, декількома

Формула / Реферат:

Спосіб багатопараметричної структурної діагностики монокристалів з декількома типами дефектів, який полягає в тому, що досліджуваний монокристал опромінюють пучком рентгенівських променів вибраної довжини хвилі  і відомої інтенсивності , здійснюють в ньому брегг-дифракцію на системі площин (hkl), вимірюють...

Номер патенту: 22455

Опубліковано: 25.04.2007

Автори: Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович, Барабаш Роза Ісаківна, Молодкін Вадим Борисович, Білоцька Алла Олексіївна, Гинько Ігор Володимирович, Григор'єв Данило Олегович, Когут Михайло Тихонович

МПК: G01N 23/20

Мітки: монокристалів, спосіб, структурної, визначення, досконалості

Формула / Реферат:

Спосіб визначення структурної досконалості монокристалів, що включає визначення товщини поверхневого порушеного шару у монокристалах після механічної обробки та полягає в тому, що на досліджуваний монокристал спрямовують пучок монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння рентгенівського випромінювання на поверхню зразка, яким відповідають спрямовуючі косинуси

Номер патенту: 11259

Опубліковано: 15.12.2005

Автори: Білоцька Алла Олексіївна, Когут Михайло Тихонович, Гинько Ігор Володимирович, Молодкін Вадим Борисович, Шпак Анатолій Петрович, Низкова Ганна Іванівна, Григор'єв Данило Олегович, Барабаш Роза Ісаківна

МПК: G01N 23/20

Мітки: товщини, поверхневого, шару, визначення, обробки, спосіб, механічної, порушеного, монокристалах

Формула / Реферат:

Спосіб визначення товщини поверхневого порушеного шару в монокристалах після механічної обробки, що включає направлення на досліджуваний монокристалічний зразок пучка монохроматичного рентгенівського випромінювання, здійснення дифракції, вимірювання інтенсивності дифрагованого випромінювання і визначення товщини порушеного шару, який відрізняється тим, що здійснюють асиметричну Брегг-дифракцію, попередньо визначають кути падіння...

Номер патенту: 17146

Опубліковано: 18.03.1997

Автори: Ковальчук Михайло Валентинович, Кисловський Євген Миколайович, Гинько Ігор Володимирович, Низкова Ганна Іванівна, Шпак Анатолій Петрович, Когут Михайло Тихонович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Коhrа К., Оліховський Степан Йосипович, Молодкін Вадим Борисович, Кютт Регінальд Миколайович, Сhікаwа J., Грищенко Тарас Аркадійович, Бар'яхтар Віктор Григорович

МПК: G01B 15/00, G01N 23/22

Мітки: спосіб, монокристалів, досконалостів, структурної, контролю

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, включающий облучение исследуемого образца известной толщины  пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  осуществление в нем лауэ-дифракции, характеризуемой вектором дифракции при наклоне образца в угловом диапазоне  вокруг вектора  с сохранением дифракционных условий, измерение толщинной зависимости полной интегральной отражательной способности (ПИОС)  где...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Бар'яхтар Віктор Григорович, Кисловський Євген Миколайович, Грищенко Тарас Аркадійович, Гинько Ігор Володимирович, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Когут Михайло Тихонович, Молодкін Вадим Борисович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч, Низкова Ганна Іванівна, Оліховський Степан Йосипович, Шпак Анатолій Петрович

МПК: G01N 23/20

Мітки: контролю, досконалості, структурної, спосіб, монокристалів

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...