Грищенко Тарас Аркадійович

Номер патенту: 17146

Опубліковано: 18.03.1997

Автори: Грищенко Тарас Аркадійович, Сhікаwа J., Немошкаленко Володимир Володимирович, Гинько Ігор Володимирович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Ковальчук Михайло Валентинович, Оліховський Степан Йосипович, Низкова Ганна Іванівна, Кисловський Євген Миколайович, Кютт Регінальд Миколайович, Шпак Анатолій Петрович, Молодкін Вадим Борисович, Коhrа К., Когут Михайло Тихонович

МПК: G01B 15/00, G01N 23/22

Мітки: досконалостів, спосіб, структурної, монокристалів, контролю

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, включающий облучение исследуемого образца известной толщины  пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  осуществление в нем лауэ-дифракции, характеризуемой вектором дифракции при наклоне образца в угловом диапазоне  вокруг вектора  с сохранением дифракционных условий, измерение толщинной зависимости полной интегральной отражательной способности (ПИОС)  где...

Номер патенту: 14831

Опубліковано: 18.02.1997

Автори: Когут Михайло Тихонович, Молодкін Вадим Борисович, Оліховський Степан Йосипович, Кисловський Євген Миколайович, Шпак Анатолій Петрович, Гинько Ігор Володимирович, Бар'яхтар Віктор Григорович, Низкова Ганна Іванівна, Ковальчук Міхаіл Валєнтіновіч, Грищенко Тарас Аркадійович, Немошкаленко Володимир Володимирович, Кютт Регінальд Ніколаєвіч

МПК: G01N 23/20

Мітки: досконалості, структурної, контролю, спосіб, монокристалів

Формула / Реферат:

Способ контроля структурного совершенства монокристаллов, заключающийся в том, что исследуемый кристалл-образец толщиной  облучают пучком рентгеновского излучения с длиной волны  выбранной из условия  - линейный коэффициент фотоэлектрического поглощения), осуществляют на нем лауэ-дифракцию с вектором дифракции  измеряют толщинные зависимости интегральной отражательной способности образца  где   путем наклона образца в угловом диапазоне  от...